ISO 29301:2017
微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
- 标准号
- ISO 29301:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 29301:2023
- 当前最新
- ISO 29301:2023
- 引用标准
- ISO 16700:2016 ISO 17034:2016 ISO 5725-1:1994 ISO GUIDE 30:2015 ISO GUIDE 35:2017 ISO/IEC 17025:2005 ISO/IEC GUIDE 98-3:2008
- 适用范围
- 本文件规定了适用于透射电子显微镜（TEM）在宽放大倍率范围内记录的图像的校准程序。 用于校准的参考材料具有周期性结构，例如衍射光栅复制品、半导体的超晶格结构或用于X射线分析的分析晶体以及碳、金或硅的晶格图像。 本文件适用于记录在照相胶片或成像板上或由内置于数码相机中的图像传感器检测到的TEM图像的放大率。 本文件还涉及比例尺的校准。 本文件不适用于专用临界尺寸测量TEM（CD-TEM）和扫描透射电子显微镜（STEM）。
ISO 29301:2017相似标准
推荐
电子显微镜与光学显微镜在观测物上有什么不同？
它具有制样简单、放大倍数可调、范围宽、图像的分辨率高、景深大等特点。透射电子电子显微镜应用表现：1、晶体缺陷分析。一切破坏正常点阵周期的结构统称为晶体缺陷，如空位、位错、晶界、析出物等。这些破坏点阵周期性的结构都将导致其所在区域的衍射条件发生变化，使得缺陷所在区域的衍射条件不同于正常区域的衍射条件，从而在荧光屏上显示出相应的明暗程度差别。2、组织分析。...
扫描电子显微镜是利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品
此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。 由于透射电镜是TE进行成像的，这就要求样品的厚度必须保证在电子束可穿透的尺寸范围内。为此需要通过各种较为繁琐的样品制备手段将大尺寸样品转变到透射电镜可以接受的程度。 ...
扫描电子显微镜是利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描...
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大,视野大,成像立体效果好。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。 ...
【干货】透射电子显微镜的基础知识汇总
▽ 透射电镜基本构造示意图3 原 理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。...