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fotoluminiscencia
fotoluminiscencia, Total: 11 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en fotoluminiscencia son: Materiales semiconductores, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Joyería, Minerales no metalíferos, Dispositivos semiconductores, Fluidos aislantes.
Professional Standard - Electron, fotoluminiscencia
- SJ/T 11492-2015 Métodos de prueba para medir la composición de obleas de fosfuro de arseniuro de galio mediante fotoluminiscencia
British Standards Institution (BSI), fotoluminiscencia
- BS EN 13751:2009 Productos alimenticios - Detección de alimentos irradiados mediante luminiscencia fotoestimulada
European Committee for Standardization (CEN), fotoluminiscencia
- EN 13751:2002 Productos alimenticios - Detección de alimentos irradiados mediante luminiscencia fotoestimulada
- EN 13751:2009 Productos alimenticios - Detección de alimentos irradiados mediante luminiscencia fotoestimulada
Group Standards of the People's Republic of China, fotoluminiscencia
- T/CAQI 75-2019 Espectroscopía de fotoluminiscencia para la identificación de joyas y jade
German Institute for Standardization, fotoluminiscencia
- DIN EN 13751:2009 Productos alimenticios - Detección de alimentos irradiados mediante luminiscencia fotoestimulada; Versión alemana EN 13751:2009
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), fotoluminiscencia
- JIS H 0615:2021 Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.
- JIS H 0615:1996 Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.
International Organization for Standardization (ISO), fotoluminiscencia
- ISO/TS 10867:2019 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante espectroscopia de fotoluminiscencia en el infrarrojo cercano
International Electrotechnical Commission (IEC), fotoluminiscencia
- IEC 63068-3:2020 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia. Parte 3: Método de prueba para detectar defectos mediante fotoluminiscencia.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), fotoluminiscencia
- KS D 0078-2008 Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.