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Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

Für die Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt gibt es insgesamt 53 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optoelektronik, Lasergeräte, Werkzeugmaschinenausrüstung, Thermodynamik und Temperaturmessung, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte, Chemikalien, Optik und optische Messungen, analytische Chemie, Keramik.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• JIS B 7254:2007 Mikroskope – Vergrößerung

Professional Standard - Machinery, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• JB/T 7398.7-1994 Mikroskop – Objektivrevolver

British Standards Institution (BSI), Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• BS 7012-10.2:1997 Lichtmikroskope - Mindestanforderungen an Stereomikroskope - Hochleistungsmikroskope
• BS ISO 8039:2014 Mikroskope. Werte, Toleranzen und Symbole zur Vergrößerung
• BS 7012-16:2001 Lichtmikroskope - Durchmesser der Wechselokulare
• BS ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik. Mindestanforderungen an Stereomikroskope. Hochleistungsmikroskope
• BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS DD CEN/TS 843-6:2004 Fortschrittliche technische Keramik – Monolithische Keramik – Mechanische Eigenschaften bei Raumtemperatur – Anleitung für fraktografische Untersuchungen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• GB/T 22132-2008 Mikroskope-Durchmesser austauschbarer Okulare
• GB/T 19864.2-2005 Stereomikroskope. Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• GB/T 19864.2-2013 Stereomikroskope. Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E1951-98 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
• ASTM E1951-02 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
• ASTM E1951-01 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
• ASTM E1951-14(2019) Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
• ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM D5770-02 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
• ASTM D5770-96 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
• ASTM D5770-02(2007) Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
• ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten

International Organization for Standardization (ISO), Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• ISO 10937:1997 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Durchmesser der Wechselokulare für Mikroskope mit Tubuslänge 160 mm
• ISO 10937:2000 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Durchmesser austauschbarer Okulare
• ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• ISO 11884-2:1997 Optik und optische Instrumente – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• JJG(教委) 13-1992 Verifizierungsvorschriften für die Hochtemperaturmikroskopie

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops

CZ-CSN, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• CSN 72 1084-1974 Methodik der pyrogenen Mikroskopie anorganischer Substanzen

German Institute for Standardization, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• DIN ISO 10937:2003 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Durchmesser austauschbarer Okulare (ISO 10937:2000)
• DIN ISO 8038-2:2006 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Schraubgewinde für Objektive und zugehörige Objektivrevolver - Teil 2: Schraubgewinde Typ M 25 x 0,75 mm (ISO 8038-2:2001); Englische Fassung von DIN ISO 8038-2:2006
• DIN ISO 8038-1:2006 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Schraubgewinde für Objektive und zugehörige Objektivrevolver - Teil 1: Schraubgewinde Typ RMS (4/5 Zoll x 1/36 Zoll) (ISO 8038-1:1997); Englische Fassung von DIN ISO 8038-1 :2006

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• KS B ISO 10934-2-2011(2021) Optik und optische Instrumente – Vokabular für die Mikroskopie – Teil 2: Fortgeschrittene Techniken in der Lichtmikroskopie
• KS B ISO 10934-2-2011(2016) Optik und optische Instrumente – Vokabular für die Mikroskopie – Teil 2: Fortgeschrittene Techniken in der Lichtmikroskopie
• KS B ISO 11884-2-2011(2016) Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• KS B ISO 11884-2-2011(2021) Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• KS B ISO 11884-2:2011 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
• KS B ISO 8038-2:2006 Optik und optische Instrumente – Gewinde für Mikroskopobjektive und zugehörige Objektivrevolver – Teil 2: Gewindetyp M25×0,75 mm

Defense Logistics Agency, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
• DLA A-A-50207 A-1988 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG

Group Standards of the People's Republic of China, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
• T/CSTM 00799-2023 Bestimmung der Korngröße in Stahl – Hochtemperatur-Laser-Scanning-Konfokalmikroskop-Methode

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• GB/T 34831-2017 Nanotechnologien – Elektronenmikroskopische Bildgebung von Edelmetall-Nanopartikeln – Ringförmige Dunkelfeld-Bildgebungsmethode mit großem Winkel

工业和信息化部, Mikroskop durch Hochleistungsobjektiv ersetzt

• SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

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