ZH

EN

KR

JP

ES

RU

Allgemeine Mikroskopgröße

Für die Allgemeine Mikroskopgröße gibt es insgesamt 114 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Allgemeine Mikroskopgröße die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Drähte und Kabel, Elektronische Anzeigegeräte, Textilfaser, Dokumentenbildtechnologie, Chemikalien, Längen- und Winkelmessungen, analytische Chemie, Physik Chemie, fotografische Fähigkeiten, Wortschatz, Optoelektronik, Lasergeräte, Keramik, Luftqualität, Einrichtungen im Gebäude, Ventilatoren, Ventilatoren, Klimaanlagen.


RU-GOST R, Allgemeine Mikroskopgröße

  • GOST 3469-1991 Mikroskope. Schraubgewinde für Objektive. Maße
  • GOST 11200-1975 Objektive und Körperrohre der Mikroskope. Anbringen von Maßen
  • GOST 3361-1975 Okulare und Körpertuben der Mikroskope. Anbringen von Maßen
  • GOST 29214-1991 Optik und optische Instrumente. Mikroskope. Anschlussmaße von Rohrschienen und Rohrschlitzen
  • GOST 13.1.601-1989 Reprographie. Mikrographie. Linse. Allgemeine technische Anforderungen

RO-ASRO, Allgemeine Mikroskopgröße

HU-MSZT, Allgemeine Mikroskopgröße

  • MNOSZ 5532-1956 Hauptabmessungen von Mikroskopen sowie Konkav- und Konvexspiegeln
  • MNOSZ 5533-1956 Hauptabmessungen der Innenkanal-Mikroskopfiltration mit Kondensorlinse

Professional Standard - Machinery, Allgemeine Mikroskopgröße

  • JB/T 8230.5-1999 Mikroskope. Anschluss- und Montagemaße zwischen Okular (Okular) und Tubus
  • JB/T 7398.2-1994 Abmessungen des optischen Mikroskopanschlusses
  • JB/T 8230.12-1999 Mikroskope.Anschlussmaße von Röhrenschlitten und Röhrenschlitzen
  • JB/T 8230.8-1999 Mikroskope.Anschlussmaße von abnehmbarem Kondensor und Farbfilter
  • JB/T 8230.7-1999 Mikroskope.Abmessungen und Positionen der Löcher für Tischklammern und aufsteckbarer mechanischer Tisch auf dem Mikroskoptisch

VE-FONDONORMA, Allgemeine Mikroskopgröße

British Standards Institution (BSI), Allgemeine Mikroskopgröße

  • BS 7012-10.1:1998 Lichtmikroskope - Mindestanforderungen an Stereomikroskope - Stereomikroskope für den allgemeinen Gebrauch
  • BS ISO 9345:2019 Mikroskope. Schnittstellenabmessungen für Bildgebungskomponenten
  • BS ISO 8255-1:2017 Mikroskope. Gläser abdecken. Maßtoleranzen, Dicke und optische Eigenschaften
  • 18/30342638 DC BS ISO 9345. Mikroskope. Schnittstellenabmessungen für Bildgebungskomponenten
  • BS ISO 8040:2001 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • BS ISO 8255-1:2011 Mikroskope. Deckgläser. Maßtoleranzen, Dicke und optische Eigenschaften
  • BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
  • BS ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729. Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
  • BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS EN 15805:2009 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen
  • BS EN 15805:2010 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung. Standardisierte Abmessungen
  • BS 7011-2.1:1989 Verbrauchszubehör für Lichtmikroskope - Objektträger - Angaben zu Abmessungen und optischen Eigenschaften
  • BS 7011-3.1:1989 Verbrauchszubehör für Lichtmikroskope - Deckgläser - Angaben zu Abmessungen und optischen Eigenschaften

PL-PKN, Allgemeine Mikroskopgröße

  • PN N53040-1988 Lichtmikroskope Optische mechanische Abmessungen
  • PN T04830-00-1990 Elektronische Röhren ' Farbbildröhren Methoden elektrischer und elektrooptischer Tests Genera
  • PN T80305-1970 Komponenten von Mikrowellengeräten Flansche Typ E für gewöhnliche Rechteckwellenleiter GrundabmessungenQ

IN-BIS, Allgemeine Mikroskopgröße

  • IS 3081-1965 Allgemeine Mikroskopabmessungen und -markierungen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Allgemeine Mikroskopgröße

  • GB/T 22060-2008 Mikroskope – Abmessungen der Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Allgemeine Mikroskopgröße

  • KS M 2617-2007(2022) Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Immersionsöl für den allgemeinen Einsatz in der Lichtmikroskopie
  • KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
  • KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
  • KS B ISO 8040:2006 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • KS B ISO 8040-2006(2021) Optik und Photonik – Mikroskope – Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • KS B ISO 8478-2006(2016) Optik und Photonik – Mikroskope – Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • KS B ISO 8478-2006(2021) Optik und Photonik – Mikroskope – Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • KS B ISO 8040-2006(2016) Optik und Photonik – Mikroskope – Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen

