Feldelektronenmikroskop

Für die Feldelektronenmikroskop gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Feldelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: medizinische Ausrüstung, Optische Ausrüstung, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Film, Glas, Solartechnik, Motorräder und motorisierte Fahrräder, Chemische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Straßenfahrzeuggerät, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, analytische Chemie, Batterien und Akkus, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Struktur und Strukturelemente, Metrologie und Messsynthese, Astronomie, Geodäsie, Geographie, Schutzausrüstung, Sportausrüstung und -anlagen, Textilprodukte, Bodenbelag ohne Stoff, Mikrobiologie, Anwendungen der Informationstechnologie, Stahlprodukte, Drucktechnik, Telekommunikationsendgeräte, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, erziehen, Organisation und Führung von Unternehmen (Enterprises), Längen- und Winkelmessungen, Wortschatz, Elektronische Komponenten und Komponenten, Verbrennungsmotoren für Straßenfahrzeuge, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Luftqualität, Optoelektronik, Lasergeräte, Umfangreiche elektronische Komponenten, Milch und Milchprodukte, Wasserbau, Zerstörungsfreie Prüfung, Prüfung von Metallmaterialien, Nichteisenmetalle, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Farben und Lacke, technische Zeichnung, fotografische Fähigkeiten, Elektronische Anzeigegeräte, Apotheke, Textilfaser, Verbundverstärkte Materialien, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, Baumaterial, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Land-und Forstwirtschaft, Physik Chemie, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Plastik, Unterhaltungsausrüstung, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Finanzen, Banken, Währungssystem, Versicherungen.

国家食品药品监督管理局, Feldelektronenmikroskop

YY/T 1587-2018 Medizinisches Endoskop, elektronisches Endoskop

British Standards Institution (BSI), Feldelektronenmikroskop

BS ISO 19012-1:2013 Mikroskope. Bezeichnung von Mikroskopobjektiven. Ebenheit des Feldes/Plans
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
BS EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen. Kommerzielle Informationen
BS EN ISO 10685-2:2012 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen. Kommerzielle Informationen
BS EN ISO 10685-3:2012 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen. Technische Informationen
BS EN ISO 10685-1:2011 Augenoptik. Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen. Produktidentifikation und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
BS EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
BS ISO 19056-2:2019 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
BS EN 60601-2-18:1997 Medizinische elektrische Geräte – Besondere Anforderungen an die Sicherheit – Spezifikationen für endoskopische Geräte – Abschnitt 2.18: Spezifikationen für endoskopische Geräte
23/30451616 DC BS EN IEC 62862-4-2. Solarthermische Kraftwerke – Teil 4-2. Heliostat-Feldsteuerungssystem für Solarturmkraftwerke
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 14490-9:2019 Optik und Photonik. Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Prüfverfahren für Feldkrümmung
BS ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
PD ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
15/30292710 DC BS ISO 19214. Richtlinien zur Bestimmung der Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 13794:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 10312:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
BS EN 60601-2-18:2015 Medizinische elektrische Geräte. Besondere Anforderungen an die grundlegende Sicherheit und wesentliche Leistungsfähigkeit endoskopischer Geräte

Professional Standard - Medicine, Feldelektronenmikroskop

YY/T 0619-2017 Medizinisches Endoskop, starres Koagulations-Schneid-Endoskop
YY 0619-2007 Starres Resektososkop
YY 0498.2-2004 Laryngoskopische Beschläge – Teil 2: Elektrische Miniaturlampen – Gewinde und Fassungen für herkömmliche Spatel

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Feldelektronenmikroskop

KS B ISO 19012-1:2011 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS B ISO 19012-1:2016 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS R 4066-2013 RÜCKBLICKSPIEGEL FÜR MOTORRAD
KS C 8517-2021 Belüftete prismatische sekundäre Einzelzellen aus Nickel-Cadmium
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS V 8415-1979 Linsen für maritime Morsesignallampen
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS I 4036-2019 Testmethoden für wiederaufbereitete elektrische Seitenspiegel für Personenkraftwagen
KS H ISO 5764:2021 Milch – Bestimmung des Gefrierpunkts – Thermistor-Kryoskop-Methode
KS D 2713-2006 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 8544-2016 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS I ISO 10312:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 13794:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS P 7449-2-2008 Laryngoskopische Anschlüsse – Teil 2: Elektrische Miniaturlampen – Schraubgewinde und Fassungen für herkömmliche Spatel
KS I ISO 10312-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS P 7449-2-2004 Laryngoskopische Anschlüsse – Teil 2: Elektrische Miniaturlampen – Schraubgewinde und Fassungen für herkömmliche Spatel
KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie

