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Empfänglichkeit

Für die Empfänglichkeit gibt es insgesamt 22 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Empfänglichkeit die folgenden Kategorien: Optoelektronik, Lasergeräte, Solartechnik, sensorische Analyse, Metrologie und Messsynthese.


National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Empfänglichkeit

  • JJF 1655-2017 Kalibrierungsspezifikation für Solarzellen: Spektrale Empfindlichkeit
  • JJF 1150-2006 Kalibrierungsspezifikation für relative spektrale Empfindlichkeit
  • JJF 2064-2023 Kalibrierungsspezifikation für Mehrfach-GaAs-Solarzellen – Spektrale Empfindlichkeit

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Empfänglichkeit

  • JJG 685-1990 Verifizierungsregelung der relativen spektralen Empfindlichkeit für fotoelektrische Detektoren

Professional Standard - Electron, Empfänglichkeit

  • SJ 2354.6-1983 Methode zur Messung der Empfindlichkeit von PIN- und Avalanche-Fotodioden
  • SJ 20722.1-1998 Detailspezifikation für schnell ansprechende Temperaturwandler für Typ CW-DZ-001

British Standards Institution (BSI), Empfänglichkeit

  • BS EN 60904-8-1:2017 Photovoltaikgeräte – Messung der spektralen Empfindlichkeit von Mehrfach-Photovoltaikgeräten (PV).

International Electrotechnical Commission (IEC), Empfänglichkeit

  • IEC 60904-8:2014 Photovoltaikgeräte – Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit eines Photovoltaikgeräts (PV).
  • IEC 61853-2:2016 Leistungsprüfung und Energiebewertung von Photovoltaikmodulen (PV) – Teil 2: Messungen der spektralen Empfindlichkeit, des Einfallswinkels und der Modulbetriebstemperatur

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Empfänglichkeit

  • EN 60904-8:2014 Photovoltaikgeräte – Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit eines Photovoltaikgeräts (PV).
  • EN 60904-8-1:2017 Photovoltaik-Geräte – Teil 8-1: Messung der spektralen Empfindlichkeit von Mehrfach-Photovoltaik-Geräten (PV).
  • EN 61853-2:2016 Leistungsprüfung und Energiebewertung von Photovoltaikmodulen (PV) – Teil 2: Messungen der spektralen Empfindlichkeit, des Einfallswinkels und der Modulbetriebstemperatur

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Empfänglichkeit

  • JIS C 8904-8:2019 Photovoltaikgeräte – Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit eines Photovoltaikgeräts (PV).

AENOR, Empfänglichkeit

  • UNE-EN 60904-8:2015 Photovoltaikgeräte – Teil 8: Messung der spektralen Empfindlichkeit eines Photovoltaikgeräts (PV).
  • UNE-EN 61853-2:2017 Leistungsprüfung und Energiebewertung von Photovoltaikmodulen (PV) – Teil 2: Messungen der spektralen Empfindlichkeit, des Einfallswinkels und der Modulbetriebstemperatur

ES-UNE, Empfänglichkeit

  • UNE-EN 60904-8-1:2018 Photovoltaik-Geräte – Teil 8-1: Messung der spektralen Empfindlichkeit von Mehrfach-Photovoltaik-Geräten (PV).

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Empfänglichkeit

  • GB/T 39501-2020 Sensorische Analyse – Richtlinien für die Verwendung quantitativer Antwortskalen

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Empfänglichkeit

  • ST 2065-2:2012 ST 2065-2:2012 – SMPTE-Standard – Academy Printing Density (APD) – Spektrale Empfindlichkeiten, Referenzmessgerät und Spektralberechnung
  • ST 2065-2:2020 ST 2065-2:2020 – SMPTE-Standard – Academy Printing Density (APD) – Spektrale Empfindlichkeiten, Referenzmessgerät und Spektralberechnung

German Institute for Standardization, Empfänglichkeit

  • DIN 43771:1989-12 Messung und Steuerung; elektrische Temperatursensoren; schnell ansprechende Thermometer / Hinweis: Wird durch DIN 43735-3 (2005-04) ersetzt.

Association Francaise de Normalisation, Empfänglichkeit

  • NF C57-113-2*NF EN 61853-2:2017 Leistungsprüfung und Energiebewertung von Photovoltaikmodulen (PV) – Teil 2: Messungen der spektralen Empfindlichkeit, des Einfallswinkels und der Modulbetriebstemperatur

RU-GOST R, Empfänglichkeit

  • GOST R 8.864-2013 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Absolute spektrale Empfindlichkeit der Detektoren im Wellenlängenbereich 0,120-0,400 nm. Messverfahren




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