Association Francaise de Normalisation, Allgemeine Mikroskopgröße

  • X11-660:1983 Partikelgrößenanalyse mittels optischer Mikroskopmethode. Allgemeine Hinweise zum Mikroskop.
  • NF S12-023:1988 OPTIK UND OPTISCHE INSTRUMENTE. MIKROSKOPE. ANSCHLUSSABMESSUNGEN VON ROHRSCHIENEN UND ROHRSCHLITZEN.
  • NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Textilien - Quantitative mikroskopische Analyse - Allgemeine Prüfprinzipien
  • NF EN ISO 20705:2020 Textilien – Quantitative Analyse mittels Mikroskopie – Allgemeine Prüfprinzipien
  • NF C96-020/A3:1974 Allgemeine Anforderungen und Dimensionsmerkmale von Mikroschaltungen
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • NF S10-132-1:2016 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 1: Vokabular und allgemeine Eigenschaften
  • NF S12-024-1:1988 OPTIK UND OPTISCHE INSTRUMENTE. MIKROSKOPE. GLÄSER ABDECKEN. TEIL 1: MAßTOLERANZEN, DICKE UND OPTISCHE EIGENSCHAFTEN.
  • NF X44-015*NF EN 15805:2021 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen
  • NF S12-021-1:1988 OPTIK UND OPTISCHE INSTRUMENTE. MIKROSKOPE. FOLIE. TEIL 1: ABMESSUNGEN, OPTISCHE EIGENSCHAFTEN UND MARKIERUNG.
  • NF X44-015:2010 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Allgemeine Mikroskopgröße

  • GB/T 22055-2022 Mikroskope – Schnittstellenabmessungen für Bildgebungskomponenten

American Society for Testing and Materials (ASTM), Allgemeine Mikroskopgröße

  • ASTM F728-81(1997)e1 Standardpraxis zur Vorbereitung eines optischen Mikroskops für Dimensionsmessungen
  • ASTM F72-95(2001) Standardspezifikation für Golddraht zum Bonden von Halbleiterleitungen
  • ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM C1678-10 Standardpraxis für die fraktografische Analyse von Bruchspiegelgrößen in Keramik und Gläsern
  • ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM D7634-10(2017) Standardtestmethode zur Visualisierung der Partikelgröße und Morphologie von in Wasserstoffkraftstoff enthaltenen Partikeln durch Mikroskopie

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Allgemeine Mikroskopgröße

International Organization for Standardization (ISO), Allgemeine Mikroskopgröße

  • ISO 8040:2001 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • ISO 8040:1986 Optik und optische Instrumente; Mikroskope; Anschlussmaße von Rohrschienen und Rohrschlitzen
  • ISO 20705:2019 Textilien – Quantitative mikroskopische Analyse – Allgemeine Prüfprinzipien
  • ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
  • ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
  • ISO 8255-1:2011 Mikroskope - Deckgläser - Teil 1: Maßtoleranzen, Dicke und optische Eigenschaften
  • ISO 8255-1:2017 Mikroskope - Deckgläser - Teil 1: Maßtoleranzen, Dicke und optische Eigenschaften
  • ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ISO 8037-1:1986 Optik und optische Instrumente; Mikroskope; Folien; Teil 1: Abmessungen, optische Eigenschaften und Kennzeichnung
  • ISO 8255-1:1986 Optik und optische Instrumente; Mikroskope; Abdeckgläser; Teil 1: Maßtoleranzen, Dicke und optische Eigenschaften

German Institute for Standardization, Allgemeine Mikroskopgröße

  • DIN ISO 8040:2003 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen (ISO 8040:2001)
  • DIN EN 15805:2022 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen
  • DIN ISO 8037-1:2003 Optik und optische Instrumente – Mikroskope; Objektträger – Teil 1: Abmessungen, optische Eigenschaften und Markierung (ISO 8037-1:1986)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022
  • DIN ISO 8037-1:2003-05 Optik und optische Instrumente - Mikroskope; Folien – Teil 1: Abmessungen, optische Eigenschaften und Kennzeichnung (ISO 8037-1:1986)

European Committee for Standardization (CEN), Allgemeine Mikroskopgröße

  • EN ISO 20705:2020 Textilien – Quantitative mikroskopische Analyse – Allgemeine Prüfgrundsätze (ISO 20705:2019)
  • EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
  • EN 15805:2009 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen
  • FprEN 15805-2021 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen

Group Standards of the People's Republic of China, Allgemeine Mikroskopgröße

  • T/CSTM 00799-2023 Bestimmung der Korngröße in Stahl – Hochtemperatur-Laser-Scanning-Konfokalmikroskop-Methode
  • T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

KR-KS, Allgemeine Mikroskopgröße

  • KS B ISO 8040-2023 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Abmessungen von Rohrschieber- und Rohrschlitzverbindungen
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

ES-UNE, Allgemeine Mikroskopgröße

  • UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

Danish Standards Foundation, Allgemeine Mikroskopgröße

  • DS/EN 15805:2010 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen

Lithuanian Standards Office , Allgemeine Mikroskopgröße

  • LST EN 15805-2010 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen

AENOR, Allgemeine Mikroskopgröße

  • UNE-EN 15805:2010 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen

SE-SIS, Allgemeine Mikroskopgröße

  • SIS SS 11 11 15-1985 Stahl – Methode zur Beurteilung des Schlackeneinschlussgehalts – Mikroskopische Methoden – Manuelle Partikelzählung und Berechnung der Größenverteilung

未注明发布机构, Allgemeine Mikroskopgröße

  • DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)
  • DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • DIN EN 15805 E:2020-03 Partikelluftfilter für die allgemeine Belüftung – Standardisierte Abmessungen

GOSTR, Allgemeine Mikroskopgröße

  • PNST 377-2019 Autostraßen mit allgemeiner Nutzung. Bitumenbindemittel auf Erdölbasis. Die Methode zur Bestimmung der Verteilung des Polymers mittels Fluoreszenzmikroskopie




©2007-2024Alle Rechte vorbehalten