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cuerpo de dos fotones

cuerpo de dos fotones, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en cuerpo de dos fotones son: Optoelectrónica. Equipo láser, Óptica y medidas ópticas., sujetadores, Equipo óptico, Física. Química, Lámparas y equipos relacionados., Química analítica, Componentes electrónicos en general., Aplicaciones de la tecnología de la información., Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Características y diseño de máquinas, aparatos, equipos., Sellos, glándulas, Material rodante ferroviario, Metales ferrosos, Mediciones de radiación, Equipamiento e instalaciones deportivas., Combustibles, Dispositivos de visualización electrónica., Circuitos impresos y placas., Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Circuitos integrados. Microelectrónica, Microbiología, Leche y productos lácteos, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Comunicaciones de fibra óptica., Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Sistemas de vehículos de carretera, Dispositivos semiconductores, Vocabularios, ingeniería de energía solar, Residuos, Compatibilidad electromagnética (CEM), Calidad del agua, Ferroaleaciones, Protección de radiación, Horología, Minerales metalíferos, Equipo medico, Productos de la industria textil., Productos de metales no ferrosos., Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., pruebas de metales, Ropa, ingeniería de energía nuclear, Tecnología de la información (TI) en general, Productos alimenticios en general., Alimentos para animales, Cerámica, Goma, Dispositivos de almacenamiento de datos, Aplicaciones de imágenes de documentos, ingenieria electrica en general, Pruebas eléctricas y electrónicas., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Sistemas de energía fluida, Pinturas y barnices, carbones, Agricultura y silvicultura, Condensadores, Productos de la industria química., Refractarios, Esterilización y desinfección, Vaso, Medicina Veterinaria, Educación, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Protección del medio ambiente, Equipo de minería, Minerales no metalíferos, Bebidas, Farmacia, Productos de caucho y plástico..

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, cuerpo de dos fotones

• GJB 33/18-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador semiconductor de interruptor analógico bidireccional tipo GO417
• GJB 33/16-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fototransistor semiconductor tipo 3DU32.
• GJB 33/17-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador semiconductor tipo GO11.
• GJB 8119-2013 Especificaciones generales para dispositivos optoelectrónicos semiconductores.
• GJB/Z 40.4-1993 Dispositivos electrónicos de vacío militar, dispositivos de visualización de plasma, fluorescencia y brillo de espectro
• GJB 33/20-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador tipo GH302.
• GJB 33/22-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador tipo GO103.
• GJB 33/21-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para la fotocopiadora de la serie GD310A.
• GJB 33/23-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador tipo GH3201Z-4
• GJB 33/19-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el fotoacoplador tipo GH302-4
• GJB/Z 41.3-1993 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
• GJB 5018-2001 Requisitos generales para el cribado y aceptación de dispositivos optoelectrónicos semiconductores.
• GJB 33/15-2011 Dispositivo optoelectrónico semiconductor. Especificación detallada para el diodo emisor de infrarrojos semiconductor tipo BT401

Professional Standard - Electron, cuerpo de dos fotones

• SJ 50033/99-1995 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para diodo emisor de luz de doble color o/G para tipo GF511
• SJ 20786.1-2002 Conjunto fotoeléctrico semiconductor Especificación detallada para localizador fotoeléctrico dúplex en miniatura para el tipo CBGS 2301
• SJ 50033/111-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación de demora para el fototransistor tipo GT16 Si.NPN
• SJ 2247-1982 Describe las dimensiones de los dispositivos optoelectrónicos semiconductores.
• SJ/T 11011-1996 Métodos de análisis para soldadura fuerte con plata pura para componentes electrónicos - Determinación de plomo (método espectrofotométrico-ditizona)
• SJ 50033/109-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para los diodos láser semiconductores tipos GJ9031T, GJ9032T y GJ9034T.
• SJ 50033/112-1996 Dispositivos optoelectrónicos scmiconductores. Especificación detallada para fotodiodos tipo GD3251Y.
• SJ 50033/113-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para fotodiodos tipo GD3252Y.
• SJ/T 11030-1996 Métodos de análisis para soldadura fuerte de oro-cobre y oro-níquel para componentes electrónicos - Determinación de plomo (método espectrofotométrico de ditizona)
• SJ 20644.1-2001 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores Especificación detallada para el fotodiodo PIN tipo GD3550Y
• SJ 20644.2-2001 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores Especificación detallada para el fotodiodo PIN tipo GD101
• SJ/T 11866-2022 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificaciones detalladas para diodos emisores de luz de potencia de luz blanca con sustrato de silicio
• SJ 50033/136-1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz roja para el tipo GF116.
• SJ 50033/143-1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor rojo tipo GF1120.
• SJ 50033/137-1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz naranja-rojo para el tipo GF216
• SJ/T 11405-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición
• SJ 50033/139-1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz verde para el tipo GF4111.
• SJ 50033/138-1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz amarillo para el tipo GF318.
• SJ 50033/58-1995 Dispositivo optoelectrónico semiconductor Especificación detallada para diodo emisor de luz verde para tipo GF413
• SJ/T 11393-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de potencia
• SJ 50033/142-1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor verde tipo GF4112.
• SJ 50033/57-1995 Dispositivo optoelectrónico semiconductor Especificación detallada para diodo emisor de luz roja para tipo GF115
• SJ/T 11400-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de menor potencia
• SJ/T 11817-2022 Especificaciones detalladas en blanco para diodos emisores de luz para dispositivos optoelectrónicos semiconductores y lámparas de incandescencia.
• SJ 2798-1987 Método para la determinación de partículas en gases de calidad electrónica. Método de dispersión de la luz.
• SJ 3123-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG1779
• SJ 50033/140-1999 Dispositivos semiconductores discretos Especificación detallada para el transistor de potencia de pulso de microondas de silicio tipo 3DA502
• SJ 3120-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG1215
• SJ 3121-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG2464
• SJ/T 10075-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos. Circuito integrado semiconductor CJ 75361 controlador dual TTL-MOS
• SJ 3122-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG3177

