X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
基体校正公式如下: 式中:Ci为校准样品中分析元素i的含量(在未知样品分析中为基体校正后分析元素i的含量);Di为分析元素i的校准曲线的截距;Lim为干扰元素m对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数;Zm为谱线重叠干扰元素;Ei为分析元素i校准曲线斜率;Ri为分析元素i的计数率(或与内标的强度比值);Zj,Zk为共存元素的含量或计数率;n为共存元素的数目;α,β,δ,γ为校正基体效应的因子;i为分析元素...
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