So messen Sie mit einem Messmikroskop

Für die So messen Sie mit einem Messmikroskop gibt es insgesamt 228 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So messen Sie mit einem Messmikroskop die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Fluidkraftsystem, Drähte und Kabel, Physik Chemie, Optik und optische Messungen, analytische Chemie, Textilfaser, Luftqualität, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Längen- und Winkelmessungen, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Zerstörungsfreie Prüfung, Mechanischer Test, Prüfung von Metallmaterialien, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Mikrobiologie, Metrologie und Messsynthese, Kernenergietechnik, Kohle, Holzverarbeitungstechnologie, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte, Baumaterial, Metallkorrosion, Nichteisenmetalle.

Professional Standard - Machinery, So messen Sie mit einem Messmikroskop

JB/T 9339-1999 Messmikroskop
JB/T 9349-1999 Messmesser für das Mikroskop des Werkzeugmachers

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), So messen Sie mit einem Messmikroskop

JIS B 7153:1995 Messmikroskope
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS M 8816:1992 Feste mineralische Brennstoffe – Methoden der mikroskopischen Messung von Mazeralen und Reflexionsgrad
JIS A 1481-4:2016 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 4: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden
JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, So messen Sie mit einem Messmikroskop

JJG 571-2004 Lesemikroskop und Messmikroskop
JJG 571-1988 Verifizierungsvorschrift für Messmikroskope

IN-BIS, So messen Sie mit einem Messmikroskop

IS 4329-1967 Spezifikation für messende (mobile) Mikroskope

International Organization for Standardization (ISO), So messen Sie mit einem Messmikroskop

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 4912:1981 Textilien; Baumwollfasern; Reifebewertung; Mikroskopische Methode
ISO 19056-3:2022 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 3: Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
ISO 19056-1:2015 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 1: Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
ISO 19056-2:2019 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 2: Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO/DIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
ISO/FDIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung eines Raman-Mikroskops
ISO/CD 22262-2:2011 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
ISO 8672:2014 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern mittels Phasenkontrast-Lichtmikroskopie – Membranfilterverfahren
ISO 8672:1993 Luftqualität; Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie; Membranfilterverfahren
ISO 22262-2:2014 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden

TH-TISI, So messen Sie mit einem Messmikroskop

TIS 1083-1992 Standard zur Messung der Schichtdicke mittels mikroskopischer Methode

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So messen Sie mit einem Messmikroskop

KS I ISO 4407:2012 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS E 4005-2007(2012) Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS E 4005-1981 Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
KS D 0204-2007 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 8519-2009(2015) Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 0204-1982 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 8672:2006 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)
KS I ISO 8672:2021 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode
KS I ISO 8672-2006(2017) Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)

American Society for Testing and Materials (ASTM), So messen Sie mit einem Messmikroskop

ASTM F728-81(1997)e1 Standardpraxis zur Vorbereitung eines optischen Mikroskops für Dimensionsmessungen
ASTM F72-95(2001) Standardspezifikation für Golddraht zum Bonden von Halbleiterleitungen
ASTM E1813-96e1 Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2002) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2007) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E3060-16 Standardhandbuch für die Messung unsichtbarer Partikel in der biopharmazeutischen Produktion mittels dynamischer (Fluss-)Bildmikroskopie
ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D5235-18 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D5235-13 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM D5235-14 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D5235-97 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B487-20 Standardtestmethode zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung des Querschnitts
ASTM D5770-02 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM D5770-96 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM D5770-02(2007) Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM F3294-18 Standardhandbuch für die Durchführung quantitativer Fluoreszenzintensitätsmessungen in zellbasierten Assays mit Weitfeld-Epifluoreszenzmikroskopie
ASTM C1356-96(2001) Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren
ASTM B651-83(2001) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit dem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(1995) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit dem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(2006) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(2015) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(2010) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B588-88(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik
ASTM B487-85(1997) Standardtestverfahren zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung eines Querschnitts
ASTM B651-83(2019) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM C1356-07 Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren
ASTM C1356-07(2012) Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren

(U.S.) Ford Automotive Standards, So messen Sie mit einem Messmikroskop

FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 MIKROSKOPISCHE METHODE ZUR MESSUNG DER ENTKARBUNG AN FEDERSTÄHLEN

Professional Standard - Petrochemical Industry, So messen Sie mit einem Messmikroskop

SH/T 0336-1994 Bestimmungsmethode des Fettverunreinigungsgehalts (mikroskopische Methode)

British Standards Institution (BSI), So messen Sie mit einem Messmikroskop

BS ISO 19056-1:2015 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
BS ISO 19056-3:2022 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
BS ISO 19056-2:2019 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 3. Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode
BS ISO 22262-2:2014 Luftqualität. Schüttgut. Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
23/30420097 DC BS ISO 23124 Oberflächenchemische Analyse. Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
BS ISO 8672:2014 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, So messen Sie mit einem Messmikroskop

T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)
T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

