NF C86-433-1988
半导体器件.电子元件统一质量评审体系.薄膜电阻器电路(批准程序).分规范

SEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. FILM RESISTORS NETWORKS (APPROVAL PROCEDURES). SECTIONAL SPECIFICATION. SPECIFICATION CECC 64 200.

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标准号

NF C86-433-1988

发布日期

1988年11月

实施日期

1988年10月05日

废止日期

无

中国标准分类号

L04

国际标准分类号

31.200

发布单位

FR-AFNOR

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