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Abschnittselektronik

Für die Abschnittselektronik gibt es insgesamt 7 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Abschnittselektronik die folgenden Kategorien: Längen- und Winkelmessungen.

CU-NC, Abschnittselektronik

• NC 66-101-1988 Elektrotechnische und elektronische Industrie. Lackierte Kupferdrähte mit kreisförmigem Querschnitt. Elektrische Tests
• NC 66-40-1988 Elektronische und elektrotechnische Industrie. Lackierte Kupferdrähte mit kreisförmigem Querschnitt. Qualitätsspezifikationen

American Society for Testing and Materials (ASTM), Abschnittselektronik

• ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop

Sonstige:   Abschnitt, Ionenquerschnitt, +++++Testabschnitt, Testabschnitt, Beschichtungsquerschnitt, Schnittfläche, Abschnittselektronik, Beschichtungsquerschnitt, Schnittlinie, Probenquerschnitt, Querschnitt, Abschnittsgröße, Abschnittsmoment, Metallquerschnitt, Schnitteigenschaften, Referenzteil, Abschnittsbeschichtung, Schnitt, Faserquerschnitt, Messabschnitt.