Military Standards (MIL-STD), Feldelektronenmikroskop

DOD GG-O-770 D-1986 OTOSKOP- UND OPHTHALMOSKOP-SET, BATTERIETYP [Verwendung anstelle von: DOD GG-O-00770 C]
DOD A-A-54222-1990 WASSERBAD, ELEKTRISCH (MONTAGE DES MIKROTOM-GEWEBEPROBENABSCHNITTS)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB44/T 1529.1-2015 Mikroskopobjektivbezeichnung Teil 1: Flachfeld
DB44/T 2081-2017 Technische Anforderungen für die elektronische Kolposkopie
DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

RU-GOST R, Feldelektronenmikroskop

GOST 9039-1973 Anamorphotische Vorsätze für Objektive von Kinoprojektoren. Spezifikationen
GOST 9040-1981 Anamorphotische Filmzubehörteile und anamorphotische Vorsätze für Kameraobjektive für 35-mm-Breitbildfilme. Allgemeine technische Daten
GOST R 51075-2017 Fernsehvergrößerungsgeräte. Allgemeine Spezifikation
GOST 3840-1979 Projektionsobjektive. Spezifikationen
GOST 8998-1974 Linsen für Telefonzentralen. Spezifikationen
GOST 21006-1975 Elektronenmikroskope. Begriffe, Definitionen und Buchstabensymbole
GOST R 56279-2014 Medizinische elektrische Geräte. Endoskopische Gestelle. Spezifikationen für staatliche Einkäufe
GOST R 56168-2014 Medizinische elektrische Geräte. Operationsmikroskop. Spezifikationen für staatliche Einkäufe
GOST 3933-1975 Objektive für Foto- und Filmkameras. Verbundmaße für Zubehör
GOST R 56278-2014 Medizinische elektrische Geräte. Videoendoskopische Komplexe mit Anlagen zur Ultraschall- und Fluoreszenzendoskopie. Spezifikationen für staatliche Einkäufe
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST 24724-1981 Objektive für Kameras. Methode zur Bestimmung des Streukoeffizienten
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 56280-2014 Medizinische elektrische Geräte. Neurochirurgische OP-Racks mit einem Satz Endoskope. Spezifikationen für staatliche Einkäufe
GOST R 50267.18-1994 Medizinische elektrische Geräte. Teil 2. Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte

Group Standards of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

T/ZZB 2870-2022 Elektrochromer, blendfreier Rückspiegel
T/CSEE 0193-2021 Technischer Code für die Gestaltung der Heliostat-Feldstromverteilung von Solarkraftwerken
T/ZZB 1865-2020 Elektrischer Rückspiegel-Treiber für Automobile
T/CSTM 00162-2020 Kalibrierungsmethoden für Transmissionselektronenmikroskope
T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/SHDSGY 101-2022 Primärer Einsatz von elektronischer Blase und Pyeloskop
T/GDAQI 111-2023 Bewertungsmethode für die Schärfentiefe eines medizinischen elektronischen Endoskops
T/GDAQI 94-2022 Bewertungsmethode für die Grenzauflösung medizinischer elektronischer Endoskope
T/CEEIA 238-2016 Spezifikationen für Spiegelplattenschmiedeteile für große Wasserkraftgeneratoren
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/CNTAC 21-2018 Testmethode zur Identifizierung von Graphenmaterialien in Fasern – Transmissionselektronenmikroskop-Methode (TEM).
T/TIAA 014-2018 Optische Messmethoden von Anzeigegeräten für elektronische Rückspiegel von Fahrzeugen
T/GZBC 71-2023 Technische Spezifikation für die umweltfreundliche Herstellung von medizinischen Einweg-Videoendoskopen
T/CSTM 00166.3-2020 Charakterisierung von Graphenmaterialien Teil 3 Transmissionselektronenmikroskop
T/ZMDS 10012-2022 Methoden zur Plug-and-Pull-Lebensdauerprüfung für medizinische elektronische Endoskope mit geteilter Struktur
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren
T/IAC 19.4-2019 Fahrzeugtest-Passungsspezifikation für Kfz-Ersatzteilteile – Teil 4: Baugruppe und Teile der Außenrückspiegel von Fahrzeugen

