KS D ISO 22489-2012
微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

Microbeam analysis－Electron probe microanalysis－Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive x-ray spectroscopy

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标准号

KS D ISO 22489-2012

发布日期

2012年03月09日

实施日期

2012年03月09日

废止日期

无

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 표준은 전자 탐침 미소분석기 또는 주사전자현미경(SEM)과 결합한 파장 분산 분광계(W