icp-ms和icp-oes

本专题涉及icp-ms和icp-oes的标准有29条。

国际标准分类中，icp-ms和icp-oes涉及到电子元器件综合、分析化学、纺织产品、环境保护、电气工程综合、道路车辆装置。

在中国标准分类中，icp-ms和icp-oes涉及到电子元件综合、机电工业污染物排放标准、基础标准和通用方法。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于icp-ms和icp-oes的标准

GB/T 39560.4-2021 电子电气产品中某些物质的测定第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞
GB/T 39560.5-2021 电子电气产品中某些物质的测定第5部分： AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量

美国材料与试验协会，关于icp-ms和icp-oes的标准

ASTM E3171-21a 用ICP-OES或ICP-MS分析法测定纺织品中总银的标准试验方法
ASTM E3171-21e1 用ICP-OES或ICP-MS分析法测定纺织品中总银的标准试验方法
ASTM E3171-21 用ICP-OES或ICP-MS分析法测定纺织品中总银的标准试验方法

，关于icp-ms和icp-oes的标准

KS C IEC 62321-4-2014(2019) 电工产品中某些物质的测定 - 第4部分:聚合物金属和电子学中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
KS C IEC 62321-5-2014(2019) 的电工产品中某些物质的测定 - 第5部分:在聚合物和电子和镉铬镉铅和并且在由AAS金属铅 AFS ICP-OES和ICP-MS

法国标准化协会，关于icp-ms和icp-oes的标准

NF C05-100-4/A1-2017 电工产品中某些物质的测定. 第4部分: 用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞

国际电工委员会，关于icp-ms和icp-oes的标准

IEC 62321-4-2013+AMD1-2017 CSV 电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV 电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4-2013/AMD1-2017 附录1电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 附录1电工产品中某些物质的测定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子产品中的汞
IEC 62321-4 AMD 1-2017 电工制品中特定物质的测定.第4部分:通过CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞.修改件1
IEC 62321-4 Edition 1.1-2017 电工制品中特定物质的测定.第4部分:通过CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞
IEC 62321-5:2013 电工产品中某些物质的测定 - 第5部分:Aas Afs Icp-Oes和Icp-Ms中的聚合物和电子元件中的镉铅和铬以及金属中的镉和铅
IEC 62321-4:2013 电工产品中某些物质的测定 - 第4部分:聚合物金属和电子学中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
IEC 62321-5-2013 电工制品中特定物质的测定.第5部分:通过原子吸收分光光度法(AAS)、原子荧光光谱法(AFS)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定聚合物和电子中镉、铅和铬及金属中镉和铅
IEC 62321-4-2013 电工制品中特定物质的测定. 第4部分: 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞

英国标准学会，关于icp-ms和icp-oes的标准

BS EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞
BS EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