Professional Standard - Geology, cuerpo de dos fotones

• DZ 0030-1992 Condiciones técnicas del fotómetro de fluorescencia atómica de doble canal XDY-1
• DZ/T 0064.42-1993 Método de inspección de la calidad del agua subterránea Determinación de estroncio y bario mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Military and Civilian Products, cuerpo de dos fotones

• WJ 719-2000 Espárragos para orificio sin rosca de cuerpo de aleación de aluminio
• WJ 720-2000 Espárragos para agujero no roscado de cuerpo de aleación de aluminio - Espárragos para reparación
• WJ 722-2000 Especificaciones de espárragos para orificios sin rosca de cuerpo de aleación de aluminio.
• WJ/Z 104-2000 Requisito tecnológico para pernos para orificio no roscado de cuerpo de aleación de aluminio.

International Organization for Standardization (ISO), cuerpo de dos fotones

• ISO 23364:2021 Óptica y Fotónica — Filtros ópticos de absorción masiva
• ISO/TS 17466:2015 Uso de espectroscopía de absorción UV-Vis en la caracterización de puntos cuánticos coloidales de calcogenuro de cadmio.
• ISO 17915:2018 Óptica y fotónica: método de medición de láseres semiconductores para detección.
• ISO 11382:2022 Óptica y fotónica. Materiales y componentes ópticos. Caracterización de materiales ópticos utilizados en el rango espectral infrarrojo de 0,78 μm a 25 μm.
• ISO 28057:2014 Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia.
• ISO 28057:2019 Dosimetría clínica. Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia.
• ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
• ISO 22725:2007 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO 11382:2010
• ISO 22033:2005
• ISO 11435:2005 Aleaciones de níquel - Determinación de molibdeno - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO 22033:2011 Aleaciones de níquel - Determinación de niobio - Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente
• ISO/TR 12654:1997 Imagen electrónica - Recomendaciones para el manejo de sistemas de grabación electrónica para el registro de documentos que puedan ser requeridos como evidencia, en disco óptico WORM
• ISO/TR 17055:2002 Acero - Determinación del contenido de silicio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO 11885:1996 Calidad del agua - Determinación de 33 elementos mediante espectroscopía de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO 13933:2014 Acero y hierro - Determinación de calcio y magnesio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO/TS 18223:2015 Aleaciones de níquel - Determinación del contenido de níquel - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO 22962:2008 Titanio y aleaciones de titanio - Determinación de hierro - Espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
• ISO 11435:2011 Aleaciones de níquel - Determinación del contenido de molibdeno - Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente
• ISO 10278:1995 Acero - Determinación del contenido de maganeso - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ISO 8769:2010 Fuentes de referencia - Calibración de monitores de contaminación de superficies - Emisores alfa, beta y fotones
• ISO 14133-1:2016 Óptica y fotónica. Especificaciones para binoculares, monoculares y catalejos. Parte 1: Instrumentos de uso general.
• ISO 4155:2022 Magnesio y aleaciones de magnesio. Determinación del níquel. Método espectrométrico de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente.
• ISO 11535:1998 Minerales de hierro - Determinación de diversos elementos - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

German Institute for Standardization, cuerpo de dos fotones

• DIN ISO 23364:2022-11 Óptica y fotónica. Filtros ópticos de absorción masiva (ISO 23364:2021)
• DIN EN 914:2019 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad; Versión alemana e inglesa prEN 914:2019
• DIN EN 914:2020 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• DIN 7901:1998 Equipos de gimnasia - Barras paralelas con colchoneta entre el marco - Requisitos y métodos de prueba; versión consolidada con DIN EN 914
• DIN 58381:2021-06 Óptica y fotónica - Elementos operativos de telescopios, binoculares y miras telescópicas
• DIN 58381:2021 Óptica y fotónica - Elementos operativos de telescopios, binoculares y miras telescópicas
• DIN EN 241:2000 Productos petrolíferos líquidos - Determinación del contenido de sodio - Método espectrométrico de absorción atómica; Versión alemana EN 241:2000
• DIN 50440:1998 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Medición de la vida útil del portador en monocristales de silicio - Vida útil del portador de recombinación con baja inyección mediante el método de fotoconductividad
• DIN 6809-6:2004 Dosimetría clínica - Parte 6: Aplicación de radiación de fotones y electrones de alta energía en radioterapia percutánea
• DIN EN ISO 28057:2020 Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2014)
• DIN 6809-6:2020 Dosimetría clínica - Parte 6: Aplicación de radiación de fotones y electrones de alta energía en telerradioterapia
• DIN 6809-6:2020-11 Dosimetría clínica - Parte 6: Aplicación de radiación de fotones y electrones de alta energía en telerradioterapia
• DIN ISO 10110-18:2019-09 Óptica y fotónica. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 18: Birrefringencia de tensión, burbujas e inclusiones, homogeneidad y estrías (ISO 10110-18:2018)
• DIN ISO 8769:2012 Fuentes de referencia - Calibración de monitores de contaminación de superficies - Emisores alfa, beta y fotones (ISO 8769:2010)
• DIN CEN/TS 15605:2008 Cobre y aleaciones de cobre - Espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente; Versión alemana CEN/TS 15605:2007
• DIN EN 15605:2010-12 Cobre y aleaciones de cobre - Espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente; Versión alemana EN 15605:2010
• DIN EN 63029:2018-05 Sistemas y equipos de audio, vídeo y multimedia - Tecnologías de libros electrónicos y publicaciones electrónicas multimedia - Libros electrónicos basados en imágenes con gráficos rasterizados (IEC 63029:2017 + COR1:2018); Versión alemana EN 63029:2017 + AC:2018
• DIN EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente; Versión alemana EN 14242:2004
• DIN 51790-3:1978 Pruebas de Combustibles Líquidos; Determinación del Contenido de Vanadio; Contenido de vanadio en el rango de 0,4 a 4,0 mg/kg; Determinación mediante espectroscopia de absorción atómica sin llama después de la incineración

