EN
RU
ES
整流二极管检验
本专题涉及整流二极管检验的标准有134条。
国际标准分类中，整流二极管检验涉及到环境试验、电工和电子试验、半导体分立器件、电子管、整流器、转换器、稳压电源、词汇、无线通信、电子元器件综合、农业机械、工具和设备。
在中国标准分类中，整流二极管检验涉及到半导体二极管、半导体分立器件综合、电力半导体器件、部件、半导体整流器件、、电子、电气设备、计量综合、基础标准与通用方法、电器、仪表。
台湾地方标准，关于整流二极管检验的标准
- CNS 6119-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–整流二极管连续动作试验
- CNS 6121-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–整流二极管连续通电试验
- CNS 6125-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–整流二极管之高温通电试验
- CNS 6123-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–整流二极管之断续通电试验
- CNS 3998-1989 小信号用二极管检验法
行业标准-电子，关于整流二极管检验的标准
- SJ 1230-1977 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
- SJ 1947-1981 2CZ33B、2DZ33B型硅电源整流二极管
- SJ 2725-1986 2CZ311型硅普通整流二极管详细规范
- SJ 2727-1986 2CZ313型硅普通整流二极管详细规范
- SJ 2726-1986 2CZ312型硅普通整流二极管详细规范
- SJ 2717-1986 2CZ301型硅普通整流二极管详细规范
- SJ 2722-1986 2CZ306型硅块开关整流二极管详细规范
- SJ 2731-1986 2CZ317型硅快开关整流二极管详细规范
- SJ 2724-1986 2CZ308型硅快开关整流二极管详细规范
- SJ 2732-1986 2CZ318型硅快开关整流二极管详细规范
- SJ 2721-1986 2CZ305型硅块开关整流二极管详细规范
- SJ 2723-1986 2CZ307型硅快开关整流二极管详细规范
- SJ 2729-1986 2CZ315型硅中速开关整流二极管详细规范
- SJ 2718-1986 2CZ302型硅中速开关整流二极管详细规范
- SJ 2720-1986 2CZ304型硅中速开关整流二极管详细规范
- SJ 2728-1986 2CZ314型硅中速开关整流二极管详细规范
- SJ 2730-1986 2CZ316型硅中速开关整流二极管详细规范
- SJ/T 10031-1991 电子元器件详细规范.2DH1～14型电流调整（稳流）二极管
- SJ 2719-1986 2CZ204和2CZ205型硅中速开关整流二极管详细规范
- SJ/T 10055-1991 电子元器件详细规范 2CZ58型管壳额定硅整流二极管
- SJ/T 10054-1991 电子元器件详细规范 2CZ57型管壳额定硅整流二极管
- SJ/T 10056-1991 电子元器件详细规范 2CZ59型管壳额定硅整流二极管
- SJ/T 10057-1991 电子元器件详细规范 2CZ60型管壳额定硅整流二极管
- SJ 20067-1992 半导体分立器件.2CZ30型硅整流二极管详细规范
- SJ 50033.45-1994 半导体分立器件.2CZ58型硅整流二极管详细规范
- SJ 50033.46-1994 半导体分立器件.2CZ59型硅整流二极管详细规范
- SJ 50033.47-1994 半导体分立器件.2CZ117型硅整流二极管详细规范
- SJ 20187-1992 半导体分立器件.2CZ5550～5554型硅整流二极管.详细规范
- SJ/T 10058-1991 电子元器件详细规范.2CZ103型环境额定硅整流二极管
- SJ/T 10060-1991 电子元器件详细规范.2CZ117型环境额定硅整流二极管
- SJ 50033/18-1994 半导体分立器件.2CZ73型硅开关整流二极管详细规范
- SJ 50033/19-1994 半导体分立器件.2CZ74型硅开关整流二极管详细规范
- SJ 1948-1981 2CZ90D～90J、2DZ90D～90J、2CZ91D～91J、2DZ91D～91J、2CZ92D～92J、2DZ92D～92J型硅高频整流二极管
- SJ 50033.43-1994 半导体分立器件.2CZ104型硅开关整流二极管详细规范
- SJ 50033.44-1994 半导体分立器件.2CZ105型硅开关整流二极管详细规范
- SJ 50033/135-1997 半导体分立器件.2CZ10型硅开关整流二极管详细规范
- SJ 50033/20-1994 半导体分立器件.2CZ101型硅开关整流二极管详细规范
- SJ 50033/21-1994 半导体分立器件.2CZ75型硅开关整流二极管详细规范
- SJ/T 10059-1991 电子元器件详细规范.2CZ116型环境额定硅整流二极管
- SJ 50033/39-1994 半导体分立器件.2CZ106型硅开关整流二极管详细规范
日本工业标准调查会，关于整流二极管检验的标准
- JIS C 7033:1975 半导体整流二极管的试验方法
- JIS C 7222:1978 有可靠性保证的小电流整流二极管
- JIS C 7225:1982 有可靠性保证的整流二极管(中、大电流)
YU-JUS，关于整流二极管检验的标准
- JUS N.R1.421-1979 整流二极管．测量方法
- JUS N.R1.372-1979 半导体二极管．重要额定值和特性．整流二级管
行业标准-机械，关于整流二极管检验的标准
- JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法
- JB/T 5837-1991 ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管
- JB/T 5841-1991 ZH系列200A以上管壳颖定高压整流二极管
- JB/T 5836-1991 ZK系列5A以上管壳额定快恢复整流二极管
