ic测试 方法

本专题涉及ic测试 方法的标准有19条。

国际标准分类中，ic测试 方法涉及到长度和角度测量、半导体分立器件。

在中国标准分类中，ic测试 方法涉及到数据通信设备。

美国材料与试验协会，关于ic测试 方法的标准

• ASTM F1374-92(2020) 内部表面的离子/有机萃取物的标准测试方法 - 用于气体分配系统组件的IC/GC/FTIR
• ASTM F1374-92(2012) 内部表面的离子/有机萃取物的标准测试方法 - 用于气体分配系统组件的IC/GC/FTIR
• ASTM F1374-92(1999) 内部表面的离子/有机萃取物的标准测试方法 - 用于气体分配系统组件的IC/GC/FTIR
• ASTM F1374-92(2005) 内部表面的离子/有机萃取物的标准测试方法 - 用于气体分配系统组件的IC/GC/FTIR

国际电工委员会，关于ic测试 方法的标准

• IEC 60749-43-2017 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第43部分:Ic可靠性资格认证计划指南
• IEC 60749-43:2017 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第43部分:Ic可靠性资格认证计划指南

欧洲电信标准协会，关于ic测试 方法的标准

• ETSI TS 101 203-2-1999 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-3的测试方法和一致性测试.第2部分:测试套件结构和测试目的(TSS&TP)规范(版本1.2.1)
• ETSI TS 101 204-2-1999 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-4的测试方法和一致性测试.第2部分:测试套件结构和测试目的(TSS&TP)规范(版本1.2.1)
• ETSI TS 101 207-3-1999 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-7的测试方法和一致性测试.第3部分:抽象测试套件(ATS)和额外测试信息实现(IXIT)的形式规范(版本1.2.1)
• ETSI TS 101 207-2-1999 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-7的测试方法和一致性测试.第2部分:测试套件结构和测试目的(TSS&TP)规范(版本1.2.1)
• ETSI TS 101 207-3-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-7的测试方法和一致性测试.第3部分:抽象测试套件(ATS)和额外测试信息实现(IXIT)的形式规范(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 204-3-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-4的测试方法和一致性测试.第3部分:抽象测试套件(ATS)和额外测试信息实现(IXIT)的形式规范(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 204-2-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-4的测试方法和一致性测试.第2部分:测试套件结构和测试目的(TSS&TP)(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 207-2-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-7的测试方法和一致性测试.第2部分:测试套件结构和测试目的(TSS&TP)(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 203-3-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-3的测试方法和一致性测试.第3部分:测试信息的形式规范(IXIT)(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 207-1-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-7的测试方法和一致性测试.第1部分:实现一致性声明(ICS)形式规范(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 203-1-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-3的测试方法和一致性测试.第1部分:实现一致性声明(ICS)形式规范(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 203-2-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-3的测试方法和一致性测试.第2部分:测试套件结构和测试目的(TSS&TP)(版本1.1.1)
• ETSI TS 101 204-1-1997 识别卡系统.通信IC卡和终端.EN 726-4的测试方法和一致性测试.第1部分:实现一致性声明(ICS)形式规范(版本1.1.1)

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