(U.S.) Ford Automotive Standards, cuerpo de dos fotones

• FORD FLTM BP 115-1-2001 DESPLAZAMIENTO DEL COBRE POR ELASTÓMEROS EN PRESENCIA DE GASOLINA

British Standards Institution (BSI), cuerpo de dos fotones

• BS PD ISO/TS 17466:2015 Uso de espectroscopía de absorción UV-Vis en la caracterización de puntos cuánticos coloidales de calcogenuro de cadmio.
• 20/30377825 DC BS ISO 23364. Óptica y Fotónica. Filtros ópticos de absorción masiva.
• BS EN 61988-2-1:2012 Paneles de visualización de plasma. Métodos de medición. Óptica y optoeléctrica
• BS CECC 23100-003:1996 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada de capacidades: tableros impresos por una y dos caras con orificios lisos.
• BS ISO 17915:2018 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección.
• BS ISO 23364:2021 Óptica y Fotónica. Filtros ópticos de absorción masiva. Parte 1: definiciones y propiedades ópticas.
• BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
• BS EN 61988-2-1:2002 Paneles de visualización de plasma - Métodos de medición - Ópticos
• BS EN 61988-2-2:2003 Paneles de visualización de plasma - Métodos de medición - Optoeléctricos
• BS EN 61988-2-1:2003 Paneles de visualización de plasma. Métodos de medición. Óptico
• BS EN 62703:2013 Expresión del rendimiento de analizadores fluorométricos de oxígeno en medios líquidos.
• BS QC 720105:1997 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos - Especificación detallada en blanco para fotodiodos pin con/sin pigtail, para sistemas o subsistemas de fibra óptica
• BS QC 720106:1997 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos - Especificación detallada en blanco para fotodiodos de avalancha (APD) con/sin pigtail, para sistemas o subsistemas de fibra óptica
• BS EN 120003:1986 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación detallada en blanco - Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
• BS ISO 28057:2014 Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia.
• BS EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica. Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia.
• PD CISPR/TR 30-1:2012 Método de ensayo sobre emisiones electromagnéticas. Equipos electrónicos para lámparas fluorescentes de simple y doble casquillo.
• BS ISO 10110-18:2018 Óptica y fotónica. Elaboración de dibujos para elementos y sistemas ópticos - Birrefringencia de tensiones, burbujas e inclusiones, homogeneidad y estrías.
• BS QC 720100:1991 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Dispositivos semiconductores. Especificación seccional para dispositivos optoelectrónicos.
• BS EN 120000:1996 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificaciones generales: dispositivos semiconductores optoelectrónicos y de cristal líquido.
• DD ENV 14029-2001 Plomo y aleaciones de plomo. Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), previa separación de la matriz de plomo
• BS ISO 14133-1:2016 Óptica y fotónica. Especificaciones para binoculares, monoculares y catalejos. Instrumentos de uso general
• BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
• BS EN 120003:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
• BS DD ENV 14226:2002 Cerámica técnica avanzada - Métodos de ensayo para polvos cerámicos - Determinación de calcio, magnesio, hierro y aluminio en nitruro de silicio mediante espectroscopia de absorción atómica de llama (FAAS) o espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (IC
• BS ISO 14133-2:2016 Óptica y fotónica. Especificaciones para binoculares, monoculares y catalejos. Instrumentos de alto rendimiento
• BS ISO 14132-2:2015 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos: términos para binoculares, monoculares y telescopios
• BS 123100:2001 Sistema de evaluación de la calidad - Especificación seccional - Tableros rígidos impresos a una y dos caras con agujeros lisos
• BS ISO 13933:2014 Acero y hierro. Determinación de calcio y magnesio. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• BS ISO 22682:2017 Minerales de hierro. Determinación de oligoelementos. Método espectrométrico de plasma
• BS EN ISO 3815-2:2005 Zinc y aleaciones de zinc - Análisis mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• BS ISO 22962:2008 Titanio y aleaciones de titanio - Determinación de hierro - Espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
• BS ISO 8769:2016 Fuentes de referencia. Calibración de monitores de contaminación de superficies. Emisores alfa, beta y fotones
• BS ISO 8769:2010 Fuentes de referencia. Calibración de monitores de contaminación de superficies. Emisores alfa, beta y fotones
• BS ISO 9211-4:2022 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Recubrimientos ópticos. Métodos de ensayo específicos: abrasión, adherencia y resistencia al agua.
• DD ENV 14029:2001 Plomo y aleaciones de plomo. Análisis mediante espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente (ICP-ES), previa separación de la matriz de plomo
• BS EN 15605:2010
• BS EN 63029:2017 Sistemas y equipos de audio, vídeo y multimedia. Tecnologías de publicación electrónica y libros electrónicos multimedia. Libros electrónicos basados en imágenes de rastergraphics
• BS EN 62321-5:2014 Determinación de determinadas sustancias en productos electrotécnicos. Cadmio, plomo y cromo en polímeros y electrónica y cadmio y plomo en metales por AAS, AFS, ICP-OES e ICP-MS
• BS EN 10361:2015 Aceros aleados. Determinación del contenido de níquel. Método espectrométrico de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• BS EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• BS EN 62007-1:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica: plantilla de especificaciones para clasificaciones y características esenciales
• BS EN 62007-1:2015 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Plantilla de especificación para clasificaciones y características esenciales
• BS ISO 20258:2018 Aleaciones de magnesio y litio. Determinación de litio. Método espectrométrico de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• PD IEC TS 62607-3-3:2020 Nanofabricación. Características clave de control. Nanomateriales luminiscentes. Determinación de la vida útil de la fluorescencia de puntos cuánticos semiconductores mediante el recuento de fotones individuales correlacionados en el tiempo (TCSPC)
• 18/30372392 DC BS ISO 23166. Aleaciones de níquel. Determinación del tantalio. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

