IEC 62433-3:2017
电磁兼容性集成电(EMC IC)建模. 第3部分: EMI行为模拟集成电路模型. 辐射发射建模(ICEM-RE)
EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
- 标准号
- IEC 62433-3:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62433-3:2017
- 引用标准
- ANSI/INCITS 4-1986 IEC 61967-1:2002 IEC 62433-2:2008 IEC/TS 61967-3:2014 IEC/TS 62433-1:2011
- 被代替标准
- IEC 47A/1000/FDIS:2016
- 适用范围
- IEC 62433 的这一部分提供了一种导出宏模型的方法，以允许模拟集成电路 (IC) 的辐射发射水平。该模型通常称为集成电路发射模型 - 辐射发射，ICEM-RE。该模型旨在用于对完整的 IC 进行建模，无论有或没有其相关封装、模拟和数字 IC（输入/输出引脚、数字核心和电源）的功能块和知识产权 (IP) 块，当测量或模拟数据无法直接导入模拟工具。所提出的 IC 宏观模型将被插入 3D 电磁仿真工具中，以便： 预测 IC 的近辐射发射；评估辐射发射对邻近 IC、电缆、传输线等的影响。IEC 62433 的这一部分有两个主要部分；首先是ICEM-RE宏模型元件的电气描述；第二部分提出了一种基于XML的通用数据交换格式REML。这种格式允许以更可用和通用的形式对 ICEM-RE 进行编码，以进行排放模拟。
IEC 62433-3:2017相似标准
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