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lodo de metales preciosos

lodo de metales preciosos, Total: 18 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en lodo de metales preciosos son: Metales no ferrosos, Productos de metales no ferrosos., pruebas de metales.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, lodo de metales preciosos

• GB/T 17472-1998 Especificación para pastas de metales preciosos.
• GB/T 17472-2008 Especificación para pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
• GB/T 17472-2022 Especificación para pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
• GB/T 17473.2-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de finura
• GB/T 17473.3-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resistencia de las láminas.
• GB/T 17473.5-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la viscosidad.
• GB/T 17473.4-2008 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Determinación de la adhesión.
• GB/T 17473.6-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resolución.
• GB/T 17473.2-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la finura.
• GB/T 17473.3-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resistencia de las láminas.
• GB/T 17473.1-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación del contenido de sólidos.
• GB/T 17473.5-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la viscosidad.
• GB/T 17473.6-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resolución.
• GB/T 17473.4-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la adhesión.
• GB/T 17473.1-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación del contenido de sólidos.
• GB/T 17473.7-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura.
• GB/T 17473.7-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa: prueba de soldabilidad y resistencia a la lixiviación de soldadura.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, lodo de metales preciosos

• GB/T 17473.7-2022 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Parte 7: Determinación de la soldabilidad y la resistencia a la lixiviación de la soldadura.

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