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components，关于整流二极管检验的标准
- PQC 75-1991 半导体器件 分立器件 整流二极管空白详细规范：整流二极管（包括雪崩整流二极管） 环境和外壳额定 大于 100 A
- QC 750108/ CN 0010-1992 2CZ305 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
- QC 750108/ CN 0008-1992 2CZ317 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
- QC 750108/ CN 0006-1992 2CZ312 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
- QC 750108/ CN 0007-1992 2CZ313 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
- QC 750108/ CN 0005-1992 2CZ308 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
- QC 750108/ CN 0009-1992 2CZ318 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
RU-GOST R，关于整流二极管检验的标准
- GOST 21011.5-1978 高压整流二极管.阴极加热时间测量及预热时间检验的方法
- GOST 21011.1-1976 高压整流二极管.阳极的测量方法
- GOST 21011.4-1977 高压整流二极管.电气强度的试验方法
- GOST 21011.2-1976 高压整流二极管.脉冲阳极电流的测量方法
- GOST 20693-1975 高压整流二极管.术语和定义
- GOST 21011.3-1977 高压整流二极管.灯丝电流的测量方法
- GOST 21011.7-1980 高压整流二极管.发射电流的测量方法
- GOST 21011.6-1978 高压整流二极管.灯丝电压多次通断试验方法
- GOST 19656.2-1974 超高频混频半导体二极管.平均整流电流测量方法
- GOST 21011.0-1975 高压整流二极管.电参数的测量方法.一般原理
- GOST 18986.16-1972 半导体整流二极管.直流电压平均值和反向电流平均值的测量方法
欧洲电工电子元器件标准，关于整流二极管检验的标准
- CECC 50 008- 004 额定环境整流二极管(英文)
- CECC 50 008- 005 额定环境整流二极管(英文)
- EN 150009:1992 空白详细规范:规定管壳的整流二极管
- CECC 50 008- 014 UTE C 86-818/014,额定环境整流二极管(法)
- EN 150008:1992 空白详细规范:规定环境的整流二极管
国家质检总局，关于整流二极管检验的标准
- GB/T 16894-1997 大于100A，环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
- GB/T 6351-1998 半导体器件 分立器件 第2部分;整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
- GB/T 13063-1991 电流调整和电流基准二极管空白详细规范
韩国科技标准局，关于整流二极管检验的标准
- KS C 5204-1980(2000) 可靠性保证的小电流整流二极管
- KS C 5204-1980 可靠性保证的小电流整流二极管
- KS C 6045-1991(2001) 半导体整流二极管测试方法
- KS C 6045-1986 半导体整流二极管测试方法
- KS C 5204-2002 可靠性有保证的低电流整流二极管
- KS C IEC 60747-2-2-2006(2021) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第2节:额定环境和外壳电流大于100A的整流二极管（包括雪崩整流二极管）空白详细规范
- KS C IEC 60747-2-2-2006(2016) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第2节:额定环境和外壳电流大于100A的整流二极管（包括雪崩整流二极管）空白详细规范
- KS C IEC 60747-2-1-2006(2016) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一节:100A及以下环境和外壳额定整流二极管（包括雪崩整流二极管）空白详细规范
- KS C IEC 60747-2-1-2006(2021) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一节:100 A以下环境和外壳额定整流二极管（包括雪崩整流二极管）空白详细规范
- KS C IEC 60747-2-2:2006 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以上具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范
- KS C IEC 60747-2-1:2006 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范
- KS C 5217-2002 可靠性有保证的整流二极管（中高电流）
- KS C 5217-1983 可靠性有保证的整流二极管（中高电流）
- KS C IEC 60747-2:2021 半导体器件第2部分:分立器件整流二极管
TH-TISI，关于整流二极管检验的标准
- TIS 1596-1999 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第2节:电流在100A以上环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
国际电工委员会，关于整流二极管检验的标准
