Mikroelektronische Technologie

Für die Mikroelektronische Technologie gibt es insgesamt 18 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Mikroelektronische Technologie die folgenden Kategorien: Nichteisenmetalle, Nichteisenmetallprodukte, Prüfung von Metallmaterialien.

CZ-CSN, Mikroelektronische Technologie

CSN 35 8009-1988 Technologische Systeme für die Mikroelektronik. Nomenklatur

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mikroelektronische Technologie

GB/T 17472-2008 Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik
GB/T 17472-2022 Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik
GB/T 17473.2-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit
GB/T 17473.3-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands
GB/T 17473.5-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität
GB/T 17473.4-2008 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung
GB/T 17473.6-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.2-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung der Feinheit
GB/T 17473.3-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung des Schichtwiderstands
GB/T 17473.1-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts
GB/T 17473.5-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung der Viskosität
GB/T 17473.6-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für die Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.4-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Haftung
GB/T 17473.1-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung des Feststoffgehalts
GB/T 17473.7-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Lötbarkeit und Lötbeständigkeit
GB/T 17473.7-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Test der Lötbarkeit und Beständigkeit gegen Lotauslaugung

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Mikroelektronische Technologie

GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung