GJB 8149-2013
光学元件超高反射率测量方法 衰荡法
Measurement for super-high reflectivity of optical element.Cavity ring-down method
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- 标准号
- GJB 8149-2013
- 发布日期
- 2013年07月10日
- 实施日期
- 2013年10月01日
- 废止日期
- 无
- 发布单位
- CN-GJB-Z
- 适用范围
- 本标准规定了采用光腔衰荡法测量激光光学元件超高反射率的方法。 本标准适用于反射率大于99.9%的平面光学元件以及工作角度小于10°、曲率半径大于10m的球面光学元件超高反射率测量。其他光学元件高反射率的测量可以参照使用。