- IEC 60747-2-2:1993 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第1节:电流在100A以上环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
- IEC 60747-2-1:1989 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第1节:电流在100A以下环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
- IEC 60747-2:1983 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管
- IEC 60747-2:2016 半导体器件.第2部分:分立器件.整流二极管
- IEC 60747-2/AMD2:1993 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.修改件2
英国标准学会，关于整流二极管检验的标准
- BS 9300 C476:1973 硅雪崩整流器二极管详细规范
- BS 9300 C667-668:1971 硅雪崩整流器二极管详细规范
- BS IEC 60747-2:2016 半导体器件.分立器件.整流二极管
- BS EN 60747-2:2016 半导体器件 离散设备 整流二极管
- BS QC 750109:1993 电子元件质量评估协调制度规范。空白详细规范。整流二极管（包括雪崩整流二极管），环境额定值和外壳额定值，电流大于 100 A
- BS IEC 60747-2:2000 分立的半导体器件器件和集成电路.整流二极管
- BS 9300 C379-388:1971 安装于硅螺杆上的大功率整流器二极管详细规范
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于整流二极管检验的标准
- JEDEC JESD282B.01-2002 硅二极管整流器.EIA-JESD282-B修订本
法国标准化协会，关于整流二极管检验的标准
- NF C86-818/A1:1981 指定环境温度下的整流二极管
- NF C96-821:1981 半导体器件大功率整流二极管
机械电子工业部，关于整流二极管检验的标准
- JB 5837-1991 ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管
丹麦标准化协会，关于整流二极管检验的标准
- DS/IEC 747-2-1:1990 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范
- DS/IEC 747-2:1985 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管
CZ-CSN，关于整流二极管检验的标准
- CSN IEC 747-2-1:1993 半导体设备．离散设备．第2部分：整流二极管第1节．整流二极管的空白详细规范（包括雪崩整流二极管；周围环境以及达到100A的管壳额定值）
SE-SIS，关于整流二极管检验的标准
- SIS SS-CECC 50009-1991 空白详细规范．壳额定整流二极管
- SIS SS-CECC 50008-1991 空白详细规范．环境额定整流二极管
RO-ASRO，关于整流二极管检验的标准
- STAS 10228-1984 硅整流二极管．一般质量技术要求
- STAS 12123/1-1982 半导体装置整流器二极管测量电和热特性的方法
- STAS 7128/5-1985 半导体设备和集成电路参数符号．整流二极管符号
贵州省地方标准，关于整流二极管检验的标准
- DB52/T 861-2013 2CB003型硅雪崩整流二极管详细规范
行业标准-汽车，关于整流二极管检验的标准
- QC/T 706-2004 机动车用硅雪崩整流二极管技术条件
美国国防后勤局，关于整流二极管检验的标准
- DLA DSCC-DWG-03021-2003 TX和TXV型1N5597,1N56001,N5603,高电压整流模块,整流硅二极管半导体器件
- DLA MIL-PRF-19500/193 F-2009 半导体器件、二极管、硅、整流器类型 1N457、1N458 和 1N459，JAN
- DLA MIL-PRF-19500/656 A-2008 半导体器件、二极管、硅、肖特基二极管、电源整流器、共阴极或共阳极中心抽头，类型 1N6785 和 1N6785R，JAN、JANTX、JANTXV 和 JANS
- DLA MIL PRF 19500/670A VALID NOTICE 2-2013 半导体器件、二极管、硅、势垒整流器、肖特基二极管、类型 1N6826、1N6826US、1N6831 和 1N6831US JAN、JANTX、JANTXV、JANS、JANHC 和 JANKC
- DLA MIL-PRF-19500/259 A NOTICE 2-1999 电力整流器用JAN-1N1130和JAN-1N1131型硅制二极管半导体装置
- DLA MIL-PRF-19500/228 M-2008 半导体器件、二极管、硅、整流器、类型 1N3611、1N3612、1N3613、1N3614、1N3957、JAN 和 JANTX
- DLA MIL-PRF-19500/228 P-2011 半导体器件、二极管、硅、整流器、类型 1N3611、1N3612、1N3613、1N3614、1N3957、JAN 和 JANTX
国家计量检定规程，关于整流二极管检验的标准
- JJG(电子) 04044-1991 YWS2980A型整流二极管I<下标FSN>和I<上标2>t测试仪检定规程
KR-KS，关于整流二极管检验的标准
- KS C IEC 60747-2-2021 半导体器件第2部分:分立器件整流二极管
国家军用标准-总装备部，关于整流二极管检验的标准
- GJB/Z 41.5-1993 军用半导体分立器件系列型谱 整流二极管和闸流晶体管
IN-BIS，关于整流二极管检验的标准
- IS 4400 Pt.3-1968 半导体器件的测量方法第 III 部分整流器二极管
工业和信息化部/国家能源局，关于整流二极管检验的标准
- JB/T 11983-2016 拖拉机及内燃机用发电机整流二极管 技术条件
HU-MSZT，关于整流二极管检验的标准
- MSZ 11453/2-1987 直接连接工具以及集成电路．整顿二极管检测定义
