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Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

Für die Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen gibt es insgesamt 48 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen die folgenden Kategorien: Textilprodukte, Diskrete Halbleitergeräte, Umwelttests, Allgemeine Grundsätze der Standardisierung.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • KS K 0706-2007 Testmethode für die Witterungsbeständigkeit von Stoffen: Weather-o-meter-Methode
  • KS K ISO 105-B04:2007 Textilien – Tests auf Farbechtheit – Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Test mit Xenon-Lichtbogenlampen
  • KS K ISO 105-B04:2014 Textilien – Prüfungen auf Farbechtheit – Teil B04: Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Test mit Xenon-Lichtbogenlampen

International Organization for Standardization (ISO), Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • ISO 105-B04:1994 Textilien – Prüfungen auf Farbechtheit – Teil B04: Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Test mit Xenon-Lichtbogenlampen
  • ISO 105-B04:1988 Textilien; Prüfungen auf Farbechtheit; Teil B04: Farbechtheit gegenüber Witterungseinflüssen: Xenonlichtbogen
  • ISO/TR 11728:1993 Eloxiertes Aluminium und Aluminiumlegierungen; beschleunigter Test der Wetterechtheit von farbigen anodischen Oxidbeschichtungen unter Verwendung von zyklischem künstlichem Licht und Schadgas

SE-SIS, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • SIS SS-ISO 105-B04:1992 Textilien – Prüfungen auf Farbechtheit – Teil B04: Farbechtheit gegenüber Witterungseinflüssen: Xenon sind

CH-SNV, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • VSM 33721-1972 Textil. Farbechtheitstest. Teil B04: Farbechtheit gegenüber Witterungseinflüssen: Xenon-Bogenlampe

ZA-SANS, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • SANS 105-B04:1994 Textilien – Tests zur Farbechtheit Teil B04: Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Test mit Xenon-Lichtbogenlampen

VN-TCVN, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • TCVN 5469-2007 Textilien.Tests auf Farbechtheit.Teil B04: Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Test mit Xenon-Lichtbogenlampen

German Institute for Standardization, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • DIN EN ISO 105-B04:1997 Textilien - Prüfungen auf Farbechtheit - Teil B04: Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Test mit Xenon-Lichtbogenlampen (ISO 105-B04:1994); Deutsche Fassung EN ISO 105-B04:1997
  • DIN EN 60749-9:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 9: Dauerhaftigkeit der Markierung (IEC 60749-9:2002); Deutsche Fassung EN 60749-9:2002
  • DIN EN 60749-15:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente (IEC 60749-15:2010); Deutsche Fassung EN 60749-15:2010 + AC:2011

European Committee for Standardization (CEN), Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • EN ISO 105-B04:1997 Textilien – Tests auf Farbechtheit – Teil B04: Farbechtheit gegenüber künstlicher Bewitterung: Xenon-Bogen-Fading-Lampentest ISO 105-B04: 1994

British Standards Institution (BSI), Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • BS EN 60749-21:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Lötbarkeit
  • BS EN 60749-14:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Robustheit von Anschlüssen (Leiterintegrität)
  • BS EN 60749-29:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Latch-up-Test
  • BS EN 60749-24:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommenes HAST
  • BS EN 60749-33:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommener Autoklav
  • BS EN 60749-15:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Beständigkeit gegenüber der montierten Löttemperatur für Durchgangslochbauelemente
  • BS EN 60749-15:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beständigkeit gegenüber der Löttemperatur für durchkontaktierte Bauelemente
  • BS EN 60749-15:2010 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Beständigkeit gegen Löttemperatur für durchkontaktierte Geräte
  • BS EN 60749-7:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Messung des internen Feuchtigkeitsgehalts und Analyse anderer Restgase
  • BS EN 60749-30+A1:2006 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Geräte vor der Zuverlässigkeitsprüfung
  • BS EN 60749-30:2005+A1:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Geräte vor der Zuverlässigkeitsprüfung

Association Francaise de Normalisation, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

International Electrotechnical Commission (IEC), Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • IEC 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
  • IEC 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
  • IEC 60749-15:2020 RLV Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • IEC 60749-15:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • IEC 60749-20:2020 RLV Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • EN 60749-4:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
  • EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
  • EN 60749-5:2003 Mechanische und klimatische Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
  • EN IEC 60749-15:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • EN 60749-15:2010 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • EN 60749-4:2002 Mechanische und klimatische Testmethoden für Halbleiterbauelemente Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)

AENOR, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • UNE-EN 60749-24:2005 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 24: Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommener HAST
  • UNE-EN 60749-15:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • UNE-EN 60749-33:2005 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 33: Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommener Autoklav

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • GB/T 14522-2008 Künstliche Bewitterungstestmethode für Kunststoffe, Beschichtungen und Gummimaterialien, die für Maschinen und Industrieprodukte verwendet werden. Fluoreszierende UV-Lampen

RU-GOST R, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • GOST 30630.2.1-2013 Dauertestmethoden für klimatische Umgebungen für Maschinen, Instrumente und andere Industrieprodukte. Prüfung auf Stabilitätseinfluss der Temperatur
  • GOST R 51368-2011 Dauertestmethoden für klimatische Umgebungen für Maschinen, Instrumente und andere Industrieprodukte. Prüfung auf Stabilitätseinfluss der Temperatur

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • GB/T 4937.15-2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • GB/T 4937.20-2018 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze

Danish Standards Foundation, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • DS/EN 60749-15/AC:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
  • DS/EN 60749-15:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente

PL-PKN, Maschine zur Prüfung der Witterungsbeständigkeit von Deuteriumlampen

  • PN-EN IEC 60749-15-2021-04 E Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente (IEC 60749-15:2020)




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