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半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分

本专题涉及半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准有11条。

国际标准分类中，半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分涉及到半导体分立器件。

在中国标准分类中，半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分涉及到半导体分立器件综合、电力半导体器件、部件。

丹麦标准化协会，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• DS/EN 60749-6/Corr.1:2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存
• DS/EN 60749-6:2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存

法国标准化协会，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存

AENOR，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• UNE-EN 60749-6:2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存

德国标准化学会，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• DIN EN 60749-6:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温储存

韩国科技标准局，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• KS C IEC 60749-6:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存

国际电工委员会，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• IEC 60749-6:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
• IEC 60749-6:2002/COR1:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
• IEC 60749-6:2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存

欧洲电工标准化委员会，关于半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分的标准

• EN 60749-6:2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
• EN 60749-6:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存 部分替代EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001;IEC 60749-6-2002

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