KS C IEC 62047-8:2015
半导体器件《微机电器件》第8部分：薄膜拉伸性能测量的条带弯曲试验方法

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

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2020-01

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标准号: KS C IEC 62047-8:2015
发布: 2015年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS C IEC 62047-8-2020
当前最新: KS C IEC 62047-8-2020

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