校正分析仪
本专题涉及校正分析仪的标准有17条。
国际标准分类中，校正分析仪涉及到频率控制和选择用压电器件与介质器件、分析化学、计量学和测量综合、光学和光学测量、光纤通信、热力学和温度测量、塑料。
在中国标准分类中，校正分析仪涉及到基础标准与通用方法、光学计量仪器、化学、光学测试仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、合成树脂、塑料基础标准与通用方法。
，关于校正分析仪的标准
- KS C IEC 60444-11-2016(2021) 石英晶体元件参数的测量.第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLEF的标准方法
- KS C IEC 60444-5-2016(2021) 石英晶体元件参数的测量第5部分:用自动网络分析仪技术测定等效电参数的方法和误差校正
- KS C IEC 60444-1-2016(2021) 石英晶体元件参数的测量.第11部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLEF的标准方法
美国材料与试验协会，关于校正分析仪的标准
- ASTM E2551-2013 和热重分析仪一起使用的湿度发生器湿度校正 (或构型) 的标准试验方法
- ASTM E2254-2013 动态机械分析仪存储模数校正的标准试验方法
- ASTM E2254-2011 动态机械分析仪存储模数校正的标准试验方法
- ASTM E1860-2007 消逝时间校正热分析仪的标准试验方法
- ASTM E2551-2007 和热重分析仪一起使用的湿度发生器湿度校正(或构型)的标准试验方法
- ASTM E2113-2004 热机分析仪长度变化校正的标准试验方法
- ASTM E2254-2003 动态机械分析仪存储模数校正的标准试验方法
- ASTM E2113-2000 热机分析仪长度变化校正的标准试验方法
- ASTM E1860-1997a 消逝时间校正热分析仪的标准试验方法
国际电工委员会，关于校正分析仪的标准
- IEC 60444-11:2010 石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法
- IEC/PAS 62129-2004 光谱分析仪的校正
- IEC 60444-5:1995 石英晶体单位参数的测量 - 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法
德国标准化学会，关于校正分析仪的标准
- DIN EN 62129-2007 光谱分析仪的校正(IEC 62129-2006)
英国标准学会，关于校正分析仪的标准
- BS EN 62129-2006 光谱分析仪的校正