CZ-CSN, So messen Sie mit einem Messmikroskop

CSN 65 6337-1974 Bestimmung des Gehalts an mechanischen Verunreinigungen mithilfe eines Mikroskops
CSN ISO 1463:1993 Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, So messen Sie mit einem Messmikroskop

GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 6462-2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
GB/T 32282-2015 Messung der Versetzungsdichte in Galliumnitrid-Einkristallen mittels Kathodolumineszenzmikroskopie
GB/T 8014.3-2005 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Die Methode zur Messung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen Teil 3: Spaltstrahlmikroskop-Methode
GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte

VN-TCVN, So messen Sie mit einem Messmikroskop

TCVN 6035-1995 Textilien.Baumwollfasern.Bewertung der Reife.Mikroskopische Methode
TCVN 6504-1999 Luftqualität.Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie.Membranfilterverfahren

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), So messen Sie mit einem Messmikroskop

IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Partikelgrößenverteilung des Lotpulvers – Messmikroskop-Methode

PT-IPQ, So messen Sie mit einem Messmikroskop

NP 3160-1986 Textil. Messung des Faserdurchmessers. Mikroskopische Projektionsmethode
NP 3563-1988 Textilien Baumwollfasern. Bewertung der Reife. Mikroskopische Methode

KR-KS, So messen Sie mit einem Messmikroskop

KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 8672-2021 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode

Association of German Mechanical Engineers, So messen Sie mit einem Messmikroskop

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Optische Vermessung und Mikrotopographien – Kalibrierung von Interferenzmikroskopen und Tiefenmessnormalen zur Rauheitsmessung
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Optische Messung der Mikrotopographie – Kalibrierung von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen zur Rauheitsmessung
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Association Francaise de Normalisation, So messen Sie mit einem Messmikroskop

NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Textilien - Quantitative mikroskopische Analyse - Allgemeine Prüfprinzipien
NF EN ISO 20705:2020 Textilien – Quantitative Analyse mittels Mikroskopie – Allgemeine Prüfprinzipien
NF A91-110:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode.
NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
NF X43-066-2*NF ISO 22262-2:2014 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
NF A91-455-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen. Eloxieren. Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten. Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop.

FI-SFS, So messen Sie mit einem Messmikroskop

SFS 3458-1989 Plastik. Mikroskopische Bestimmung des schwarzen Rußgehalts in Polyethylen

SE-SIS, So messen Sie mit einem Messmikroskop

SIS SS-ISO 1463:1983 Metall- und Oxidschichten – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SMS 2953-1971 Messung von Metall- und Oxidschichtdicken durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

RO-ASRO, So messen Sie mit einem Messmikroskop

STAS 10552-1976 BESTIMMUNG DES DELTA-FERRIT-GEHALTS IM ABGESCHLOSSENEN METALL DURCH SCHWEISSEN AUSTENITISCHER STÄHLE Mikroskopische Methode
STAS 9070-1981 WOLLE Bestimmung des Faserdurchmessers und des Markfasergehalts mittels Tlie-Projektionsmikroskop

ZA-SANS, So messen Sie mit einem Messmikroskop

SANS 144:1982 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode

RU-GOST R, So messen Sie mit einem Messmikroskop

GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST 8.003-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikroskope für den Werkzeugbau. Überprüfungsverfahren
GOST R 8.630-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.697-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Interpenarabstände in Kristallen. Verfahren zur Messung mittels Transmissionselektronenmikroskop
GOST R 8.700-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Methode zur Messung der effektiven Höhe der Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop

European Committee for Standardization (CEN), So messen Sie mit einem Messmikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, So messen Sie mit einem Messmikroskop

DS/EN ISO 1463:1994 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
DS/EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

PL-PKN, So messen Sie mit einem Messmikroskop

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German Institute for Standardization, So messen Sie mit einem Messmikroskop

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN 58959-4:1997 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022
DIN EN ISO 2128:2010-12 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen - Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten - Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010
DIN 22020-5:2005-02 Untersuchungen des Rohstoffes im Steinkohlenbergbau - Mikroskopische Untersuchungen von Steinkohle, Koks und Briketts - Teil 5: Reflexionsmessungen an Vitriniten / Hinweis: Neben dieser Norm behält die DIN 22020-5 (1986-09) bis 2005-07 ihre Gültigkeit -31.
DIN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Mikroskopisches Verfahren (ISO 1463:2021); Deutsche Fassung EN ISO 1463:2021
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994

ES-UNE, So messen Sie mit einem Messmikroskop

UNE-EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, So messen Sie mit einem Messmikroskop

GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

PH-BPS, So messen Sie mit einem Messmikroskop

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UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
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UNE-EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

Lithuanian Standards Office , So messen Sie mit einem Messmikroskop

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 1463:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
LST EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
LST ISO 8672:2001 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
LST EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

AT-ON, So messen Sie mit einem Messmikroskop

OENORM EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

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