icp测试怎么制样
本专题涉及icp测试怎么制样的标准有27条。
国际标准分类中，icp测试怎么制样涉及到电信系统、原油、核能工程、陶瓷、润滑剂、工业油及相关产品、燃料。
在中国标准分类中，icp测试怎么制样涉及到信息传输指标、建筑卫生陶瓷、特种陶瓷、润滑油、陶瓷、玻璃综合、燃料油。
工业和信息化部，关于icp测试怎么制样的标准
- YD/T 4004-2022 互联网基础资源 ICP备案主体信息真实性检测系统测试方法
- YD/T 3564-2019 互联网内容提供商（ICP）/IP地址/域名信息备案系统信息交换接口测试方法
美国材料与试验协会，关于icp测试怎么制样的标准
- ASTM D5708-15(2020)e1 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM D5708-15 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM C1432-15 钚中杂质测定的标准测试方法:酸溶解 离子交换矩阵分离和电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP/AES）分析
- ASTM D5708-12e1 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM D5708-12 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM D5708-11 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM C1432-03(2008) 钚中杂质测定的标准测试方法:酸溶解 离子交换矩阵分离和电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP/AES）分析
- ASTM D5708-05 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM C1432-03 钚中杂质测定的标准测试方法:酸溶解 离子交换矩阵分离和电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP/AES）分析
- ASTM D5708-02 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM D5708-00 通过电感耦合等离子体（ICP）原子发射光谱测定原油和残余燃料中的镍 钒和铁的标准测试方法
- ASTM C1432-99 钚中杂质测定的标准测试方法:酸溶解 离子交换矩阵分离和电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP/AES）分析
英国标准学会，关于icp测试怎么制样的标准
- BS EN ISO 14720-2-2013 生陶瓷和基本材料的测试.非氧化生陶瓷和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.电感耦合等离子发射光谱(ICP/OES)或氧气流燃烧后的离子色谱法
- BS EN ISO 14720-2-2013 生陶瓷和基本材料的测试.非氧化生陶瓷和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.电感耦合等离子发射光谱(ICP/OES)或氧气流燃烧后的离子色谱法
法国标准化协会，关于icp测试怎么制样的标准
- NF B40-675-2-2013 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.第2部分:电感耦合等离子发射光谱(ICP/OES)或氧气流燃烧后的离子色谱法
- NF B41-106-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数.
欧洲标准化委员会，关于icp测试怎么制样的标准
- EN ISO 14720-2-2013 陶瓷原料和基本材料的测试 非氧化陶瓷原料和基本材料的的粉末和粒料中硫含量的测定 第2部分：在氧气流中燃烧后的电感耦合等离子体光发射光谱法（ICP/OES）或离子色谱法
国际标准化组织，关于icp测试怎么制样的标准
- ISO 14720-2-2013 生陶瓷和基本材料的测试.非氧化生陶瓷和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.第2部分:电感耦合等离子发射光谱(ICP/OES)或氧气流燃烧后的离子色谱法
- ISO 14720-2:2013 陶瓷原材料和基础材料的测试——非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末和颗粒中硫的测定第2部分:在氧气流中燃烧后的电感耦合等离子体发射光谱法（ICP/OES）或离子色谱法
德国标准化学会，关于icp测试怎么制样的标准
- DIN 51443-2-2012 润滑剂测试.含硼量测定.第2部分:使用电感耦合等离子体光学发射光谱分析法(ICP OES)直接测定
- DIN 51400-10-2010 矿物油和燃料的测试.硫含量(全硫)的测定.第10部分:带有电感耦合等离子体的光辐射光谱分析的直接测定(ICP OES)
- DIN 51363-3-2008 石油产品的测试.润滑油和添加剂磷含量的测定.第3部分:使用感应耦合等离子体的光学发射光谱分析进行直接测定(ICP OES)
- DIN 51096-2008 陶瓷原材料和基本材料的测试.用感应耦合等离子体光学发射光谱测定法(ICP OES)和电热蒸馏器(ETV)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分率
- DIN 51095-2-2007 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的粉末和颗粒中硫含量的测定.第2部分:氧流量中燃烧后的感应耦合等离子光发射光谱测定法(ICP OES)或离子色谱法(IC)
- DIN 51790-6-2007 液体燃料的测试.钒和镍含量的测定.第6部分:用感应耦合等离子体发散光谱分析(ICP OES)的直接测定