Professional Standard - Machinery, Feldelektronenmikroskop

JB/T 9426.4-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 4: Bajonett-Objektivanschluss (Typ Ｉ) für 35-mm-Filmkameraobjektive
JB/T 9426.5-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 5: Objektivanschluss mit Gewinde (Typ C) für 16-mm-Filmkameraobjektive
JB/T 9426.2-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 2: Serie von Filmkameraobjektiven
JB/T 7398.10-1994 Mikroskop - Dunkelfeldgerät
JB/T 9426.6-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 6: Verfahren zur Bestimmung verschiedener Funktionen von Objektiven für Filmkameras
JB/T 5480-1991 Membran des Elektronenmikroskops
JB/T 5481-1991 Lampenfaden des Elektronenmikroskops
JB/T 9426.1-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 1: Festbrennweite und Zoomobjektiv für Filmkameras
JB/T 1787-2006 Technische Spezifikation des 16-mm-Filmprojektionsobjektivs
JB/T 9352-1999 Testmethode für das Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5383-1991 Spezifikation für Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 1786-2005 Technische Spezifikation des 35-mm-Filmprojektionsobjektivs
JB/T 1786-1991 Technische Bedingungen für 35-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 1787-1991 Spezifikationen für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 1786-2016 Technische Daten des 35-mm-Filmprojektionsobjektivs
JB/T 9409-2010 Verfahren zur Bestimmung verschiedener Funktionen von Bewegungsbild-Projektionsobjektiven
JB/T 7023-2014 Schubläufer-Schmiedeteile für hydraulische Generatoren. Technische Spezifikation
JB/T 9442-2015 Spezifikationen für Spiegel von elektrostatischen Kopiergeräten
JB/T 9442-1999 Spezifikation des Spiegels für elektrostatische Kopiergeräte
JB/T 7023-2002 Spezifikation für Schmiedeteile von Laufplatten für Hydrogeneratoren
JB/T 9407-2010 Auflösungstestziel für Filmprojektionsobjektive
JB/T 7023-1993 Spezifikationen für Spiegelplattenschmiedeteile für Wasserkraftgeneratoren
JB/T 5584-1991 Testmethode der Transmissionselektronenmikroskop-Verstärkung
JB/T 5585-1991 Testmethode für die Auflösung eines Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5378-2007 Technische Spezifikation des anamorphotischen Vorsatzes für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 9408-2010 Technische Spezifikation des anamorphotischen Vorsatzes für die 35-mm-Filmprojektion
JB/T 5378-1991 Technische Bedingungen für die anamorphotische Vorsatzlinse für die 16-mm-Filmprojektion
JB/T 12112-2015 Spezifikationen für Spiegel digitaler Kinoprojektoren
JB/T 11851-2014 35-mm-Filmprojektionsobjektiv mit Einzelspule für 3D-Filme.Spezifikation
JB/T 7467-2008 Technische Spezifikation der Sucher für 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
JB/T 7467-1994 Spezifikationen für Spiegel von 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode
JB/T 9426.3-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 3: Entfernungs- und Blendenskalenmarkierungen
JB/T 9429-1999 Eigenständiger, polarisierter Breitbild-Stereo-Filmprojektions-Umlenkspiegel – Technische Daten

International Organization for Standardization (ISO), Feldelektronenmikroskop

ISO 19012-1:2011 Mikroskope - Bezeichnung von Mikroskopobjektiven - Teil 1: Bildfeldebene/Plan
ISO 19012-1:2013 Mikroskope.Bezeichnung von Mikroskopobjektiven.Teil 1: Feldebene/Plan
ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
ISO 10685-3:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
ISO 10685-2:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz
ISO 10685-1:2011 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 7376-2:1984 Laryngoskopische Beschläge; Teil 2: Elektrische Miniaturlampen; Schraubengewinde und Muffen
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 7376-2:1997 Laryngoskopische Beschläge – Teil 2: Miniatur-Elektrolampen – Schraubgewinde und Fassungen für herkömmliche Spatel
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 10312:1995 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 13794:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 10312:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17123-4:2012 Optik und optische Instrumente - Feldverfahren zur Prüfung geodätischer und vermessungstechnischer Instrumente - Teil 4: Elektrooptische Entfernungsmesser (EDM-Messungen zu Reflektoren)

Professional Standard - Commodity Inspection, Feldelektronenmikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 1840-2006 Methode zum Nachweis von Pflanzenviren mittels Immunelektronenmikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM

工业和信息化部/国家能源局, Feldelektronenmikroskop

JB/T 13292-2017 Abmessungen von 35-mm- und 70-mm-Filmprojektionsobjektiven und Objektivhaltern
JB/T 1787-2017 Technische Bedingungen für 16-mm-Filmprojektionsobjektive
JB/T 5378-2017 Technische Bedingungen des anamorphotischen Zusatzobjektivs für die 16-mm-Filmprojektion

