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Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios., Total: 234 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios. son: Química analítica, pruebas de metales, Metales no ferrosos, Calidad del agua, Microbiología, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Dispositivos semiconductores, Geología. Meteorología. Hidrología, Símbolos gráficos, Combustibles, químicos inorgánicos, Equipo medico, Óptica y medidas ópticas., Productos de la industria química., Minerales metalíferos, Fotografía, ingeniería de energía nuclear, carbones, Petróleo crudo, Tratamiento superficial y revestimiento., Metales ferrosos, Productos de metales no ferrosos., Centrales eléctricas en general, Minerales no metalíferos, Medicina de laboratorio, Circuitos integrados. Microelectrónica, Ceras, materias bituminosas y otros productos petrolíferos.

British Standards Institution (BSI), Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
BS ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 18114:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
BS ISO 22048:2005 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
BS ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
BS EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante ICP-MS (espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente)
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
BS ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
BS EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre. Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
BS EN 12938:2000(2001) Métodos para el análisis del peltre. Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
BS EN 13615:2001(2002) Métodos para el análisis de lingotes de estaño - Determinación del contenido de elementos de impureza en grados de estaño 99,90 % y 99,85 % mediante espectrometría atómica
BS ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
BS ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
22/30431336 DC BS EN ISO 17294-2. Calidad del agua. Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2. Determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

GB/T 40129-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
GB/T 20975.25-2020 Métodos para el análisis químico de aluminio y aleaciones de aluminio. Parte 25: Determinación del contenido de elementos. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 14352.20-2021 Métodos para el análisis químico de minerales de tungsteno y molibdeno. Parte 20: Determinación del contenido de niobio, tantalio, circonio, hafnio y 15 elementos de tierras raras. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
GB/T 37160-2019 Método de prueba estándar para la determinación de trazas de metales en destilados pesados, petróleo residual y petróleo crudo: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ISO 13084:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
ISO 178:1975 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 178:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
ISO 18114:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
ISO 22415:2019 Análisis químico de superficie. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
ISO 17294-2:2003 Calidad del agua - Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2: Determinación de 62 elementos
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
ISO 17294-2:2016 Calidad del agua. Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS). Parte 2: Determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio.
ISO/FDIS 17294-2 Calidad del agua. Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS). Parte 2: Determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio.
ISO 17294-2:2011 Calidad del agua. Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS). Parte 2: Determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio.
ISO 17294-2:2023 Calidad del agua. Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS). Parte 2: Determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio.
ISO 20341:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

JIS K 0157:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
JIS K 0168:2011 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
JIS K 0155:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
JIS K 0400-52-30:2001 Calidad del agua: determinación de 33 elementos mediante espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
JIS K 0156:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
JIS K 0169:2012 Análisis químico de superficie - Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
JIS K 0143:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
JIS G 1258-2:2014 Hierro y acero - Método espectrométrico de emisión atómica ICP - Parte 2: Determinación de diversos elementos - Descomposición con ácidos fosfórico y sulfúrico
JIS G 1258-1:2014 Hierro y acero.Método espectrométrico de emisión atómica ICP.Parte 1: Determinación de diversos elementos.Descomposición con ácidos y fusión con disulfato de potasio.
JIS G 1258-3:2014 Hierro y acero. Método espectrométrico de emisión atómica ICP. Parte 3: Determinación de diversos elementos. Descomposición con ácidos y fusión con carbonato de sodio.

Association Francaise de Normalisation, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF X21-064*NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas estática de iones secundarios.
NF A06-902*NF EN 12938:2000 Métodos para el análisis del peltre - Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas mediante espectrometría atómica.
NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies: espectrometría de masas de iones secundarios: método para la calibración de profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF T90-164:2005 Calidad del agua - Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2: determinación de 62 elementos.
NF EN ISO 17294-2:2016 Calidad del agua - Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2: determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio
NF T90-164*NF EN ISO 17294-2:2016 Calidad del agua. Aplicación de la espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS). Parte 2: determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio.
NF A08-651:1993 Análisis químico de aleaciones de titanio y aluminio. Determinación del contenido de elementos de bajo contenido en la aleación TA6V. Método por espectrometría de absorción atómica de llama o por espectrometría de emisión de plasma.
NF A06-903*NF EN 13615:2002 Métodos para el análisis de lingotes de estaño - Determinación del contenido de elementos de impurezas en grados de estaño 99,90 % y 99,85 % mediante espectrometría atómica.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

