赛默飞XRF在工业硅及半导体框线工艺品控中的应用工业硅根据国标《GB/T14849.5》,波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)可以用来检测工业硅里的12种杂质元素,包括 铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜;采用简单的压片制样,5分钟可完成全部主量元素硅和12种杂质元素的分析,数据精度好,检测效率高。...
X射线荧光光谱分析(XRF)原理一级X射线照射到待分析组分上,待分析组分中原子内层电子激发后,外层电子跃迁至内层导致产生次级特征X射线,通过对次级特征X射线的检测识别元素并定量。按照特征X射线检测方法,可分为波长色散(WD-XRF)和能量色散(ED-XRF)两种类型波长色散和能量色散的比较分析:XRF分析颗粒物中元素的特点直接测量滤膜,不需要前处理。...
1X射线荧光光谱分析的发展概述20世纪80年代初期,商品X射线荧光光谱仪主要有波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和以正比计数器为探测器的可携式X射线荧光光谱仪(PXRF)。WDXRF谱仪的送样系统和参数的设置已高度自动化,用户根据待分析试样的组成购买理论α系数表,用于校正基体中元素间的吸收增强效应,将测得的强度转为浓度,并获得与化学分析结果相当的准确度。...
点击上方“材料人” 即可订阅我们1 X射线荧光光谱分析的发展概述20世纪80年代初期,商品X射线荧光光谱仪主要有波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和以正比计数器为探测器的可携式X射线荧光光谱仪(PXRF)。...
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