SJ/T 11497-2015
砷化镓晶片热稳定性的试验方法
Test method for thermal stability testing of gallium arsenide wafers
SJT11497-2015, SJ11497-2015
- 标准号
- SJ/T 11497-2015
- 别名
- SJT11497-2015, SJ11497-2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 11497-2015
- 适用范围
- 本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)晶片热稳定性的试验方法。本标准适用于电阻率在104Ω·cm~109Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。
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