KS D ISO 22048-2005(2020) Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
KS D ISO 18114-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
KS D 1674-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente de oligoelementos en oro.
KS D ISO 22048:2005 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
KS D ISO 17560-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 20341-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
KS D ISO 18114:2005 Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
KS D ISO 14237-2003(2018) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio
KS I ISO 17294-2:2010 Calidad del agua-Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)-Parte 2: Determinación de 62 elementos
KS D 1702-2005 Platino-Determinación del contenido de oligoelementos mediante análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente-Método de coincidencia de matrices
KS D 1702-2015 Platino－Determinación del contenido de oligoelementos mediante análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente－Método de coincidencia de matrices
KS D ISO 14237:2003 Análisis químico de superficies－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
KS D ISO 20341:2005 Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
KS D 1702-2015(2020) Platino－Determinación del contenido de oligoelementos mediante análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente－Método de coincidencia de matrices
KS D ISO 16918-1:2018 Acero y hierro. Determinación de nueve elementos mediante el método de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente. Parte 1: Determinación de estaño, antimonio, cerio, plomo y bismuto.

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BS ISO 22048:2004(2005) Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas de iones secundarios estáticos.
BS ISO 20341:2003(2010) Análisis químico de superficies. Secundario: espectrometría de masas de iones. Método para estimar los parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

GB/T 42274-2022 Determinación del contenido y distribución de oligoelementos (magnesio, galio) en materiales de nitruro de aluminio. Espectrometría de masas de iones secundarios.
GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
GB/T 25186-2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
GB/T 20176-2006 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies
GB/T 13747.27-2020 Métodos para el análisis químico de circonio y aleaciones de circonio. Parte 27: Determinación del contenido de trazas de impurezas. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
GB/T 25934.3-2010(英文版) "Métodos para el análisis químico de oro de alta pureza. Parte 3: Separación por extracción con éter etílico. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente. Determinación del contenido de elementos de impureza".
GB/T 14849.4-2014 Métodos para el análisis químico del silicio metálico. Parte 4: Determinación del contenido de impurezas. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 25934.1-2010(英文版) Métodos para el análisis químico de oro de alta pureza. Parte 1: Extracción con acetato de etilo, separación, espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente. Determinación del contenido de elementos de impureza.
GB/T 13747.26-2022 Métodos para el análisis químico de circonio y aleaciones de circonio. Parte 26: Determinación del contenido de elementos de aleación e impurezas. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 14849.4-2008 Métodos para el análisis químico del silicio metálico. Parte 4: Determinación del contenido de elementos. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 25934.2-2010(英文版) Métodos para el análisis químico de oro de alta pureza. Parte 2: Estándar de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente, introducción del método estándar interno de enmienda. Determinación del contenido de elementos de impureza.
GB/T 24794-2009 Productos químicos fotográficos. Métodos de medición de los oligoelementos en los compuestos orgánicos. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
GB/T 27598-2011 Productos químicos fotográficos. Métodos de medición de los oligoelementos en los compuestos inorgánicos. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
GB/T 17418.7-2010 Métodos para el análisis de metales nobles en muestras geoquímicas. Parte 7: Determinación de elementos del grupo del platino. Mediante ensayo de fuego de sulfuro de níquel-espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
GB/T 20975.25-2020(英文版) Métodos para el análisis químico de aluminio y aleaciones de aluminio. Parte 25: Determinación del contenido de elementos. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 38513-2020 Métodos para el análisis químico de aleaciones de niobio y hafnio. Determinación del contenido de hafnio, titanio, circonio, tungsteno y tantalio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
GB/T 18882.3-2002 Métodos de análisis químico para óxido mixto de tierras raras de mineral RE de tipo absorbido por iones-Determinación del contenido relativo de quince REO-Método espectrográfico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
GB/T 20127.11-2006 Acero y aleaciones. Determinación del contenido de oligoelementos. Parte 11: Determinación del contenido de indio y talio mediante el método espectrométrico de masas con plasma acoplado inductivamente.

KR-KS, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14237-2003(2023) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio
KS I ISO 17294-2-2010 Calidad del agua－Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)－Parte 2: Determinación de 62 elementos
KS D ISO 16918-1-2018(2023) Acero y hierro. Determinación de nueve elementos mediante el método de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente. Parte 1: Determinación de estaño, antimonio, cerio, plomo y bismuto.
KS D ISO 16918-1-2018 Acero y hierro. Determinación de nueve elementos mediante el método de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente. Parte 1: Determinación de estaño, antimonio, cerio, plomo y bismuto.

Professional Standard - Commodity Inspection, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

SN/T 2698-2010 Análisis elemental de impurezas en productos de tungsteno. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.