未注明发布机构, Feldelektronenmikroskop

DIN 28120 E:2020-05 Runde Schauglasarmaturen mit Schaugläsern im Hauptstromanschluss
BS EN ISO 10685-2:2016(2017) Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen, Teil 2: Kommerzielle Informationen
DIN EN ISO 10685-2 E:2015-09 Electronic catalog and identification of ophthalmic optical spectacle frames and sunglasses Part 2: Commercial information (Draft)
DIN EN ISO 10685-2 E:2011-08 Electronic catalog and identification of ophthalmic optical spectacle frames and sunglasses Part 2: Commercial information (Draft)
DIN EN ISO 10685-3 E:2011-08 Electronic catalog and identification of ophthalmic optical spectacle frames and sunglasses Part 3: Technical information (draft)
BS 4793:1972(2011) Empfehlungen zur Spezifikation der optischen Leistung von Objektiven für Fernsehkameras
BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips

German Institute for Standardization, Feldelektronenmikroskop

DIN 28120:2021-04 Runde Schauglasarmaturen mit Schaugläsern im Hauptstromanschluss
DIN 28120:2021 Runde Schauglasarmaturen mit Schaugläsern im Hauptstromanschluss
DIN EN 13745:2004-05 Oberflächen für Sportflächen - Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades; Deutsche Fassung EN 13745:2004
DIN EN ISO 10685-3:2013-03 Augenoptik - Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen - Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012); Deutsche Fassung EN ISO 10685-3:2012
DIN EN ISO 10685-1:2012-03 Augenoptik - Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen - Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011); Deutsche Fassung EN ISO 10685-1:2011
DIN 13090-4:1986-12 Konische Anschlüsse für medizinische Geräte; Verschlussbeschläge für Resektoskope
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 10685-2:2016-11 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen (ISO 10685-2:2016, korrigierte Fassung 2016-05-15); Deutsche Fassung EN ISO 10685-2:2016
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011); Deutsche Fassung EN ISO 10685-1:2011
DIN EN ISO 10685-2:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen (ISO 10685-2:2012); Deutsche Fassung EN ISO 10685-2:2012
DIN EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012); Deutsche Fassung EN ISO 10685-3:2012
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN 15560-2:1996 Projektoren für Film- und Fernsehstudios, Bühnen- und Fotoanwendungen – Teil 2: Fresnel-Linsen, Spezifikationen
DIN EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen (ISO 10685-2:2016, korrigierte Fassung 2016-05-15); Deutsche Fassung EN ISO 10685-2:2016
DIN ISO 14490-9:2021-01 Optik und Photonik – Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Teil 9: Prüfverfahren für Feldkrümmung (ISO 14490-9:2019)

U.S. Military Regulations and Norms, Feldelektronenmikroskop

ARMY MIL-P-45602 B VALID NOTICE 2-2013 Periskop, Batteriebefehl: M65
ARMY MIL-C-62205 B NOTICE 2-1995 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER
ARMY MIL-C-62205 B (1)-1993 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER
ARMY MIL-C-62205 B VALID NOTICE 1-1987 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER
ARMY MIL-C-62205 B-1981 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743417 SPIEGEL/A-TRIGGER UND PUFFER

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Feldelektronenmikroskop

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS B 7166:1983 Reflektor für 35-mm-Kinoprojektoren
JIS B 7287-2:2017 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
JIS B 7287-3:2017 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS B 7287-1:2015 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS T 0601-2-18:2005 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-18: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte
JIS T 7231-2:1998 Laryngoskopische Beschläge – Teil 2: Elektrische Miniaturlampen – Gewinde und Fassungen für herkömmliche Spatel
JIS B 7263-9:2023 Optik und Photonik – Prüfverfahren für Teleskopsysteme – Teil 9: Prüfverfahren für Feldkrümmung

Professional Standard - Automobile, Feldelektronenmikroskop

QC/T 965-2014 Fahrer von elektrischen Rückspiegeln für Kraftfahrzeuge

Association of German Mechanical Engineers, Feldelektronenmikroskop

DVS 2801-1968 Widerstandsschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)
DVS 2803-1974 Elektronenstrahlschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)
VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

HU-MSZT, Feldelektronenmikroskop

MSZ 6575/7.lap-1961 Spiegelstandard-Prüfung der galvanischen Schicht
MSZ 20586-1980 Symbol für Endoskop und Batterie bei der Arbeit
MNOSZ 14971-1953 Chirurgische Instrumente, elektronisches Ophthalmoskop (trockene Umgebung)

