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Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

Análisis de peso molecular por espectrometría de masas., Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de peso molecular por espectrometría de masas. son: Plástica, Química analítica, Medicina de laboratorio, pruebas de metales, Vocabularios, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Estandarización. Reglas generales, Metalurgia de polvos, Metales no ferrosos, Materias primas para caucho y plástico., Educación, Equipo medico, Calidad del agua, Químicos orgánicos, Refractarios, Fertilizantes, Combustibles, Productos de la industria química., Pruebas no destructivas, Calidad, Productos de metales no ferrosos., ingeniería de energía nuclear, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Equipos para trabajar la madera, Metales ferrosos, Minerales metalíferos, Calidad del suelo. Pedología, Productos de la industria textil., Óptica y medidas ópticas., Calidad del aire, Equipo óptico, Microbiología, Medidas lineales y angulares., Ferroaleaciones, carbones, Sistemas de automatización industrial, químicos inorgánicos, METALURGIA, Circuitos impresos y placas., Frutas. Verduras, Alimentos preenvasados y preparados., Agricultura y silvicultura.

Association Francaise de Normalisation, Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

NF T30-711:2011 Plásticos: Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS).
NF T51-241:2011 Plásticos: Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS).
NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF X11-672:1996 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopia de correlación de fotones.
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF EN ISO 22892:2011 Calidad del suelo: directrices para la identificación de compuestos objetivo mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas
NF EN 13615:2002 Métodos para el análisis de lingotes de estaño - Determinación del contenido de impurezas en estaño de calidad 99,90% y 99,85% mediante espectrometría atómica
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF EN 1784:2003 Productos alimenticios - Detección de alimentos ionizados que contienen lípidos - Análisis por cromatografía de gases de hidrocarburos
NF U44-145:1984 FERTILIZANTES Y ACONDICIONADORES DE SUELOS. DETERMINACIÓN DE MAGNESIO MEDIANTE EL MÉTODO ESPECTROMÉTRICO DE ABSORCIÓN ATÓMICA.
NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior.
NF EN 26777:1993 Calidad del agua - Dosificación de nitrito - Método de espectrometría de absorción molecular
NF X21-051*NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.
NF X31-439*NF EN ISO 22892:2011 Calidad del suelo: directrices para la identificación de compuestos objetivo mediante cromatografía de gases y espectrometría de masas.
NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
NF X43-025:1988 Calidad del aire. Aire ambiente. Determinación de hidrocarburos aromáticos policíclicos. Determinación por cromatografía líquida de alta presión y cromatografía de gas.
NF EN 12938:2000 Métodos de análisis de estaño para la fabricación de objetos. Determinación del contenido de aleaciones e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
NF X31-171:2011 Calidad del suelo - Determinación de cromo(VI) en material sólido mediante digestión alcalina y cromatografía iónica con detección espectrofotométrica.
NF T51-241:2018 Plásticos: determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
NF EN 1785:2003 Productos alimenticios - Detección de alimentos ionizados que contienen lípidos - Análisis por cromatografía de gases/espectrometría de masas de 2-alquilcitobutanonas
NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
NF M60-404:1998 Determinación del contenido de plutonio en dióxido de plutonio (PuO2) de calidad nuclear. Método gravimétrico.
NF V03-155:2010 Análisis de alimentos - Determinación de patulina mediante cromatografía líquida de alta resolución - Espectrometría de masas/Método de espectrometría de masas (HPLC-MS/MS).

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO 178:1975 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 178:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO 13084:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
ISO 16564:2004 Caucho natural en bruto - Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
ISO 18118:2015
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
ISO 16014-4:2003 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 4: Método de alta temperatura.
ISO 16014-4:2012 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 4: Método de alta temperatura.
ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía de longitud de onda dispersiva
ISO 16564:2004/Amd 1:2006 Caucho natural en bruto. Determinación de la masa molecular media y de la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC).
ISO 16014-2:2003 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 2: Método de calibración universal.
ISO 16014-2:2012 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 2: Método de calibración universal.
ISO 17560:2002
ISO 13321:1996 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopia de correlación de fotones
ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
ISO/PRF 14595 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
ISO 14595:2023 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
ISO 16014-1:2012 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 1: Principios generales.
ISO 16014-3:2003
ISO 16014-3:2012 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 3: Método de baja temperatura.
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
ISO 16014-1:2003 Plásticos. Determinación de la masa molecular media y de la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión molecular. Parte 1: Principios generales.
ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 15192:2010 Calidad del suelo - Determinación de cromo(VI) en material sólido mediante digestión alcalina y cromatografía iónica con detección espectrofotométrica
ISO 15192:2021 Suelos y residuos - Determinación de Cromo(VI) en material sólido mediante digestión alcalina y cromatografía iónica con detección espectrofotométrica
ISO 10927:2011 Plásticos: determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
ISO 10927:2018 Plásticos: determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
ISO 7627-6:1985 Metales duros; Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama; Parte 6: Determinación de cromo en contenidos del 0,01 al 2 % (m/m)
ISO 7530-3:1990 Aleaciones de níquel: Análisis espectrométrico de absorción atómica de llamaParte 3: Determinación del contenido de cromo

