GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
GBT14115-1993, GB14115-1993
GB/T 14115-1993 发布历史
GB/T 14115-1993由国家质检总局 CN-GB 发布于 1993-01-21，并于 1993-08-01 实施。
GB/T 14115-1993 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
GB/T 14115-1993的历代版本如下：
- 1993年 GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器（以下简称器件）电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
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