AT-ON, cuerpo de dos fotones

• ONORM S 4626-1979 Equipos de gimnasia; escaleras de celosía; doble, triple
• OENORM EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2019)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), cuerpo de dos fotones

• KS C IEC 62776:2020 Lámparas LED de doble tapa diseñadas para modernizar lámparas fluorescentes lineales: especificaciones de seguridad
• KS M 1080-2008(2018) Determinación de plomo y cadmio en espuma para absorción de impactos.
• KS M ISO 10478-2003(2018) Productos derivados del petróleo - Método de prueba para el contenido de aluminio y silicio en petróleo pesado - Fotofotometría de absorción atómica y emisión de plasma acoplado inductivamente
• KS B 6869-2009 Contador automático de partículas por dispersión de luz para líquidos.
• KS C CISPR 30-2003(2018) Método de prueba sobre emisiones electromagnéticas procedentes de balastos electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.
• KS B 6869-2009(2019) Contador automático de partículas por dispersión de luz para líquidos.
• KS M 0032-2009 Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión ICP
• KS D ISO 22033:2006 Aleaciones de níquel－Determinación de niobio－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS D ISO 10278-2003(2018) Acero－Determinación del contenido de manganeso－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS B ISO 14132-2:2019 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 2: Términos aplicables a binoculares, monoculares y telescopios.
• KS D ISO 3815-2:2006 Zinc y aleaciones de zinc －Parte 2: Análisis mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• KS B ISO TR 17055:2008 Acero－Determinación del contenido de silicio－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS B ISO TR 17055-2008(2018) Acero－Determinación del contenido de silicio－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS D 1674-2009 Métodos para el análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente de oligoelementos en oro puro.
• KS C 6421-2002 CONDENSADORES ELECTROLÍTICOS FIJOS DE ALUMINIO CON ELECTROLITO NO SÓLIDO PARA USO EN EQUIPOS ELECTRÓNICOS
• KS C 6421-1982 CONDENSADORES ELECTROLÍTICOS FIJOS DE ALUMINIO CON ELECTROLITO NO SÓLIDO PARA USO EN EQUIPOS ELECTRÓNICOS
• KS D ISO 22962:2010 Titanio y aleaciones de titanio－Determinación de hierro－Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS D ISO 10278:2003 Acero-Determinación del contenido de manganeso-Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS D ISO 11435:2006 Aleaciones de níquel－Determinación de molibdeno－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS D ISO TS 18223:2018 Aleaciones de níquel. Determinación del contenido de níquel. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• KS D ISO 22033:2021 Aleaciones de níquel. Determinación del niobio. Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente.
• KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
• KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
• KS L ISO 26845-2012(2022) Análisis químico de refractarios: requisitos generales para análisis químico húmedo, espectrometría de absorción atómica y métodos de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• KS L ISO 26845-2012(2017) Análisis químico de refractarios: requisitos generales para análisis químico húmedo, espectrometría de absorción atómica y métodos de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• KS D 1939-2003 Análisis químico de aleaciones de zinc mediante método espectrométrico de emisión de plasma acoplado inductivamente.
• KS E ISO 11535:2011 Minerales de hierro－Determinación de diversos elementos－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS E ISO 11535-2011(2016) Minerales de hierro－Determinación de diversos elementos－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• KS D ISO 22962-2010(2020) Titanio y aleaciones de titanio－Determinación de hierro－Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

KR-KS, cuerpo de dos fotones

• KS C IEC 62776-2020 Lámparas LED de doble tapa diseñadas para modernizar lámparas fluorescentes lineales: especificaciones de seguridad
• KS B ISO 14132-2-2019 Óptica y fotónica. Vocabulario para sistemas telescópicos. Parte 2: Términos aplicables a binoculares, monoculares y telescopios.
• KS I ISO 17294-2014 Calidad del agua: aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
• KS D ISO TS 18223-2018 Aleaciones de níquel. Determinación del contenido de níquel. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• KS D ISO 22033-2021 Aleaciones de níquel. Determinación del niobio. Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente.

CO-ICONTEC, cuerpo de dos fotones

• ICONTEC 991-1983 ELECTRICIDAD Cables telefónicos urbanos en pares aislados y recubiertos con polietileno para uso exterior
• ICONTEC 2975-1991 Electrotecnia. Método de ensayo para determinar la tensión de ruptura dieléctrica en líquidos aislantes utilizando electrodos de disco.
• ICONTEC 3217-1991 Electrotecnia. Metodo de ensayo para determinar las caracteristicas de las perdidas en ca y la permitividad relativa (constante dielectrica) de los liquidos aislantes electricos.

PH-BPS, cuerpo de dos fotones

• PNS ISO/TS 17466:2021 Uso de espectroscopía de absorción UV-Vis en la caracterización de puntos cuánticos coloidales de calcogenuro de cadmio.

