BS EN IEC 60749-18-2019 - TC
跟踪变化。半导体器件。机械和气候试验方法。电离辐射(总剂量)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose)


 

 

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标准号
BS EN IEC 60749-18-2019 - TC
发布日期
2020年11月03日
实施日期
2020年11月03日
废止日期
中国标准分类号
C01
发布单位
GB-BSI

BS EN IEC 60749-18-2019 - TC系列标准





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