SNI 13-4175-1996
岩相学分析. 预制岩石薄片与矿物标本
Preparation of thin section of rocks and mineral specimens for petrographic analysis
- 标准号
- SNI 13-4175-1996
- 发布
- 1996年
- 发布单位
- 印度尼西亚标准
- 当前最新
- SNI 13-4175-1996
SNI 13-4175-1996相似标准
推荐
偏光显微镜的研究对象
它与通常的岩石薄片相比，有如下优点:①可以从透明矿物与不透明矿物两方面进行岩石学研究，有利于岩石的含矿性研究(不需要另磨光片);②可以测定矿物的反射率及其显微硬度;③可以把岩石学研究中所关心的对象(如矿物的成分分析点)标出来，以便随后进行电子探针分析;④可对矿物进行微化试验和薄片染色处理;⑤在岩石学研究中能用高倍的油浸镜头并能获得高的分辨率，这对显微、超微构造的研究更为优越;⑥可以得到较好的显微照片...
完美制备岩相薄片样品
岩相制备Lithofacies岩相学中研究矿石和围岩的矿物成分、矿石结构构造、矿物共生组合和生成顺序、近矿围岩蚀变特征、次生变化等，为确定岩石或矿石的矿物种类、分析地质构造、推断矿床生成地质条件、了解矿石加工技术性能以及划分矿石自然类型等方面提供资料，需要将采集的岩石样品进行薄片光片制备，其中薄片样品的制备难度较大，样品最终厚度控制在20~30μm，并进行双面抛光。...
（标乐）完美制备岩相薄片样品 -圆派科学
岩相制备Lithofacies岩相学中研究矿石和围岩的矿物成分、矿石结构构造、矿物共生组合和生成顺序、近矿围岩蚀变特征、次生变化等，为确定岩石或矿石的矿物种类、分析地质构造、推断矿床生成地质条件、了解矿石加工技术性能以及划分矿石自然类型等方面提供资料，需要将采集的岩石样品进行薄片光片制备，其中薄片样品的制备难度较大，样品最终厚度控制在20~30μm，并进行双面抛光。...
偏光显微镜岩石切片制法
6.拋光：标本若要做微探成分分析，则需将薄片分别用0.3～0.05μm的铝粉拋光液进行拋光。由于岩石具刚性，所以上述制作过程是将标本先固定在玻片上再切薄，此与生物切片先切薄后，再固定于玻片上的程序刚好相反。7.偏光显微镜观察:将制作好的岩石切片放置于显微镜圆形载物台上,用压片簧将切片压住,打开显微镜光源.调焦旋钮调焦即可成像...