British Standards Institution (BSI), Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS ISO 16564:2004 Caucho natural en bruto - Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión molecular (SEC)
BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
BS EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre. Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
BS EN 12938:2000(2001) Métodos para el análisis del peltre. Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
BS DD ENV ISO 13530:1999 Calidad del agua - Guía para el control analítico de calidad para el análisis del agua
BS ISO 16014-2:2012 Plástica. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Método de calibración universal
BS ISO 16014-4:2012 Plástica. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Método de alta temperatura
DD ENV ISO 13530:1999 Calidad del agua. Guía de control de calidad analítico para el análisis de agua.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
BS DD ENV 13800:2000 Plomo y aleaciones de plomo - Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), sin separación de la matriz de plomo
BS ISO 19463:2018 Análisis de microhaces. Microanalizador de sonda electrónica (EPMA). Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad.
BS ISO 16014-3:2012 Plástica. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Método de baja temperatura
BS EN 16274:2021 Método de análisis de alérgenos. Cuantificación de una lista ampliada de 57 alérgenos sospechosos en materiales de fragancias listos para inyectar mediante espectrometría de masas por cromatografía de gases
BS EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante ICP-MS (espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente)
BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
PD ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas.
BS ISO 22048:2005 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
PD ISO/TS 15338:2020 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de descarga luminosa. Procedimientos de operación
BS ISO 14595:2023 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
BS ISO 17858:2007 Calidad del agua - Determinación de bifenilos policlorados similares a las dioxinas - Método mediante cromatografía de gases/espectrometría de masas
BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
BS EN ISO 15192:2021 Suelo y residuos. Determinación de Cromo(VI) en material sólido mediante digestión alcalina y cromatografía iónica con detección espectrofotométrica
BS EN ISO 10927:2011 Plástica. Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
BS EN ISO 10927:2018 Plástica. Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS)
BS PD ISO/TS 8000-81:2021 Calidad de los datos. Evaluación de la calidad de los datos. Perfilado
PD ISO/TS 8000-81:2021 Calidad de los datos. Evaluación de la calidad de los datos. Perfilado
BS ISO 14595:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
BS ISO 14595:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
DD 220-1994 Calidad del suelo. Determinación del contenido de aceite mineral. Método por espectrometría infrarroja y método de cromatografía de gases.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

GB/T 40129-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
GB/T 38397-2019 Alquitrán de hulla. Determinación del contenido de componentes. Cromatografía de gases, espectrometría de masas y termogravimetría.
GB/T 40374-2021 Metales duros. Determinación del contenido de plomo y cadmio. Método espectrométrico de absorción atómica de llama y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 7739.14-2019 Métodos para el análisis químico de concentrados de oro. Parte 14: Determinación del contenido de talio. Espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente y espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
GB/T 39486-2020 Reactivo químico: reglas generales para la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
GB/T 40798-2021 Método de análisis químico de minerales de tierras raras por adsorción de iones. Determinación del contenido total de tierras raras. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
GB/T 39285-2020 Método de análisis químico de compuestos de paladio. Determinación del contenido de cloro. Cromatografía iónica.
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

国家药监局, Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

YY/T 1795-2021 analizador de calidad del esperma

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de peso molecular por espectrometría de masas.

