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Standardtestmethode für eingebettete Chip-basierte integrierte Schaltkreise c/tt

Für die Standardtestmethode für eingebettete Chip-basierte integrierte Schaltkreise c/tt gibt es insgesamt 1 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Standardtestmethode für eingebettete Chip-basierte integrierte Schaltkreise c/tt die folgenden Kategorien: Netzwerk.

American National Standards Institute （ANSI), Standardtestmethode für eingebettete Chip-basierte integrierte Schaltkreise c/tt

ANSI/IEEE 1500:2005 Standardtestmethode für eingebettete kernbasierte integrierte Schaltkreise C/TT