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Induktivitätstestmethode

Für die Induktivitätstestmethode gibt es insgesamt 12 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Induktivitätstestmethode die folgenden Kategorien: Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Zerstörungsfreie Prüfung, Baumaterial, Rotierender Motor, Diskrete Halbleitergeräte, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik.


British Standards Institution (BSI), Induktivitätstestmethode

International Electrotechnical Commission (IEC), Induktivitätstestmethode

  • IEC 61196-1-114:2015 Koaxiale Kommunikationskabel – Teil 1-114: Elektrische Prüfverfahren – Prüfung auf Induktivität

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Induktivitätstestmethode

  • KS F 2734-2004 Prüfverfahren zur Erkennung von Bewehrungen durch elektromagnetische Induktion
  • KS C 6567-2004 Pyroelektrischer Infrarotsensor

Indonesia Standards, Induktivitätstestmethode

  • SNI 04-1224-1989 Dreiphasen-Induktionsmotoren mit einer Leistung bis 100 kW, Prüfmethoden

RO-ASRO, Induktivitätstestmethode

  • STAS 7246/8-1974 TESTVERFAHREN FÜR DREIPHASIGE INDUKTIONSMOTOREN Temperaturanstiegstest

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Induktivitätstestmethode

  • IEEE C37.26-2003 Leitfaden für Methoden zur Leistungsfaktormessung für induktive Niederspannungsprüfkreise
  • IEEE C37.26-1971 Standardhandbuch für Methoden zur Leistungsfaktormessung für induktive Niederspannungsprüfkreise

PL-PKN, Induktivitätstestmethode

Professional Standard - Aerospace, Induktivitätstestmethode

  • QJ 2350-1992 Prüfverfahren für die Empfindlichkeit gegenüber elektromagnetischer Strahlung – Kammermessung mit transversaler Übertragung elektromagnetischer Wellen
  • QJ 1469-1988 Prüfverfahren für die Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischen Funken von zusammengesetzten Festtreibstoffen und anderen Sprengstoffen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Induktivitätstestmethode

  • GB/T 43063-2023 Verfahren zum Testen eines CMOS-Bildsensors für integrierte Schaltkreise




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