JIS K 0157:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
JIS K 0155:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
JIS K 0127:1992 Reglas generales para el análisis cromatográfico iónico.
JIS K 0127:2001 Reglas generales para el análisis cromatográfico iónico.
JIS K 0127:2013 Reglas generales para la cromatografía iónica.
JIS K 0118:1979 Reglas generales para el análisis espectrométrico de masas.
JIS K 0133:2022 Reglas generales para la espectrometría de masas ICP
JIS K 0123:1995 Reglas generales para métodos analíticos en cromatografía de gases y espectrometría de masas.
JIS H 1630:1995 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS H 1683:2002 Tantalio - Método de análisis espectrométrico de absorción atómica
JIS H 1630:1975 Método para el análisis espectrométrico de emisión atómica de titanio.
JIS Z 8826:2005 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopía de correlación de fotones.
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JIS K 7252-3:2016 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 3: Método de baja temperatura.
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JIS K 0168:2011 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
JIS K 0164:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 7252-2:2008 Plásticos. Determinación de la masa molecular promedio y la distribución de masa molecular de polímeros mediante cromatografía de exclusión por tamaño. Parte 2: Método de calibración universal.
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KS M ISO 16564-2007(2022) Caucho natural en bruto－Determinación de la masa molecular promedio y distribución de masa molecular mediante cromatografía de exclusión por tamaño (SEC)
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KS D ISO 7530-8:2012 Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 8: Determinación del contenido de silicio
KS D ISO 7530-7:2012 Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 7: Determinación del contenido de aluminio
KS D ISO 7530-4-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 4: Determinación del contenido de cobre
KS D ISO 9388-2012(2017) Aleaciones de níquel－Determinación del contenido de fósforo－Método espectrométrico de absorción molecular de azul de molibdeno
KS D ISO 9388-2012(2022) Aleaciones de níquel－Determinación del contenido de fósforo－Método espectrométrico de absorción molecular de azul de molibdeno
KS D ISO 7530-2-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 2: Determinación del contenido de cobalto
KS D ISO 7530-9-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 9: Determinación del contenido de vanadio
KS D ISO 7530-7-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 7: Determinación del contenido de aluminio
KS D ISO 7530-6-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 6: Determinación del contenido de manganeso
KS D ISO 7530-3-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 3: Determinación del contenido de cromo
KS D ISO 7530-8-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 8: Determinación del contenido de silicio
KS D ISO 10700:2008 Acero y hierro-Determinación del contenido de manganeso-Método espectrométrico de absorción atómica de llama
KS D ISO 9647:2002 ¿Acero y hierro? Determinación del contenido de vanadio — Método espectrométrico de absorción atómica de llama
KS D ISO 22309-2011(2021) Análisis de microhaces －Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
KS D ISO 7627-1-2012(2017) Metales duros－Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama－Parte 1:Requisitos generales
KS D ISO 7627-1-2012(2022) Metales duros－Análisis químico mediante espectrometría de absorción atómica de llama－Parte 1:Requisitos generales
KS D ISO 7530-9:2012 Aleaciones de níquel-Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama-Parte 9: Determinación del contenido de vanadio
KS D ISO 7530-4-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 4: Determinación del contenido de cobre
KS D ISO 7530-6-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 6: Determinación del contenido de manganeso
KS D ISO 7530-9-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 9: Determinación del contenido de vanadio
KS D ISO 7530-7-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 7: Determinación del contenido de aluminio
KS D ISO 7530-8-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 8: Determinación del contenido de silicio
KS D ISO 7530-2-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 2: Determinación del contenido de cobalto
KS D ISO 7530-5-2012(2017) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 5: Determinación del contenido de hierro
KS D ISO 7530-5-2012(2022) Aleaciones de níquel －Análisis espectrométrico de absorción atómica de llama －Parte 5: Determinación del contenido de hierro
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YS/T 870-2020 Métodos de análisis químico para aluminio puro Determinación del contenido de elementos de impurezas traza Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
YS/T 1261-2018 Método de análisis químico de hafnio Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
YS/T 474-2021 Métodos de análisis químico para galio de alta pureza Determinación de oligoelementos Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
YS/T 445.14-2019 Métodos para el análisis químico de concentrados de plata Parte 14: Determinación del contenido de talio mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente y espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
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XB/T 623.1-2018 Métodos para el análisis químico de aleaciones de ferrocerio Parte 1: Determinación del contenido de impurezas de tierras raras mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
XB/T 623.2-2018 Métodos para el análisis químico de aleaciones de ferrocerio Parte 1: Determinación del contenido de impurezas de tierras raras mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
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YS/T 461.12-2016 Métodos para el análisis químico de concentrados mixtos de plomo y zinc. Parte 12: Determinación del contenido de talio mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente y espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente.
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DZ/T 0064.38-2021 Métodos analíticos para la calidad del agua subterránea. Parte 38: Determinación de la cantidad de selenio mediante generación de hidruros. Espectrometría de fluorescencia atómica.
DZ/T 0064.80-2021 Métodos de análisis de la calidad del agua subterránea Parte 80: Determinación de litio, rubidio, cesio y otros 40 elementos mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
DZ/T 0279.8-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales, Parte 8: Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente para la determinación de talio
DZ/T 0279.6-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales, Parte 6: Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente para la cuantificación de uranio
DZ/T 0279.16-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales Parte 16: Determinación de la cantidad de germanio mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
DZ/T 0279.7-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales Parte 7: Determinación de molibdeno mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
DZ/T 0279.24-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales Parte 24: Determinación yodométrica mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
DZ/T 0279.5-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales, Parte 5: Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente para la determinación de cantidades de cadmio
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