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, cuerpo de dos fotones

• AIA/NAS NAS 4124-1996 Disipador De Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Doble Enlace
• AIA/NAS NAS 4123-1995 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, para Paquetes en Línea Dual (DIP)
• AIA/NAS NAS4123-2012 DISIPADOR DE CALOR, COMPONENTE ELÉCTRICO-ELECTRÓNICO, DISPOSITIVOS SEMICONDUCTOR, PARA PAQUETES DOBLES EN LÍNEA (DIP)

Professional Standard - Machinery, cuerpo de dos fotones

• JB/T 9495.4-1999 Método de medición de la tensión: birrefringencia de cristales ópticos

Association Francaise de Normalisation, cuerpo de dos fotones

• NF EN 62776:2015 Lámparas LED de doble extremo diseñadas para reemplazar las lámparas fluorescentes lineales - Especificaciones de seguridad
• NF S52-301*NF EN 914:2020 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• NF M60-513:1990 RADIACIONES DE REFERENCIA X Y GAMMA PARA CALIBRAR DOSÍMETROS Y DOSÍMETROS Y PARA DETERMINAR SU RESPUESTA EN FUNCIÓN DE LA ENERGÍA DEL FOTON. RADIACIONES DE REFERENCIA DE FOTONES A ENERGÍAS ENTRE 4 MEV Y 9 MEV.
• UTE C86-614:1977 Componentes electrónicos - Transistores de conmutación bipolares - Colección de especificaciones especiales.
• NF V04-040-3:1997 Leche. Enumeración de células somáticas. Parte 3: método fluorooptoelectrónico.
• NF A89-207:2000 Soldadura: Determinación del número de ferrita (FN) en metales de soldadura de acero inoxidable austenítico y ferrítico-austenítico dúplex Cr-Ni.
• NF C46-254*NF EN 62703:2013 Expresión del rendimiento de analizadores fluorométricos de oxígeno en medios líquidos.
• NF EN 62703:2013 Expresión del rendimiento de analizadores fluorométricos de oxígeno en medios líquidos.
• NF M60-565:2014 Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia.
• NF S87-500:1987 Horología. Transmisión de la hora desde el reloj maestro a los relojes secundarios mediante señales codificadas en doble cuerda. Requisitos.
• NF EN 63029:2017 Sistemas y equipos multimedia de audio y vídeo - Tecnologías de publicación electrónica multimedia y libros electrónicos - Libros electrónicos con imágenes rasterizadas
• NF ISO 14605:2013 Cerámica técnica: fuentes de luz para probar materiales fotocatalíticos semiconductores en un entorno de iluminación interior.
• UTE C86-614/A2U*UTE C86-614/A2:1978 COMPONENTES ELECTRÓNICOS. TRANSISTORES BIPOLARES PARA APLICACIONES DE CONMUTACIÓN. RECOPILACIÓN DE ESPECIFICACIONES DE DETALLE EN EL ALCANCE DE LAS NORMAS FRANCESAS NF C 86-010 Y NF C 86-614.
• UTE C86-614/A1U*UTE C86-614/A1:1978 COMPONENTES ELECTRÓNICOS. TRANSISTORES BIPOLARES PARA APLICACIONES DE CONMUTACIÓN. RECOPILACIÓN DE ESPECIFICACIONES DE DETALLE EN EL ALCANCE DE LAS NORMAS FRANCESAS NF C 86-010 Y NF C 86-614.
• NF C93-548-2-1*NF EN 61988-2-1:2012 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: métodos de medición - Ópticos y optoeléctricos
• NF C86-503:1986 Dispositivos semiconductores. Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Fototransistores, transistores fotodarlington y conjuntos de fototrasistores. Especificación de detalle en blanco CECC 20 003.
• NF ISO 10110-18:2019 Óptica y fotónica. Indicaciones en dibujos para elementos y sistemas ópticos. Parte 18: birrefringencia bajo tensión, burbujas e inclusiones, homogeneidad y rayas.
• NF E48-682*NF ISO 11943:2021 Potencia de fluidos hidráulicos - Sistemas automáticos de conteo de partículas en línea para líquidos - Métodos de calibración y validación
• NF M60-565:2021 Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia
• NF A08-920:2008 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• NF T60-106:2001 Productos derivados del petróleo líquidos - Determinación de elementos aditivos, de desgaste y de contaminación en aceites lubricantes nuevos y usados - Método de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP/AES)
• NF S10-008-18*NF ISO 10110-18:2019 Óptica y fotónica. Elaboración de dibujos de elementos y sistemas ópticos. Parte 18: birrefringencia de tensiones, burbujas e inclusiones, homogeneidad y estrías.
• NF T90-136:1998 Calidad del agua - Determinación de 33 elementos mediante espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• NF M60-517:2010 Fuentes de referencia - Calibración de monitores de contaminación de superficies - Emisores alfa, beta y fotones.
• NF EN 17746:2023 Cigarrillos electrónicos y líquidos electrónicos: determinación de la consistencia de la administración de nicotina durante secuencias de caladas definidas con un solo cigarrillo electrónico
• NF ISO 23166:2019 Aleaciones de níquel - Determinación de tantalio - Método de espectrometría de emisión óptica con fuente de plasma inducida de alta frecuencia
• NF C92-329*NF EN 63029:2017 Sistemas y equipos de audio, vídeo y multimedia - Tecnologías de publicación electrónica y libros electrónicos multimedia - Libros electrónicos basados en imágenes con gráficos rasterizados
• NF C05-100-4*NF EN 62321-4:2014 Determinación de determinadas sustancias en productos electrotécnicos. Parte 4: mercurio en polímeros, metales y productos electrónicos mediante CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES e ICP-MS.
• NF ISO 9211-4:2022 Óptica y fotónica - Tratamientos ópticos - Parte 4: métodos de ensayo específicos: abrasión, adherencia y resistencia al agua
• NF EN ISO 21587-3:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (método alternativo al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 3: métodos por espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de emisión atómica con plasma...
• NF C86-613:1981 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: transistores bipolares clasificados en caja para aplicaciones de baja frecuencia.
• NF C86-617:1981 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Transistores bipolares clasificados en caja para aplicaciones de alta frecuencia.

Professional Standard - Judicatory, cuerpo de dos fotones

• SF/T 0130-2023

American Society for Testing and Materials (ASTM), cuerpo de dos fotones

• ASTM E2152-12(2023) Práctica estándar para calcular los colores de objetos fluorescentes a partir de datos fotométricos biespectrales
• ASTM E2450-16
• ASTM E2152-12(2017) Práctica estándar para calcular los colores de objetos fluorescentes a partir de datos fotométricos biespectrales
• ASTM E1855-10 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E1855-20 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E1855-04 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E1855-04e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM D6502-10(2022) Método de prueba estándar para la medición de muestras integradas en línea de sólidos suspendidos de bajo nivel y sólidos iónicos en agua de proceso mediante fluorescencia de rayos X (XRF)
• ASTM E1855-05e1 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E1855-05 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E1855-96 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E1855-15 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM D6860-03 Tablas estándar propuestas de medidas corporales para niños, tallas 6 a 24 Husky
• ASTM E1097-03 Guía estándar para el análisis de espectrometría de emisión de plasma de corriente directa
• ASTM D4190-08 Método de prueba estándar para elementos en el agua mediante espectroscopia de emisión atómica de plasma de argón de corriente continua
• ASTM D5184-01 Métodos de prueba estándar para la determinación de aluminio y silicio en fueloil mediante incineración, fusión, espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente y espectrometría de absorción atómica
• ASTM D5184-01(2006) Métodos de prueba estándar para la determinación de aluminio y silicio en fueloil mediante incineración, fusión, espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente y espectrometría de absorción atómica
• ASTM D4190-99 Método de prueba estándar para elementos en el agua mediante espectroscopia de emisión atómica de plasma de argón de corriente continua
• ASTM D4951-14 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ASTM D6357-19 Métodos de prueba estándar para la determinación de oligoelementos en carbón, coque y residuos de combustión de procesos de utilización de carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente, de forma inductiva
• ASTM D6357-21 Métodos de prueba estándar para la determinación de oligoelementos en carbón, coque y residuos de combustión de procesos de utilización de carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente, de forma inductiva
• ASTM E1832-08 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
• ASTM E1832-08(2017) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
• ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
• ASTM E1613-04 Método de prueba estándar para la determinación de plomo mediante técnicas de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES), espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de absorción atómica en horno de grafito (GFAAS)
• ASTM E2490-09 Guía estándar para la medición de la distribución del tamaño de partículas de nanomateriales en suspensión mediante espectroscopia de correlación de fotones (PCS)
• ASTM E2490-09(2015) Guía estándar para la medición de la distribución del tamaño de partículas de nanomateriales en suspensión mediante espectroscopia de correlación de fotones (PCS)
• ASTM D5184-12 Métodos de prueba estándar para la determinación de aluminio y silicio en fueloil mediante incineración, fusión, espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente y espectrometría de absorción atómica
• ASTM E1613-12 Método de prueba estándar para la determinación de plomo mediante técnicas de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES), espectrometría de absorción atómica de llama (FAAS) o espectrometría de absorción atómica en horno de grafito (GFAAS)
• ASTM E2414-05 Método de prueba estándar para el método cuantitativo esporicida de tres pasos (TSM) para determinar la eficacia esporicida de líquidos, aerosoles líquidos y vapores o gases en superficies portadoras contaminadas
• ASTM E3011-15 Método de prueba estándar para la producción in vitro de esporas de Clostridium difficile
• ASTM UOP549-09 Sodio en destilados de petróleo por ICP-OES o AAS
• ASTM E1479-16 Práctica estándar para describir y especificar espectrómetros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• ASTM D6301-21 Práctica estándar para la recolección de muestras compuestas en línea de sólidos suspendidos y sólidos iónicos en agua de proceso
• ASTM D7889-21 Método de prueba estándar para la determinación en campo de las propiedades de los fluidos en servicio mediante espectroscopia IR
• ASTM D788-16 Sistema de clasificación estándar para compuestos de extrusión y moldeo de poli(metacrilato de metilo) (PMMA)

Group Standards of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• T/ZZB 1372-2019 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino de un solo lado y doble vidrio
• T/QGCML 1126-2023 Dispositivo de limpieza de plasma con cámara de muestra dual continua
• T/QGCML 1407-2023 Dispositivo de sellado de doble funda para fabricación de semiconductores fotovoltaicos.
• T/CPIA 0007-2019 Identificación y finalización del diseño de módulos fotovoltaicos de silicio cristalino de doble vidrio para uso terrestre.
• T/CAIA SH004-2015 Arroz-Determinación de cadmio-Muestreo de sólidos espectrometría de fluorescencia atómica de vaporización electrotérmica
• T/CSTM 00014-2019 Hierro y acero-Determinación del contenido de silicio- Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• T/CMES 08007-2020 Determinación del contenido de manganeso, hierro y fósforo mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• T/CMES 08002-2020 Determinación de elementos de impureza de ferroniobio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• T/CVMA 115-2023 Método de PCR dúplex en tiempo real para la detección de Chlamydia Felis y Bordetella Bronchiseptica
• T/GDNB 130-2022 Determinación de arsénico y mercurio en el suelo mediante espectrometría de fluorescencia atómica y digestión con grafito microabierto.
• T/NXCL 024-2023 Método para el análisis químico del berilio. Determinación del contenido de óxido de berilio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• T/CMES 08008-2020 Determinación de molibdeno, hierro, fósforo, cobre, silicio, estaño y antimonio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• T/CIS 11001-2020 Detección en línea de la uniformidad de la mezcla de polvos en el proceso de producción de la medicina tradicional china mediante espectroscopia de infrarrojo cercano

