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脉冲 测试 时间
本专题涉及脉冲 测试 时间的标准有12条。
国际标准分类中，脉冲 测试 时间涉及到光电子学、激光设备、陶瓷。
在中国标准分类中，脉冲 测试 时间涉及到半导体发光器件、半导体光敏器件、无线电通信设备、特种陶瓷。
行业标准-电子，关于脉冲 测试 时间的标准
- SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
- SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
- SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲、上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
国际电信联盟，关于脉冲 测试 时间的标准
- ITU-R VOEU 99 FRENCH-2003 基于脉冲星计时的时间尺度 基于脉冲星周期的时间尺度
- ITU-R OPINION 99-2003 基于脉冲星计时的时间尺度
- ITU-R RUEGO 99 SPANISH-2003 基于脉冲星计时的时间尺度
- ITU-R INFORME RA.2099 SPANISH-2007 精密计时脉冲星射电观测
ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector，关于脉冲 测试 时间的标准
- OPINION 99-2003 基于脉冲星计时的时间尺度
- RUEGO 99 SPANISH-2003 基于脉冲星授时的时间尺度
- RAPPORT RA.2099 FRENCH-2007 通过脉冲星射电观测精确测量时间
行业标准-建材，关于脉冲 测试 时间的标准
- JC/T 2026-2010 脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法
RU-GOST R，关于脉冲 测试 时间的标准
- GOST 11612.13-1985 光倍增器.脉冲特征上升与持续时间的测量方法
