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接触式三维轮廓仪
本专题涉及接触式三维轮廓仪的标准有39条。
国际标准分类中，接触式三维轮廓仪涉及到长度和角度测量、机械试验、陶瓷。
在中国标准分类中，接触式三维轮廓仪涉及到量具与量仪、基础标准与通用方法、通用零部件综合、计量综合、特种陶瓷。
CZ-CSN，关于接触式三维轮廓仪的标准
- CSN ISO 3274:1994 用轮廓法测量表面厚度的仪器．轮廓顺序转换的接触（触针）式仪器．接触式轮廓仪，系统M
- CSN ISO 1880:1993 用轮廓法测量表面厚度的仪器．轮廓渐进转换的接触（触针）式仪器．轮廓记录仪
TR-TSE，关于接触式三维轮廓仪的标准
- TS 2495-1977 轮廓法测量表面粗糙度的仪器．轮廓顺序转换的接触（触针）式仪器．接触（触针）式轮廓测量仪．系统M
行业标准-机械，关于接触式三维轮廓仪的标准
- JB/T 11271-2012 接触（触针）式表面轮廓测量仪
RO-ASRO，关于接触式三维轮廓仪的标准
- STAS SR ISO 3274:1995 轮廓发对表面粗糙度进行测量的仪器．轮廓顺序转换的接触（触针）式仪器．接触表面测量仪，系统M
英国标准学会，关于接触式三维轮廓仪的标准
- BS EN ISO 12179:2022 产品几何规格（GPS）表面纹理：轮廓法 接触式（触针）仪器的校准
- BS EN ISO 12179:2001 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.接触式(触针)仪器的校准
- 20/30397768 DC BS EN ISO 12179 产品几何规格(GPS)表面纹理：轮廓法 接触式（触针）仪器的校准
- BS EN ISO 18452:2016 精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度
ES-UNE，关于接触式三维轮廓仪的标准
- UNE-EN ISO 12179:2023 产品几何规格(GPS)表面纹理：轮廓法 接触式（触针）仪器的校准
- UNE-EN ISO 18452:2016 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）-通过接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
法国标准化协会，关于接触式三维轮廓仪的标准
- NF EN ISO 18452:2016 技术陶瓷 使用接触式轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
- NF EN ISO 12179:2022 产品几何规格（GPS） - 表面条件：轮廓法 - 接触式仪器（探头）的校准
- NF A92-801-1:2003 先进工艺陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定涂层厚度
德国标准化学会，关于接触式三维轮廓仪的标准
- DIN EN ISO 12179:2000 产品几何量规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针式)仪器的校准
- DIN EN ISO 12179:2023 产品几何规格 (GPS) 表面纹理：轮廓法 接触式（触针）仪器的校准 (ISO 12179:2021)
- DIN EN ISO 3274:1998-04 产品几何规范 (GPS) - 表面纹理：轮廓法 - 接触式（触针）仪器的标称特性 (ISO 3274:1996)
- DIN EN ISO 18452:2016-09 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 用接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
- DIN EN 1071-1:2003 高级工业陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度
RU-GOST R，关于接触式三维轮廓仪的标准
- GOST 19300-1986 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.接触式表面光度仪.型式、基本参数
韩国科技标准局，关于接触式三维轮廓仪的标准
- KS B ISO 12179:2004 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触式(触针)仪器的校准
- KS B ISO 12179:2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触式(触针)仪器的校准
- KS A ISO 3274:2002 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.接触尖笔式记录仪的一般特性
- KS A ISO 3274:2014 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.接触尖笔式记录仪的一般特性
未注明发布机构，关于接触式三维轮廓仪的标准
- BS EN ISO 3274:1998(1999) 产品几何规格 (GPS) — 表面纹理：轮廓法 — 接触式（触针）仪器的标称特性 —
欧洲标准化委员会，关于接触式三维轮廓仪的标准
- EN ISO 12179:2022 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的校准
- EN ISO 12179:2000 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的校准
- EN ISO 3274:1997 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的标称特性
- DD ENV 1071-1-1993 高级技术陶瓷 陶瓷涂层的测试方法 第1部分：通过接触式探针轮廓仪测定涂层厚度
国际标准化组织，关于接触式三维轮廓仪的标准
- ISO 12179:2000 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
- ISO 3274:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性
- ISO 12179:2000/cor 1:2003 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.接触(触针)式仪器的校准.技术勘误1
- ISO 3274:1996/cor 1:1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性 技术勘误1
- ISO 18452:2005 精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度
国家质检总局，关于接触式三维轮廓仪的标准
- GB/T 19600-2004 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的校准
- GB/T 6062-2009 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.接触(触针)式仪器的标称特性
- GB/T 6062-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性
德国机械工程师协会，关于接触式三维轮廓仪的标准
- VDI/VDE 2602 Blatt 2-2008 粗糙度测量 使用接触式（触针）仪器进行粗糙度测量 轮廓法 设置、测量条件、程序
AT-ON，关于接触式三维轮廓仪的标准
- ONORM ENV 1071-1-1993 先进的技术陶瓷．陶瓷覆层的试验方法．第1部分：用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度