国家能源局, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

SY/T 6404-2018 Métodos de análisis de espectrometría de masas y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente de elementos metálicos en rocas.

AT-ON, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

ONORM M 6279-1991 Análisis del agua. Determinación de 33 elementos mediante espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

ASTM E1504-11 Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1881-12 Guía estándar para análisis de cultivos celulares con SIMS
ASTM D8469-22 Método de prueba estándar para el análisis de múltiples elementos en matrices de cannabis mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
ASTM D846-84 Método de prueba estándar para el análisis de múltiples elementos en matrices de cannabis mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
ASTM C1845-16 Práctica estándar para la separación de elementos lantánidos de matrices de uranio mediante cromatografía iónica de alta presión (HPIC) para análisis isotópicos mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
ASTM E1881-06 Guía estándar para análisis de cultivos celulares con SIMS
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ASTM D8110-17 Método de prueba estándar para el análisis elemental de productos destilados mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
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ASTM E1162-11 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM D7691-23 Método de prueba estándar para análisis multielemental de petróleos crudos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
ASTM D7691-11e1 Método de prueba estándar para análisis multielemental de petróleos crudos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente 40;ICP-AES41;
ASTM D7691-16 Método de prueba estándar para análisis multielemental de petróleos crudos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
ASTM F3139-15(2023) Standard Test Method for Analysis of Tin-Based Solder Alloys for Minor and Trace Elements Using Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry
ASTM C1379-04 Método de prueba estándar para el análisis de orina en busca de isótopos de uranio-235 y uranio-238 mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
ASTM D5754-95(2006) Guía estándar para mostrar los resultados de los análisis químicos de aguas subterráneas para iones principales y oligoelementos Diagramas trilineales para dos o más análisis
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ASTM C1474-00(2006)e1 Método de prueba estándar para el análisis de la composición isotópica del uranio en material combustible de grado nuclear mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de cuadrupolo
ASTM C1379-97 Método de prueba estándar para el análisis de orina en busca de isótopos de uranio-235 y uranio-238 mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

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YS/T 896-2013 Métodos para el análisis químico de niobio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
YS/T 892-2013 Métodos para el análisis químico de titanio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
YS/T 898-2013 Métodos para el análisis químico del tantalio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
YS/T 900-2013 Métodos para el análisis químico del tungsteno de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente.
YS/T 474-2005 Determinación de oligoelementos en galio de alta pureza -método analítico ICP-MS
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YS/T 928.6-2013 Métodos para el análisis químico de hidróxido compuesto de níquel, cobalto y manganeso. Parte 6: Determinación del contenido de iones sulfato. Cromatografía iónica
YS/T 928.5-2013 Métodos para el análisis químico de hidróxido compuesto de níquel, cobalto y manganeso. Parte 5: Determinación del contenido de plomo. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
YS/T 928.3-2013 Métodos para el análisis químico de hidrogenoóxido compuesto de níquel, cobalto y manganeso. Parte 3: Determinación del contenido de níquel, cobalto y manganeso. Espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

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DS/EN ISO 17294-2:2005 Calidad del agua - Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2: Determinación de 62 elementos
DS/EN 13615/AC:2003 Métodos para el análisis de lingotes de estaño - Determinación del contenido de elementos de impureza en grados de estaño 99,90% y 99,85% mediante espectrometría atómica
DS/EN 13615:2002 Métodos para el análisis de lingotes de estaño - Determinación del contenido de elementos de impureza en grados de estaño 99,90% y 99,85% mediante espectrometría atómica

Lithuanian Standards Office , Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

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YS/T 870-2020 Métodos de análisis químico para aluminio puro Determinación del contenido de elementos de impurezas traza Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
YS/T 540.5-2018 Métodos para el análisis químico de vanadio Parte 5: Determinación de elementos de impureza mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
YS/T 1261-2018 Método de análisis químico de hafnio Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
YS/T 630-2016 Método de análisis químico de alúmina Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
YS/T 739.3-2020 Métodos para el análisis químico de electrolitos de aluminio Parte 3: Determinación del contenido elemental de sodio, calcio, magnesio, potasio y litio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
YS/T 1262-2018 Métodos de análisis químico para esponjas de titanio, titanio y aleaciones de titanio. Determinación del contenido de múltiples elementos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
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AS 1038.14.2:2003 Carbón y coque - Análisis y ensayos - Cenizas de carbón y coque de rango superior - Elementos mayoritarios y menores - Método espectrométrico de digestión ácida/absorción atómica con llama