CU-NC, cuerpo de dos fotones

• NC 66-29-1984 Electrónica. Métodos de medición de transistores bipolares
• NC 66-27-1984
• NC 66-28-1984 Electrónica. Transistores bipolares de alta frecuencia. Tipo BF 199. Especificaciones de calidad
• NC 66-25-1987 Industria Electrónica y Electrotécnica. Transistores bipolares de alta frecuencia. Especificaciones de calidad
• NC 66-26-1984 Electrónica. Transistor de conmutación bipolar de alta potencia, tipo BU 208. Especificaciones de calidad
• NC 66-23-1984 Electrónica. Transistores bipolares de alta potencia y baja frecuencia, tipo 2N 3055. Especificaciones de calidad
• NC 66-17-1987 Industria Electrotécnica y Electrónica. Transistores Bipolares de Alta Tensión y Media Potencia. Especificaciones de calidad
• NC 66-15-1987 Vocabulario electrónico y electrotécnico. Transistores Bioolares de Baja Frecuencia y Potencia. Especificaciones de calidad
• NC 66-14-1987 Industria Electrónica y Electrotécnica. Transistores bipolares encapsulados en plástico. Especificaciones generales de calidad
• NC 66-16-1987 Transistores bipolares de potencia y bajo ruido para la industria electrónica y electrotécnica. Especificaciones de calidad

National Aeronautics and Space Administration (NASA), cuerpo de dos fotones

• NASA NACA-TR-959-1959 Flujos unidimensionales de un gas diatómico imperfecto.

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., cuerpo de dos fotones

• ASHRAE AT-96-10-2-1996 Aplicación de métodos de dos capas para la evaluación de los efectos del viento en un edificio cúbico

Professional Standard - Railway, cuerpo de dos fotones

• TB/T 2219-2005 Balastos electrónicos suministrados por CC para vagones de pasajeros de ferrocarril

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), cuerpo de dos fotones

• JIS G 1258:1999 Hierro y acero: métodos de espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente
• JIS G 1258:1989 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión de plasma acoplado inductivamente de acero.
• JIS B 9925:1997 Contador automático de partículas por dispersión de luz para líquidos.
• JIS M 8206:2014 Minerales de hierro: método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• JIS G 1258 AMD 1:2000 Hierro y acero - Métodos de espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente (Enmienda 1)
• JIS G 1258 AMD 2:2005 Hierro y acero - Métodos de espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente (Enmienda 2)
• JIS B 9935:2001 Potencia de fluidos hidráulicos -- Sistemas automáticos de conteo de partículas en línea para líquidos -- Métodos de calibración y validación

U.S. Military Regulations and Norms, cuerpo de dos fotones

• ARMY MIL-T-48604 NOTICE 1-1997 TUBO, LÁSER, PLASMA, HELIO NEÓN: 11746797
• ARMY MIL-T-48604 (3)-1990 TUBO, LÁSER, PLASMA, HELIO NEÓN: 11746797
• ARMY MIL-T-48604-1977 TUBO, LÁSER, PLASMA, HELIO NEÓN: 11746797
• ARMY MIL-S-55257 C VALID NOTICE 2-2013 Tienda, Electrónica, Montaje en refugio AN/ASM-146( ) y AN/ASM-147( )

YU-JUS, cuerpo de dos fotones

• JUS N.R9.071-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema de dos portacristales, tipo 18
• JUS N.R9.070-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Soporte de cristal de dos clavijas, tipo 09
• JUS N.R9.073-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos hilos, tipo 17
• JUS N.R9.069-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Contorno de dos portacristales piri, tipo 07
• JUS N.R9.064-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema del soporte de cristal de dos hilos. Tipos 11, 14 y 15
• JUS N.R9.074-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Esquema de soporte de cristal de dos hilos, tipo 19
• JUS N.R9.072-1986 Vibradores piezoe/eléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema de soporte de cristal de dos wfre, tipo 16
• JUS N.R9.077-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema portacristales de dos hilos, tipo 20
• JUS N.R9.076-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Outllne más caliente de cristal de dos pines, tipo 08
• JUS N.R9.075-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos clavijas, tipo 10
• JUS N.R9.078-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de alambre de Turo, tipo 21

Danish Standards Foundation, cuerpo de dos fotones

• DS/EN 914:2009
• DS/IEC/TR 62780:2012 Sistemas y equipos multimedia - Publicación electrónica multimedia y libros electrónicos - Directrices para la protección contra tensiones mecánicas durante la distribución de libros electrónicos en CD y DVD
• DS/ISO 28057:2021 Dosimetría clínica – Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia
• DS/IEC 747-12:1993 Dispositivos semiconductores. Parte 12: Especificaciones seccionales para dispositivos optoelectrónicos
• DS/IEC 60874-19-1/Corr.1:2004 Conectores para fibras y cables ópticos - Parte 19-1: Conector de latiguillo de fibra óptica tipo SC-PC (dúplex flotante) estándar terminado en fibra multimodo tipo A1a, A1b - Especificación detallada
• DS/IEC 60874-19-1:2003 Conectores para fibras y cables ópticos - Parte 19-1: Conector de latiguillo de fibra óptica tipo SC-PC (dúplex flotante) estándar terminado en fibra multimodo tipo A1a, A1b - Especificación detallada
• DS/EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica – Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2019)
• DS/EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• DS/IEC 747-5:1986 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5: Servicios optoelectrónicos
• DS/EN 15605:2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• DS/EN 62664-1-1:2013 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Especificaciones del producto de conector de fibra óptica. Parte 1-1: Conectores multimodo dúplex LC-PC terminados en fibra IEC 60793-2-10 categoría A1a.

