JEDEC JEP163-2015
QML 微电路老化/寿命测试条件和关键参数的选择
Selection of Burn-In/Life Test Conditions and Critical Parameters for QML Microcircuits
- 标准号
- JEDEC JEP163-2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEP163-2015
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