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DIN EN ISO 17294-2:2005 Calidad del agua - Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2: Determinación de 62 elementos (ISO 17294-2:2003); Versión alemana EN ISO 17294-2:2004
DIN EN ISO 17294-2:2017-01 Calidad del agua. Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS). Parte 2: Determinación de elementos seleccionados, incluidos los isótopos de uranio (ISO 17294-2:2016); Versión alemana EN ISO 17294-2:2016 / Nota: Se sustituirá por DIN EN ISO 172...
DIN 51456:2013-10 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores: análisis de superficies de obleas de silicio mediante determinación de elementos múltiples en soluciones de análisis acuosas mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
DIN 51456:2013 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores: análisis de superficies de obleas de silicio mediante determinación de elementos múltiples en soluciones de análisis acuosas mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
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Professional Standard - Geology, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

DZ/T 0064.80-2021 Métodos de análisis de la calidad del agua subterránea Parte 80: Determinación de litio, rubidio, cesio y otros 40 elementos mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
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DZ/T 0279.32-2016 Métodos analíticos de muestras geoquímicas regionales Parte 32: Determinación de 15 elementos de tierras raras como lantano y cerio en espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente en solución ácida cerrada
DZ/T 0279.33-2016 Métodos analíticos de muestras geoquímicas regionales Parte 33: Determinación de lantano, cerio y otros 15 elementos de tierras raras Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente de intercambio iónico de fusión alcalina
DZ/T 0253.1-2014 Métodos analíticos para muestras biológicas en la evaluación de ecogeoquímica. Parte 1: Determinación del contenido de 19 elementos, incluidos litio, boro, vanadio, etc. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Petroleum, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

SY/T 6404-1999 Método analítico de elementos metálicos en roca sedimentaria por ICP-AES

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T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios
T/CSTM 00780.3-2023 Métodos para el análisis químico del vanadato de sodio. Parte 3: Determinación de silicio, aluminio, etc. Contenido de 12 elementos de impureza: plasma acoplado inductivamente
T/QAS 082.13-2023 Análisis químico de la sal de roca y la sal de Glauber, Parte 13: Determinación de 10 elementos metálicos como el berilio y el bario mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
T/CWAN 0029.1-2021 Métodos para el análisis químico de materiales de soldadura a base de níquel - Parte 1: Determinación del contenido de múltiples elementos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

DB34/T 2127.4-2014 Métodos de muestras analíticas para estudios geoquímicos regionales Parte 4: Determinación del contenido de multielementos mediante espectrometría de masas de plasma
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Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

DB15/T 688.1-2014 Método para el análisis químico del polvo de dióxido de torio Parte 1: Determinación de 22 elementos de impureza como el aluminio y el níquel en polvo de dióxido de torio: espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente

国家食品药品监督管理局, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

YY/T 1507.2-2016 Determinación de elementos de impureza en polvo de polietileno de peso molecular ultraalto para implantes quirúrgicos Parte 2: Determinación del contenido del elemento cloro (Cl) mediante cromatografía iónica

Professional Standard - Rare Earth, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

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XB/T 617.2-2014 Métodos de análisis químico de aleación de neodimio, hierro y boro. Parte 2: Determinación de quince contenidos relativos de REO.

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

EJ/T 20163-2018 Determinación de veintiocho elementos impuros como la plata en polvo de trióxido de uranio postprocesado mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
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空气和废气监测分析方法 3.2.13-2003 Tercera parte Monitoreo de la calidad del aire Capítulo dos Materia particulada y sus elementos Trece Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)

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Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

GJB 5404.16-2005 Métodos de análisis de oligoelementos en superaleaciones. Parte 16: Determinación del contenido de boro, escandio, galio, plata, indio, estaño, antimonio, cerio, hafnio, talio, plomo y bismuto mediante el método espectrométrico de masas de plasma acoplado inductivamente.
GJB 5404.4-2005 Métodos de análisis de oligoelementos en superaleaciones Parte 4: Determinación del contenido de cadmio mediante extracción con metil isobutil cetona método espectrométrico de fluorescencia atómica

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Análisis de elementos por espectrometría de masas de iones secundarios.

GJB 8781.16-2015 Métodos para el análisis de oligoelementos en superaleaciones Parte 16: Determinación de boro, escandio, galio, plata, indio, estaño, antimonio, cerio, hafnio, talio, plomo y bismuto mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
GJB 8781.4-2015 Método de análisis de oligoelementos de aleación a alta temperatura. Parte 4: Extracción y separación de metil isobutil cetona. Determinación del contenido de cadmio mediante espectrometría de fluorescencia atómica.