IEC 60147-1:1972
半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics

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标准号

IEC 60147-1:1972

发布

1972年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60147-1:1972

 

 

代替标准

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

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