JIS B7440-5-2022

Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS) -- Part 5: Coordinate measuring machines (CMMs) using single and multiple stylus contacting probing systems using discrete point and/or

JIS B7440-5-2022 发布历史

JIS B7440-5-2022由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2022-03-22。

JIS B7440-5-2022在国际标准分类中归属于: 17.040.30 测量仪器仪表。

JIS B7440-5-2022的历代版本如下：

  • 2004年03月20日 JIS B7440-5-2004 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第5部分:使用多针测试系统的坐标测量机
  • 2013年10月21日 JIS B7440-5-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第5部分:使用多针测试系统的坐标测量机(CMMs)
  • 2022年03月22日 JIS B7440-5-2022

 

 

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标准号
JIS B7440-5-2022
发布日期
2022年03月22日
实施日期
废止日期
无
国际标准分类号
17.040.30
发布单位
JP-JISC

JIS B7440-5-2022系列标准

JIS B7440-1-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第1部分:词汇 JIS B7440-9-2017 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第9部分: 带多重探测系统的CMM JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机 JIS B7440-3-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第3部分:以旋转台坐标轴作为第四轴的坐标测量机 JIS B7440-4-2003 几何图形产品规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和再验证试验.第4部分:扫描测量模式用坐标测量机 JIS B7440-6-2004 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第6部分:高斯相关特性计算中的错误估计 JIS B7440-7-2015 几何产品技术规格 (GPS). 坐标测量机 (CMM) 的验收试验和复检试验. 第7部分: 配有成像探测系统的坐标测量机 (CMM) JIS B7440-8-2015 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.第8部分:带光学距离传感器的CMMs JIS B7440-9-2017 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第9部分: 带多重探测系统的CMM

谁引用了JIS B7440-5-2022 更多引用

JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机 JIS B7440-2-2013 几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机


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