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Methode zur Prüfung der Oberflächenspannung von Mikrostrukturen basierend auf Raman-Spektroskopie

Für die Methode zur Prüfung der Oberflächenspannung von Mikrostrukturen basierend auf Raman-Spektroskopie gibt es insgesamt 1 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Methode zur Prüfung der Oberflächenspannung von Mikrostrukturen basierend auf Raman-Spektroskopie die folgenden Kategorien: Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Methode zur Prüfung der Oberflächenspannung von Mikrostrukturen basierend auf Raman-Spektroskopie

• GB/T 34899-2017 Mikroelektromechanische Systemtechnik – Messmethode der Mikrostruktur-Oberflächenspannung basierend auf Raman-Spektroskopie

Sonstige:   Methode zur Prüfung der Oberflächenspannung von Mikrostrukturen basierend auf Raman-Spektroskopie.