光学 全息
本专题涉及光学 全息的标准有32条。
国际标准分类中，光学 全息涉及到玻璃、信息技术应用、电子元器件综合、光学和光学测量。
在中国标准分类中，光学 全息涉及到仪器、仪表用材料和元件、数据媒体、电影与摄影技术、物理学与力学。
国家质检总局，关于光学 全息的标准
- GB/T 7962.3-2010 无色光学玻璃测试方法 第3部分：光学均匀性 全息干涉法
- GB/T 7962.3-1987 无色光学玻璃测试方法 光学均匀性全息干涉测试方法
英国标准学会，关于光学 全息的标准
- BS ISO/IEC 11695-3-2017 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.光学性能和特性
- BS ISO/IEC 11695-3-2017 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.光学性能和特性
- BS ISO 17901-1-2015 光学和光子学. 全息摄影术. 全息图衍射效率和其相关光学特性的测量方法
- BS ISO 17901-1-2015 光学和光子学. 全息摄影术. 全息图衍射效率和其相关光学特性的测量方法
- BS ISO 17901-2-2015 光学和光子学. 全息摄影术. 全息记录特性的测量方法
- BS ISO 17901-2-2015 光学和光子学. 全息摄影术. 全息记录特性的测量方法
- BS ISO/IEC 11695-1-2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.物理特性
- BS ISO/IEC 11695-1-2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.物理特性
- BS ISO/IEC 11695-2-2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.可到达光学区域的尺寸和位置
- BS ISO/IEC 11695-2-2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.可到达光学区域的尺寸和位置
- BS ISO/IEC 10373-9-2011 身份证.试验方法.光学存储卡.全息记录方法
- BS ISO/IEC 10373-9-2011 身份证.试验方法.光学存储卡.全息记录方法
- BS ISO/IEC 11695-1-2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.物理特性
- BS ISO/IEC 11695-3-2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.光学性能和特性
- BS ISO/IEC 11695-2-2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.可到达光学区域的尺寸和位置
国际电工委员会，关于光学 全息的标准
- ISO/IEC 11695-3:2017 识别卡 - 光存储卡 - 全息记录方法 - 第3部分:光学性能和特性
国际标准化组织，关于光学 全息的标准
- ISO/IEC 11695-3-2017 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第3部分:光学性能和特性
- ISO 17901-2-2015 光学和光子学. 全息摄影术. 第2部分: 全息记录特性的测量方法
- ISO 17901-1-2015 光学和光子学. 全息摄影术. 第1部分: 全息图衍射效率和其相关光学特性的测量方法
- ISO 17901-1:2015 光学和光子学 - 全息术 - 第1部分:测量全息图衍射效率和相关光学特性的方法
- ISO 17901-2:2015 光学和光子学 - 全息术 - 第2部分:测量全息图记录特性的方法
- ISO/IEC 11695-1-2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第1部分:物理特性
- ISO/IEC 11695-2-2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第2部分:可到达光学区域的尺寸和位置
- ISO/IEC 10373-9-2011 标示卡.试验方法.第9部分:光学存储卡.全息记录方法
- ISO/IEC 11695-2-2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第2部分:可到达光学区域的尺寸和位置
- ISO/IEC 11695-3-2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第3部分:光学性能和特性
- ISO/IEC 11695-1-2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第1部分:物理特性
- ISO/IEC 11695-3:2008 身份证——光存储卡——全息记录方法第3部分:光学特性和特性
，关于光学 全息的标准
- GOST R ISO/IEC 10373-9-2013 识别卡. 试验方法. 第9部分. 光学存储卡. 全息记录方法.
日本工业标准调查会，关于光学 全息的标准
- JIS Z8791-2011 全息图的衍射效能和相关光学特性测量方法