KR-KS, Feldelektronenmikroskop

KS B ISO 19012-1-2016 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS H ISO 5764-2021 Milch – Bestimmung des Gefrierpunkts – Thermistor-Kryoskop-Methode
KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Feldelektronenmikroskop

GB/T 38010.2-2021 Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
GB/T 38010.3-2021 Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
GB/T 38010.1-2019 Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 35098-2018 Mikrostrahlanalyse – Transmissionselektronenmikroskopie – Morphologische Identifizierungsmethode von Pflanzenviren durch Transmissionselektronenmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Feldelektronenmikroskop

NF C58-622:1996 Versiegelte, prismatische, wiederaufladbare Nickel-Cadmium-Einzelzellen.
NF EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Katalog und Identifizierung von Brillen- und Sonnenbrillenfassungen – Teil 1: Produktidentifizierung und elektronische Kataloghierarchie
NF P90-123*NF EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
NF S24-012:1958 KINEMATOGRAPHIE. MONTAGE VON KAMERAOBJEKTIVEN.
NF S11-560-2:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
NF S11-560-2*NF EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF S11-560-3*NF EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
NF S11-560-1*NF EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF X43-067*NF ISO 10312:2020 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-054*NF ISO 13794:2020 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
FD T16-209:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF C74-318/A1:2006 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-18: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF ISO 13794:2020 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transfer-Transmissionselektronenmikroskopie
NF ISO 10312:2020 Umgebungsluft – Dosierung der Luftfasern – Methode der elektronischen Mikroskopie zur Übertragung durch direkte Übertragung
NF C74-318:1997 Medizinische elektrische Geräte. Teil 2: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte.
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.

JSAE - Society of Automotive Engineers of Japan@ Inc., Feldelektronenmikroskop

JASO T009-1994 Messverfahren für das Feld eines Rückspiegels für Motorräder

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

International Telecommunication Union (ITU), Feldelektronenmikroskop

ITU-R REPORT BT.2017-1998 Stereoskopisches Fernsehen MPEG-2 Multi-View-Profil 7 Seiten
ITU-R INFORME BT.2017 SPANISH-1998 Stereoskopisches Fernsehen MPEG-2 Multi-View-Profil
ITU-R RAPPORT BT.2017 FRENCH-1998 Stereoskopisches Fernsehen MPEG-2 Multi-View-Profil

United States Navy, Feldelektronenmikroskop

NAVY MIL-L-22257-1959 LINSENSYSTEM, FERNSEHER MARK 2 MOD 0
NAVY MIL-T-21867 D-1994 LKW, HEBEBÜHNE, GABEL, TELESKOPMASTEN, ELEKTRISCH, SELBSTFAHREND (WALKIE)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

JJG(地质) 1016-1990 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG(教委) 12-1992 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Education, Feldelektronenmikroskop

JY/T 011-1996 Allgemeine Prinzipien der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0581-2020 Allgemeine Regeln für Analysemethoden der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Feldelektronenmikroskop

GB/T 42557-2023 Technische Spezifikation für den elektromagnetischen Umweltschutz von Radioteleskopen
GB 7667-1996 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB 7667-2003 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 18735-2002 Allgemeine Spezifikation nanometerdünner Standardproben für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie (AEM/EDS)
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB/T 21637-2008 Methode zur morphologischen Identifizierung des Coronavirus mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 27510-2011 Fresnel-Linse in DLP-, CRT-, LCOS- und LCD-Projektionsfernsehbildschirmen
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 18735-2014 Mikrostrahlanalyse. Allgemeiner Leitfaden zur Spezifikation nanometerdünner Referenzmaterialien für das analytische Transmissionselektronenmikroskop (AEM/EDS)
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 28044-2011(英文版) Allgemeiner Leitfaden zur Nachweismethode für die biologische Wirkung von Nanomaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB 9706.19-2000 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte
GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
GB/T 28044-2011 Allgemeiner Leitfaden zur Nachweismethode für die biologische Wirkung von Nanomaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17507-1998 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die Röntgen-EDS-Mikroanalyse im Elektronenmikroskop
GB/T 18873-2002 Allgemeine Spezifikation des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) – quantitative Mikroanalyse mit röntgenenergiedispersivem Spektrum (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 18873-2008 Allgemeiner Leitfaden zur quantitativen Mikroanalyse mit Transmissionselektronenmikroskop (TEM) und energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 42208-2022 Nanotechnologien – Messung der Nanopartikelgröße in Mehrphasensystemen – Bildmethode der Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie

