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RUGraphen-Widerstand
Für die Graphen-Widerstand gibt es insgesamt 12 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Graphen-Widerstand die folgenden Kategorien: Verbundverstärkte Materialien.
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Graphen-Widerstand
- DB13/T 5255-2020 Bestimmung des Quadratwiderstands von leitfähiger Graphentinte mit der Vier-Sonden-Methode
British Standards Institution (BSI), Graphen-Widerstand
- IEC 62607-6-7:2023 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. - Teil 6-7: Graphen. Schichtwiderstand: Van-der-Pauw-Methode
- PD IEC TS 62607-6-1:2020 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Material auf Graphenbasis. Volumenwiderstand: Vier-Sonden-Methode
- PD IEC TS 62607-6-10:2021 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Material auf Graphenbasis. Schichtwiderstand: Terahertz-Zeitbereichsspektroskopie
- IEC 62607-6-5:2022 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. - Teil 6-5: Materialien auf Graphenbasis. Kontakt- und Schichtwiderstand: Übertragungsleitungsmessung
IX-IX-IEC, Graphen-Widerstand
- IEC TS 62607-6-7:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrolleigenschaften – Teil 6-7: Graphen – Schichtwiderstand: Van-der-Pauw-Methode
- IEC TS 62607-6-8:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-8: Graphen – Schichtwiderstand: Inline-Vierpunktsonde
International Electrotechnical Commission (IEC), Graphen-Widerstand
- IEC TS 62607-6-9:2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrolleigenschaften – Teil 6-9: Material auf Graphenbasis – Schichtwiderstand: Wirbelstrommethode
- IEC TS 62607-6-1:2020 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-1: Material auf Graphenbasis – Volumenwiderstand: Vier-Sonden-Methode
- IEC TS 62607-6-10:2021 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-10: Material auf Graphenbasis – Schichtwiderstand: Terahertz-Zeitbereichsspektroskopie
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Graphen-Widerstand
- KS C IEC TS 62607-6-1:2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-1: Material auf Graphenbasis – Volumenwiderstand: Vier-Sonden-Methode
KR-KS, Graphen-Widerstand
- KS C IEC TS 62607-6-1-2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-1: Material auf Graphenbasis – Volumenwiderstand: Vier-Sonden-Methode