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x荧光测试方法

本专题涉及x荧光测试方法的标准有7条。

国际标准分类中，x荧光测试方法涉及到金属材料试验、半导体材料、核能工程。

在中国标准分类中，x荧光测试方法涉及到半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、其他日用品、通用核仪器、化合物半导体材料。

国家质检总局，关于x荧光测试方法的标准

• GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
• GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
• GB/T 31364-2015 能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法

美国机动车工程师协会，关于x荧光测试方法的标准

• SAE AS6171/3-2022 通过 X 射线荧光测试方法检测可疑/假冒 EEE 部件的技术

SAE - SAE International，关于x荧光测试方法的标准

• SAE AS6171/3-2016 通过 X 射线荧光测试方法检测可疑/假冒 EEE 部件的技术

行业标准-轻工，关于x荧光测试方法的标准

• QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法 X荧光光谱法

行业标准-电子，关于x荧光测试方法的标准

• SJ 3246-1989 铝镓砷(AlxGa1-x As)材料中铝组分的光荧光测试方法

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可能用到的仪器设备