ZA-SANS, Feldelektronenmikroskop

SANS 1400:1993 Ausrüstung (einschließlich Augengläser) zum Schutz von Augen, Gesicht und Hals vor nichtionisierender Strahlung, die beim Schweißen und ähnlichen Arbeiten entsteht – Schweißhelme, Handschutz, Schutzbrillen und Schweißbrillen
SANS 1632-3:2005 Batterien Teil 3: Prismatische Nickel-Cadmium-Zellen und -Batterien vom belüfteten Typ

TIA - Telecommunications Industry Association, Feldelektronenmikroskop

TIA-573C000-1998 Abschnittsspezifikation für feldportable optische Mikroskope
TIA/EIA-573CA00-1998 Blanko-Bauartspezifikation für feldportable optische Mikroskope
EIA-546A000-1989 Abschnittsspezifikation für ein tragbares optisches Feldmikroskop zur Inspektion von optischen Wellenleitern und verwandten Geräten

Danish Standards Foundation, Feldelektronenmikroskop

DS/EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
DS/EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen
DS/EN ISO 10685-2:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
DS/EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
DS/ISO 7376-2:1987 Laryngoskopische Beschläge. Teil 2: Elektrische Miniaturlampen. Schraubengewinde und Muffen
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DS/EN 60601-2-18/A1:2001 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte
DS/EN 60601-2-18:1998 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Lithuanian Standards Office , Feldelektronenmikroskop

LST EN 13745-2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
LST EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012)
LST EN ISO 10685-2:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen (ISO 10685-2:2012)
LST EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011)
LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

AENOR, Feldelektronenmikroskop

UNE-EN 13745:2006 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
UNE-EN ISO 10685-3:2013 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012)
UNE-EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011)
UNE 77253:2003 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
UNE-EN 60601-2-18:1997 MEDIZINISCHE ELEKTRISCHE GERÄTE. TEIL 2: BESONDERE ANFORDERUNGEN AN DIE SICHERHEIT ENDOSKOPISCHER GERÄTE.
UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
UNE-EN 60601-2-18/A1:2002 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-18: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte.
UNE 77236:1999 UMGEBUNGSLUFT. BESTIMMUNG VON ASBESTFASERN. VERFAHREN DER DIREKTÜBERTRAGUNGSELEKTRONENMIKROSKOPIE.

工业和信息化部, Feldelektronenmikroskop

JB/T 13803-2020 Technische Bedingungen des Objektivs für die digitale Kinoprojektion
YB/T 4676-2018 Analyse ausgefällter Phasen in Stahl mittels Transmissionselektronenmikroskopie
JB/T 7467-2020 Technische Bedingungen für 35-mm- und 70-mm-Filmprojektoren
SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie
YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie
JB/T 9429-2021 Technische Bedingungen des Umlenkspiegels für die polarisierte stereoskopische Filmprojektion auf einer Breitbildleinwand

CEN - European Committee for Standardization, Feldelektronenmikroskop

EN ISO 10685-2:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen

European Committee for Standardization (CEN), Feldelektronenmikroskop

EN ISO 10685-3:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 3: Technische Informationen (ISO 10685-3:2012)
EN 13745:2004 Oberflächen für Sportflächen – Bestimmung des spiegelnden Reflexionsgrades
EN ISO 10685-1:2011 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011)
EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen
EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

ES-UNE, Feldelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 10685-2:2016 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifikation von Brillengestellen und Sonnenbrillen – Teil 2: Kommerzielle Informationen (ISO 10685-2:2016, korrigierte Fassung 2016-05-15)
UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

CZ-CSN, Feldelektronenmikroskop

CSN 19 8039-1995 Filmkunst. Aufbewahrungsteil für den Objektivbehälter. Spezifikation
CSN 19 8030-1995 Cinema Art Abstandssensorobjektiv für 16-mm-Film

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Feldelektronenmikroskop

GB/T 34831-2017 Nanotechnologien – Elektronenmikroskopische Bildgebung von Edelmetall-Nanopartikeln – Ringförmige Dunkelfeld-Bildgebungsmethode mit großem Winkel
GB/T 33886-2017 Instrumente zur zerstörungsfreien Prüfung – Industrieller elektronischer endoskopischer Detektor
GB/T 33234-2016 Methode zur Prüfung des Reflexionsgrads eines reflektierenden Glasspiegels für ein konzentriertes Solarstromsystem
GB/T 33235-2016 Hagelschlagtestverfahren für reflektierende Glasspiegel für konzentrierte Solarenergie
GB/T 34331-2017 Testmethode des Cucumber-Green-Mottle-Mosaik-Virus mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 34168-2017 Testmethode für die biologische Wirkung von Gold- und Silber-Nanopartikelmaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop

Defense Logistics Agency, Feldelektronenmikroskop

DLA MIL-L-3661/26 A VALID NOTICE 4-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen, staubdichte Linse (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), Stil LC26
DLA MIL-L-3661/27 A VALID NOTICE 4-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen, staubdichte Linse (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), Stil LC27
DLA MIL-L-3661/28 B VALID NOTICE 3-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen, (elektromagnetische Interferenztyp) Staublichtlinsen, Stil LC28
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 2-2001 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen (flach) (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), staubdichte Linse, Stil LC25
DLA MIL-L-3661/25 A VALID NOTICE 4-2008 Lampenfassungen, Anzeigeleuchten, Anzeigeleuchtengehäuse und Anzeigeleuchtenlinsen (flach) (Typ mit elektromagnetischer Interferenz), staubdichte Linse, Stil LC25
DLA SMD-5962-89438 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, 10-NICHT-INVERTIERENDES REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM

Professional Standard - Business, Feldelektronenmikroskop

SB/T 11145-2015 Aufbau- und Managementspezifikation des optischen Handelsmarktes

American Society for Testing and Materials (ASTM), Feldelektronenmikroskop

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D7201-06(2020) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM D7201-06(2011) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D7200-06 Standardpraxis für die Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, in Bergwerken und Steinbrüchen mittels Phasenkontrastmikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E3143-18a Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18 Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E3143-18b Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM D3849-13 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-14 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM D3849-95a(2000) Standardtestmethode für Ruß – Primäraggregatabmessungen aus elektronenmikroskopischer Bildanalyse
ASTM D3849-07 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM D3849-22 Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM B979-12(2018) Standardspezifikation für die nicht spiegelnde (NS) Oberflächenbeschaffenheit von elektrischen Freileitern aus Aluminium
ASTM E3143-18b(2023) Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM B979-12 Standardspezifikation für die nicht spiegelnde (NS) Oberflächenbeschaffenheit von elektrischen Freileitern aus Aluminium
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D3849-02 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-04 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM D3849-14a Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard-Ships, Feldelektronenmikroskop

CB 1383-2008 Spezifikation für ein U-Boot-Periskop-TV-Gerät mit geringer Lichtstärke

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Feldelektronenmikroskop

IPC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IPC TM-650 2.6.22-1995 Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten [Ersetzt: IPC TM-650 2.6.22]

GOSTR, Feldelektronenmikroskop

GOST 17175-1982 Objektive für Fotografie, Film, Fernsehen. Reihe numerischer Werte relativer Aperturen
GOST R 58566-2019 Optik und Photonik. Linsen für optische elektronische Systeme. Testmethoden

PL-PKN, Feldelektronenmikroskop

PN T04880-1972 Elektronische Röhren Oszilloskop- und Radaroskopröhren Methoden der elektrischen und optischen Prüfung

American National Standards Institute （ANSI), Feldelektronenmikroskop

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Blanko-Bauartspezifikation für feldportable optische Mikroskope
ANSI C78.1407-2004 Elektrische Lampen – Kondensator-Reflektor-Projektionslampen mit vierpoligem Vorfokussockel – Abmessungen

YU-JUS, Feldelektronenmikroskop

JUS M.L2.108-1994 Land- und forstwirtschaftliche Radtraktoren - Rückspiegel - Montage

Professional Standard - Petroleum, Feldelektronenmikroskop

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Feldelektronenmikroskop

SMPTE 76-1996 Filmkameras – Objektivanschlüsse mit 16- und 8-mm-Gewinde
SMPTE ST 76-1996 Filmkameras – Objektivanschlüsse mit 16- und 8-mm-Gewinde
SMPTE ST 243M-1993 Filmausrüstung – 35- und 70-mm-Projektionsobjektive und Halterungen
SMPTE 243M-1993 Filmausrüstung – 35- und 70-mm-Projektionsobjektive und Halterungen Überarbeitung von ANSI/SMPTE 243-1989

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Feldelektronenmikroskop

JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten

International Electrotechnical Commission (IEC), Feldelektronenmikroskop

IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IEC 60601-2-18:1996 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte
ISO TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
IEC 60601-2-18/AMD1:2000 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-18: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte; Änderung 1

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB61/T 1207-2018 Inspektionsspezifikation für im Einsatz befindliche medizinische elektronische Endoskopsysteme

国家能源局, Feldelektronenmikroskop

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben
NB/T 10831-2021 Technische Bedingungen für große Schmiedeteile von Hydrogenerator-Spiegelplatten

BR-ABNT, Feldelektronenmikroskop

ABNT NBR ISO 10685-1:2020 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen, Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog

Indonesia Standards, Feldelektronenmikroskop

SNI 04-6628-2001 Oszilloskope und Spitzenvoltmeter für Impulsprüfungen

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, Feldelektronenmikroskop

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

Professional Standard - Public Safety Standards, Feldelektronenmikroskop

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Feldelektronenmikroskop

GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie

SE-SIS, Feldelektronenmikroskop

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Feldelektronenmikroskop

ECA 448-20-1989 Methode 20 Testmethode für elektromechanische Komponenten Testmethode für die Berührungstemperatur der Linsenoberfläche
ECA EIA-448-20-1989 Methode 20 Testmethode für elektromechanische Komponenten Testmethode für die Berührungstemperatur der Linsenoberfläche

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

Professional Standard - Electricity, Feldelektronenmikroskop

DL/T 2252-2021 Technische Spezifikationen für das Mirror-Debugging des intelligenten Umspannwerk-Relaisschutzes und der zugehörigen Sekundärausrüstung

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, Feldelektronenmikroskop

DB5106/T 28-2023 Managementpraktiken für faseroptische Laryngoskopiestandorte bei Ausbrüchen von durch die Luft übertragenen Krankheiten

PH-BPS, Feldelektronenmikroskop

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Professional Standard - Aquaculture, Feldelektronenmikroskop

SC/T 7209.3-2007 Diagnoseprotokolle für Mikrozytose von Austern – Teil 3: Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
SC/T 7207.3-2007 Diagnoseprotokolle für Marteiliose der Auster – Teil 3: Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
SC/T 7205.3-2007 Diagnoseprotokolle für Bonamiose von Austern – Teil 3: Transmissionselektronenmikroskopie-Methode

GM Europe, Feldelektronenmikroskop

GME 01202 PART 6-2011 Spiegel/elektrochrome Spiegel (Ausgabe 2; Englisch/Deutsch; Dieser Standard darf nur für aktuelle Projekte angewendet werden. Er wird für alle zukünftigen Projekte abgelöst und durch GMW16157 ersetzt.)
GME 01202 PART 4-2011 Spiegel/Außenspiegel, elektrisch betätigt und beheizbar (Ausgabe 3; Englisch/Deutsch; Diese Norm darf nur für aktuelle Projekte angewendet werden. Sie wird für alle zukünftigen Projekte abgelöst und durch GMW15799 und GMW16157 ersetzt)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Feldelektronenmikroskop

GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Feldelektronenmikroskop

EN 60601-2-18:1996 Medical Electrical Equipment Part 2: Particular Requirements for the Safety of Endoscopic Equipment

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Feldelektronenmikroskop

SMPTE ST 243:1993 ST 243:1993 – SMPTE-Standard – Filmausrüstung – 35- und 70-mm-Projektionsobjektive und Halterungen
SMPTE ST 76:1996 ST 76:1996 – SMPTE-Standard – Filmkameras – 16-mm- und 8-mm-Objektivfassungen mit Gewinde

ES-AENOR, Feldelektronenmikroskop

UNE 26-298-1985 Einheitliche Bestimmungen für Reflektorbaugruppen für Krafträder und Krafträder

Society of Automotive Engineers (SAE), Feldelektronenmikroskop

SAE J1647-1995 Kunststoffmaterialien und Beschichtungen zur Verwendung in oder auf optischen Teilen wie Linsen und Reflektoren von Vorwärtsbeleuchtungsgeräten mit hoher Entladung, die in Kraftfahrzeugen verwendet werden, empfohlene Praxis März 1995

VN-TCVN, Feldelektronenmikroskop

TCVN 7303-2-18-2006 Medizinische elektrische Geräte. Teil 2-18: Besondere Anforderungen an die Sicherheit endoskopischer Geräte

AT-ON, Feldelektronenmikroskop

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

ECIA - Electronic Components Industry Association, Feldelektronenmikroskop

EIA-448-20-1989 Methode 20 Testmethode für elektromechanische Komponenten Testmethode für die Berührungstemperatur der Linsenoberfläche

BE-NBN, Feldelektronenmikroskop

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Feldelektronenmikroskop

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten (Enthält Änderung 1: Januar 2007)

Standard Association of Australia （SAA）, Feldelektronenmikroskop

AS/NZS 3200.2.18:1997 Zulassungs- und Prüfvorschrift - Medizinische elektrische Geräte - Besondere Anforderungen an die Sicherheit - Endoskopische Geräte
AS/NZS IEC 60601.2.18:2015 Besondere Anforderungen an die Grundsicherheit und Grundleistung endoskopischer Geräte für medizinische elektrische Geräte