NF C86-412-1987
半导体器件.电子元件统一质量评定体系.薄膜混合集成电路.空白详细规范

SEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM AND HYBRID INTEGRATED CIRCUITS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 63 101).

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标准号

NF C86-412-1987

发布日期

1987年11月

实施日期

1987年10月20日

废止日期

无

中国标准分类号

L58

国际标准分类号

31.200

发布单位

FR-AFNOR