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多级荧光寿命
本专题涉及多级荧光寿命的标准有13条。
国际标准分类中，多级荧光寿命涉及到半导体材料、电容器。
在中国标准分类中，多级荧光寿命涉及到半金属与半导体材料综合、。
未注明发布机构，关于多级荧光寿命的标准
- ANSI/IES LM-40-20 荧光灯的寿命测试
- ANSI/IES LM-65-20 单基荧光灯的寿命测试
美国照明工程协会，关于多级荧光寿命的标准
- IESNA LM-40-2010 荧光灯寿命测试的认可方法
- IESNA LM-40-2001 经批准的荧光灯寿命测试方法
- IESNA LM-65-2014 经批准的单基荧光灯寿命测试方法
- IESNA LM-65-2001 IESNA 批准的紧凑型荧光灯寿命测试方法
新疆维吾尔自治区标准，关于多级荧光寿命的标准
- DB65/T 3485-2013 太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
中国团体标准，关于多级荧光寿命的标准
- T/CECA 29-2019 光伏逆变器用长寿命级CD297S型铝电解电容器
SCC，关于多级荧光寿命的标准
- NEMA LSD 21-1998(R2002) 小直径（5/8 英寸或更小）针式荧光灯的使用寿命终止操作
- NEMA LSD 21-2012 小直径（5/8 英寸直径或更小）针式荧光灯的使用寿命终止操作
- BS PD IEC TS 62607-3-3:2020 纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 使用时间相关单光子计数 (TCSPC) 测定半导体量子点的荧光寿命
英国标准学会，关于多级荧光寿命的标准
- PD IEC TS 62607-3-3:2020 纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 使用时间相关单光子计数(TCSPC)测定半导体量子点的荧光寿命
国际电工委员会，关于多级荧光寿命的标准
- IEC TS 62607-3-3:2020 纳米制造.关键控制特性.第3-3部分:发光纳米材料.用时间相关单光子计数法（TCSPC）测定半导体量子点的荧光寿命
