测量 矩阵
本专题涉及测量 矩阵的标准有49条。
国际标准分类中，测量 矩阵涉及到词汇、声学和声学测量、电子显示器件、物理学、化学、导体材料、电线和电缆、电学、磁学、电和磁的测量、计量学和测量综合、光纤通信、太阳能工程、光电子学、激光设备、地质学、气象学、水文学、信息技术应用。
在中国标准分类中，测量 矩阵涉及到、声学计量、温度与压力仪表、综合技术、物理学与力学、裸电线、电工合金零件、电工材料和通用零件综合、其他、节目传输、导航通讯系统与设备、半金属与半导体材料综合、光通信设备、太阳能、连接器、计算机综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于测量 矩阵的标准
- GB/T 41204-2021 纳米技术 纳米物体表征用测量技术矩阵
国家质检总局，关于测量 矩阵的标准
- GB/Z 27764-2011 声学.阻抗管中传声损失的测量.传递矩阵法
，关于测量 矩阵的标准
- GOST R 8.755-2011 确保测量一致性的国家体制.分散成分气体矩阵.扩散频谱法测定粒度
- GOST R 51106-1997 注入式激光器,激光头,激光二极管矩阵,激光二极管.参数的测量方法
法国标准化协会，关于测量 矩阵的标准
- NF M60-824-2020 核能. 环境中放射性的测量. 环境矩阵中游离水和有机结合氚中氚分析的试验方法
- NF C31-888-5-2014 超导性. 第5部分: 超导或体积比测量矩阵. Cu/Nb-Ti复合超导线材的铜与超导体体积比
- NF C93-547-6-3-2012 液晶显示装置.第6-3部分:液晶显示模块测量方法.有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- NF C93-903-12-1997 光纤互连装置和无源元件.基本试验和测量程序.第3-12部分:检验和测量.单模光纤元件衰减的极化依赖:矩阵计算法
国际标准化组织，关于测量 矩阵的标准
- ISO/TR 23015-2020 细气泡技术细气泡表征的测量技术矩阵
- ISO/TR 19733-2019 石墨烯表征和测量方法矩阵
- ISO/TR 18196:2016 纳米技术.纳米物体表征用测量技术矩阵
- ISO/TR 18196-2016 纳米技术. 纳米物质特性描述的测量技术矩阵
国际电工委员会，关于测量 矩阵的标准
- IEC 61747-30-3-2019 液晶显示器件第30-3部分:液晶显示模块的测量方法有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- IEC 61747-30-3:2019 液晶显示器件第30-3部分:液晶显示模块的测量方法有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- IEC 61788-5-2013 超导体.第5部分:超导体体积比测量矩阵.铜对铜/铌-钛复合超导体的超导体体积比
- IEC 61747-6-3:2011 液晶显示设备 - 第6-3部分:液晶显示模块的测量方法 - 有源矩阵液晶显示模块的运动伪像测量
- IEC 61747-6-3-2011 液晶显示器.第6-3部分:液晶显示模块测量方法.有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- IEC 61300-3-12-1997 纤维光学互连器件和无源元件 基本试验和测量程序 第3-12部分:检验和测量 单模纤维光学器件衰减偏振函数:矩阵计算法
德国标准化学会，关于测量 矩阵的标准
- DIN EN 61788-5-2014 超导性. 第5部分: 超导或体积比测量矩阵. Cu/Nb-Ti复合超导线材的铜与超导体体积比(IEC 61788-5-2013); 德文版本EN 61788-5-2013
- DIN EN 61747-6-3-2012 液晶显示器.第6-3部分:液晶显示模块测量方法.有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量(IEC 61747-6-3-2011).德文版本EN 61747-6-3-2011
- DIN EN 61829-1999 晶硅光电(PV)矩阵.I-V特性的现场测量
- DIN 19242-5-1987 测量和控制.过程计算机系统的性能试验.时间测量.被测功能:矩阵求逆（反演）
英国标准学会，关于测量 矩阵的标准
- BS EN 61788-12-2013 超导性.超导体体积比测量矩阵.铜与Nb3Sn复合超导导线的非铜体积比
- BS EN 61788-5-2013 超导性.超导体体积比率测量矩阵.铜与Cu/Nb-Ti复合超导体的超导体体积比率
- BS EN 61747-6-3-2011 液晶显示器.液晶显示器模块的测量方法.主动矩阵液晶显示器模块的运动伪影测量
- BS EN 61747-6-3-2011 液晶显示器.液晶显示器模块的测量方法.主动矩阵液晶显示器模块的运动伪影测量
- BS EN 61788-12-2003 超导性.超导体体积比测量矩阵.铜与Nb3Sn复合超导导线的非铜体积比
- BS EN 61788-12-2002 超导性.超导体体积比测量矩阵.铜与Nb3Sn复合超导导线的非铜体积比
- BS EN 61788-5-2003 超导性.超导体体积比率测量矩阵.铜与Cu/Nb-Ti复合超导体的超导体体积比率
- BS EN 61788-5-2001 超导性.超导体体积比率测量矩阵.铜与Cu/Nb-Ti复合超导体的超导体体积比率
- BS EN 61829-1998 晶硅光电(PV)矩阵.I-V特性现场测量
行业标准-广播电影电视，关于测量 矩阵的标准
- GY/T 253-2011 数字切换矩阵技术要求和测量方法
欧洲电工标准化委员会，关于测量 矩阵的标准
- EN 61747-6-3-2011 液晶显示器.第6-3部分:液晶显示模块测量方法.有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- EN 61788-5-2001 超导性.第5部分:超导体体积比率测量的矩阵.Cu/Nb-Ti复合超导体的铜与超导体的体积比率 IEC 61788-5:2000
美国材料与试验协会，关于测量 矩阵的标准
- ASTM E2611-09 基于传递矩阵法测量声学材料正常发声声传播的标准测试方法
- ASTM E2611-2009 基于传输矩阵法测量声学材料的垂直入射传输的标准试验方法
- ASTM D3404-1991(2013) 使用拉力计测量渗流区矩阵势能的标准指南
- ASTM E2611-19 基于传递矩阵法测量声学材料正常发声声传播的标准测试方法
韩国标准，关于测量 矩阵的标准
- KS C IEC 61747-6-3-2006 液晶显示器.第6-3部分:液晶显示模块测量方法.有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- KS C IEC 61747-6-3-2006 液晶显示器.第6-3部分:液晶显示模块测量方法.有源矩阵液晶显示模块的运动伪影测量
- KS C IEC 61788-5-2002 超导性.第5部分:超导体容量比率测量矩阵Cu/Nb-Ti复合超导体的铜对超导容量比率
国家军用标准-国防科工委，关于测量 矩阵的标准
- GJB 5435-2005 机载有源矩阵液晶显示器光度和色度测量方法
美国电信工业协会，关于测量 矩阵的标准
- TIA-455-198-2002 FOTP-198 Mueller矩阵法进行单模光纤部件的插入损失的偏振相关性测量
- TIA-455-198-2002(2012) FOTP-198 Mueller矩阵法进行单模光纤部件的插入损失的偏振相关性测量
美国国家标准学会，关于测量 矩阵的标准
- ANSI/TIA/EIA 455-122-A-2002 用琼斯矩阵本征分析进行单模光纤偏振模色散测量
- ANSI/TIA-455-122-A-2002 利用琼斯矩阵本征分析仪法进行单模光纤的偏振模色散测量
