GB/T 9534-1988
毫米波频段固体电介质材料介电特性测试方法 准光腔法
Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at millimeter wave frequencies using "Quasi-Optic cavity" technique
GBT9534-1988, GB9534-1988
- 标准号
- GB/T 9534-1988
- 别名
- GBT9534-1988, GB9534-1988
- 发布
- 1988年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 9534-1988
- 适用范围
- 本标准采用光学腔，即半共焦准光腔作为测试腔体来测试固体电介质的介电特性。 本标准适用于可加工成片状的固体电介质材料。
GB/T 9534-1988相似标准
推荐
太赫兹雷达技术（三）
天津大学基于远红外激光实验测量系统开展基于远红外傅里叶光谱仪的透射式介质介电参数测量方法研究，完成透射式、反射式介电参数测量系统的搭建及典型介质材料的介电参数数据测量，并对标准体RCS及双站散射特性进行测量，完成粗糙样片双站散射特性测量系统搭建及数据测量。从当前测量结果来看，粗糙度为3 μm到30 μm的目标，其粗糙特性对RCS存在明显影响。...
毫米波与太赫兹技术
例如, 通过研究星际分子云的太赫兹频段频谱特性, 可探究宇宙的起源；分析原子和分子散射出来的频谱信息, 可研究宇宙中的新生星系的形成等。在太赫兹无损检测方面, 太赫兹辐射的光子能量低, 对穿透物不会造成损伤, 并且可以穿过大多数介电物质. 太赫兹波这一特点对于检测非导电材料中的隐藏缺陷或者特殊标记具有很大的发展空间，一般称为无损检测，比如检测油画、航天器和半导体器件等。...
原位拉曼系统--实时监测半导体薄膜生长全过程
介电率是指在电场中产生电极化的程度。例如SiO2是一种传统的层间绝缘材料，但由于介电率高，在实现高密度和高速化方面存在问题，就可以通过沉积具有低电离电特性的电介质来补充。再通过磷酸光光谱法确定其沉积过程和处理条件的物性变化。为了确保所需遗传率特性的薄膜的正确产生，研究组将能够产生紫外线（UV）区域和可见光（可见光）区域激光的拉曼光谱源组成复合型拉曼。...
微波介质陶瓷
３０、电介质陶瓷组合物 ２ ３１、一种高介电常数低温烧结微波介质陶瓷及其制备方法 ３２、一种介质陶瓷及其制备方法 ３３、微波陶瓷介质柱谐振法测试夹具 ３４、钛酸锶钡与堇青石玻璃陶瓷复合介质材料的制备方法 ３５、一种中介电常数低温烧结微波介质陶瓷及其制备方法 ３６、微波介质陶瓷及其制备方法 ３７、一种多层电感器用堇青石基微晶玻璃陶瓷介质材料的制备方法 ３８、高频热稳定性陶瓷介质材料及其制备方法...