ISO 17867-2015
粒径分析. 小角X射线散射

Particle size analysis - Small-angle X-ray scattering

ISO 17867-2015 发布历史

ISO 17867-2015由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2015-05。

ISO 17867-2015在国际标准分类中归属于: 19.120 粒度分析、筛分。

ISO 17867-2015 发布之时，引用了标准

• GB/T 13221-2004 纳米粉末粒度分布的测定 X 射线小角散射法
• ISO 9276-1-1998 粒度分析结果的表示 第1部分:图形表示
• ISO 9276-2-2014 粒度分析结果的表述.第2部分:由粒度分布计算平均粒径/直径和各次矩
• ISO 26824-2013 微粒系统的粒子特征描述.词汇表
• ISO/TS 27687-2008 纳米技术.纳米对象用术语和定义.纳米颗粒、纳米纤维和纳米板

ISO 17867-2015的历代版本如下：

• 2015年05月 ISO 17867-2015 粒径分析. 小角X射线散射
• 2020年10月05日 ISO 17867-2020 粒度分析.小角度X射线散射（SAXS）

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标准号

ISO 17867-2015

发布日期

2015年05月

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

19.120

发布单位

IX-ISO

引用标准

GB/T 13221-2004 ISO 9276-1-1998 ISO 9276-2-2014 ISO 26824-2013 ISO/TS 27687-2008

被代替标准

ISO/FDIS 17867-2014