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并且,这种薄膜呈现出目前报道的薄膜材料中最高的本征椭圆度值(高达6.5 deg μm-1),通过测试峰强度和θ值与极性的曲线形态可知,其还呈现出超强的圆二色性。他们的研究结果证实了这种手性属性是源于大的平面磁性在层间的光学跃迁。进一步的研究证实,他们可以利用这种技术通过一层一层地堆叠的方式程序化调控原子级厚度的手性薄膜的手性性能,并且制备了三层厚度的具有结构可控的圆二色光谱石墨烯薄膜。...
用于微米和纳米级磁场测量的准确、可溯源测量能力【项目取得的进步和成果】来源:NPL项目介绍·技术进步该项目已开始开发、评估和验证基于扫描磁场显微镜、磁光指示膜(MOIF)显微镜和磁力显微镜(MFM)的计量方法,主要是开发和验证可溯源的校准方法模型和相关标准物质。...
并利用此方法,观察传统振荡场中的频率精度。利用基于金刚石中单旋的狭窄谱线宽度的磁强计对具本征频率为607微赫兹的纳米级磁场进行感应,这较量子位相干时间缩短了8个数量级。...
布鲁克文章推荐 第63期 Bruker Journal Club 布鲁克纳米表面仪器部 孙佩玲 博士 在目前的纳米级半导体制造中,高介电材料和超薄多层材料多用于提高器件的性能,薄膜之间的界面效应和表面信息的定量化成为决定半导体器件性能的关键。本文作者对氧化铪超薄膜的界面效应进行了研究,提出了一种简单、准确、无损的诊断方法:粗糙度缩放方法。...
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