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RUFemtosekunden-Laserwellenlänge
Für die Femtosekunden-Laserwellenlänge gibt es insgesamt 13 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Femtosekunden-Laserwellenlänge die folgenden Kategorien: Optoelektronik, Lasergeräte, Bodenservice- und Reparaturausrüstung, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Optik und optische Messungen, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, analytische Chemie.
Group Standards of the People's Republic of China, Femtosekunden-Laserwellenlänge
United States Navy, Femtosekunden-Laserwellenlänge
- NAVY MIL-S-29594 NOTICE 1-1997 Brillen, Fliegerbrillen, Laser-Augenschutz mit sieben Wellenlängen
- NAVY MIL-S-29594 (1)-1993 Brillen, Fliegerbrillen, Laser-Augenschutz mit sieben Wellenlängen
- NAVY MIL-S-29594-1992 Brillen, Fliegerbrillen, Laser-Augenschutz mit sieben Wellenlängen
- NAVY MIL-PRF-29580 C-1998 FLIEGERBRILLE, MEHRWELLENLÄNGEN-LASERSCHUTZ, EDU-5/P (MIT ETUI)
- NAVY MIL-PRF-29610-1996 VISIERANORDNUNG, LASERSCHUTZ MIT MEHREREN WELLENLÄNGEN, FLIEGER
- NAVY MIL-V-29591 NOTICE 1-1997 VISIERBAUGRUPPE, AVIATOR, SIEBEN-WELLEN-LASERSCHUTZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- NAVY MIL-V-29591-1992 VISIERBAUGRUPPE, AVIATOR, SIEBEN-WELLEN-LASERSCHUTZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Femtosekunden-Laserwellenlänge
- GJB 8152-2013 Messmethode für das zeitliche Profil eines Sub-Nanosekunden-Laserpulses durch die Streak-Kamera
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Femtosekunden-Laserwellenlänge
- KS B 8400-1-2010 Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserinterferometer zur Wegmessung – Teil 1: Prüfverfahren für die Frequenzstabilität frequenzstabilisierter Dauerstrichlaser
- KS B 8400-1-2015 Laser und laserbezogene Geräte – Prüfverfahren für Laserinterferometer zur Wegmessung – Teil 1: Prüfverfahren für die Frequenzstabilität frequenzstabilisierter Dauerstrichlaser
American Society for Testing and Materials (ASTM), Femtosekunden-Laserwellenlänge
- ASTM G178-16 Standardverfahren zur Bestimmung des Aktivierungsspektrums eines Materials (Wellenlängenempfindlichkeit gegenüber einer Belichtungsquelle) unter Verwendung des Sharp Cut-On-Filters oder der spektrografischen Technik