SJ 21147.1-2016
军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义

Measurement of electromagnetic emissions for military integrated circuits.Part 1: General conditions and definitions

SJ 21147.1-2016 发布历史

本部分规定了集成电路(IC)的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义，还规定了试验条件、试验设备和配置、试验程序和试验报告等内容。附录A中给出了试验方法的对照表，以帮助选择适当的测量方法。 本部分适用于对受控条件下集成电路产生的辐射发射或传导发射的电压和电流的测量，以定量地获得集成电路应用过程中可能产生的射频(RF)干扰。

SJ 21147.1-2016由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2016-01-19，并于 2016-03-01 实施。

SJ 21147.1-2016 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路。

SJ 21147.1-2016 发布之时，引用了标准

• GB/T 4365-2003 电工术语 电磁兼容
• GB/T 6113.101 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-1部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 测量设备*， 2021-12-31 更新

* 在 SJ 21147.1-2016 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

SJ 21147.1-2016的历代版本如下：

• 2016年01月19日 SJ 21147.1-2016 军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 SJ 21147.1-2016 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

SJ 21147.1-2016

发布日期

2016年01月19日

实施日期

2016年03月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

发布单位

CN-SJ

引用标准

GB/T 4365-2003 GB/T 6113.101 GJB-72

适用范围

本部分规定了集成电路(IC)的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义，还规定了试验条件、试验设备和配置、试验程序和试验报告等内容。附录A中给出了试验方法的对照表，以帮助选择适当的测量方法。 本部分适用于对受控条件下集成电路产生的辐射发射或传导发射的电压和电流的测量，以定量地获得集成电路应用过程中可能产生的射频(RF)干扰。