Lithuanian Standards Office , cuerpo de dos fotones

• LST EN 914-2009 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• LST EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2019)
• LST EN 14242-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• LST EN 15605-2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente

CH-SNV, cuerpo de dos fotones

• SN EN 914-2020 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• SN EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2019)

CEN - European Committee for Standardization, cuerpo de dos fotones

• PREN 914-2019 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• EN ISO 28057:2018 Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia.

AENOR, cuerpo de dos fotones

• UNE-EN 914:2009 Equipos de gimnasia - Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas - Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• UNE 208001-30:2002 Método de ensayo sobre emisiones electromagnéticas procedentes de balastros electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.
• UNE 38863:2012 Titanio y aleaciones de titanio. Determinación de hierro. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• UNE-EN 15605:2011 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, cuerpo de dos fotones

• GB/T 36244-2018 Espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GB 12565-1990 Especificación seccional para dispositivos semiconductores y dispositivos optoelectrónicos
• GB 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos Láseres semiconductores
• GB/T 15555.1-1995 Residuos sólidos--Determinación de mercurio total--Espectrometría de absorción atómica en frío
• GB/T 7731.3-2008 Ferrotungsteno. Determinación del contenido de cobre. Método fotométrico de bis (ciclohexanona) oxalildihidrazona y método espectrométrico de absorción atómica de llama
• GB/T 15555.2-1995 Residuos sólidos--Determinación de cobre, zinc, plomo, cadmio--Espectrometría de absorción atómica
• GB/T 15651.6-2023 Dispositivos semiconductores Parte 5-6: Dispositivos optoelectrónicos Diodos emisores de luz
• GB/T 31232.2-2014 Sistema de indicadores estadísticos de comercio electrónico. Parte 2: Marketing online
• GB/T 22148-2008 Método de ensayo sobre emisiones electromagnéticas procedentes de balastros electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.
• GB/T 23942-2009 Reactivo químico. Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• GB/T 7731.6-2008 Ferrotungsteno. Determinación del contenido de arsénico. Método de fotometría de azul de molibdeno y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• GB/T 36359-2018 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de menor potencia
• GB/T 36360-2018 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de potencia media
• GB/T 7731.9-2008 Ferrotungsteno. Determinación del contenido de bismuto. Método fotonmétrico de yoduro de bismuto y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• GB/T 23545-2009 Determinación de manganeso en vino blanco. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GB/Z 20649-2006 Imagen electrónica-Recomendaciones para el manejo de sistemas de grabación electrónica para el registro de documentos que puedan ser requeridos como evidencia, en disco óptico WORM
• GB/T 7731.8-2008 Ferrotungsteno. Determinación del contenido de antimonio. Método de fotometría de tetraetilrodamina y espectrometría de misión atómica de plasma de acoplamiento inductivo.
• GB/T 15555.9-1995 Residuos sólidos--Determinación de níquel--Espectrometría de absorción atómica de llama
• GB/T 4324.15-2008 Métodos para el análisis químico del tungsteno. Determinación del contenido de magnesio. Espectrometría de absorción atómica de llama y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• GB/T 10725-1989 Reactivo químico: reglas generales para la espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado industrialmente
• GB/T 15555.6-1995 Residuos sólidos--Determinación de cromo total--Espectrometría de absorción atómica de llama
• GB/T 12565-1990 Dispositivos semiconductores. Especificación seccional para dispositivos optoelectrónicos.
• GB/T 4325.11-2013 Métodos para el análisis químico del molibdeno.Parte 11:Determinación del contenido de aluminio.Espectrofotometría de cromazurol S y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GB/T 4325.18-2013 Métodos para el análisis químico del molibdeno.Parte 18:Determinación del contenido de vanadio.Espectrofotometría de N-benzoil-N-fenilhidroxilamina y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GB/T 4324.9-2012 Métodos para el análisis químico de tungsteno. Parte 9: Determinación del contenido de cadmio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente y espectrometría de absorción atómica de llama.
• GB/T 32179-2015 Análisis químico de refractarios. Requisitos generales para el análisis químico húmedo, los métodos de espectrometría de absorción atómica (AAS) y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES).
• GB/T 6150.7-2008 Métodos para el análisis químico de concentrados de tungsteno. Determinación del contenido de tantalio y de niobio. Espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente y espectrofotometría.
• GB/T 6730.84-2023 Determinación del total de tierras raras en mineral de hierro mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

PL-PKN, cuerpo de dos fotones

• PN-EN 914-2020-11 E Equipos de gimnasia -- Barras paralelas y barras combinadas asimétricas/paralelas -- Requisitos y métodos de prueba, incluida la seguridad
• PN-EN ISO 28057-2021-07 E Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2019)

Society of Automotive Engineers (SAE), cuerpo de dos fotones

• SAE AMS3045A-1977 PARTÍCULAS MAGNÉTICAS, FLUORESCENTES Método húmedo, Vehículo petrolero
• SAE AMS3045-1974 PARTÍCULAS MAGNÉTICAS, FLUORESCENTES Método húmedo, Vehículo petrolero
• SAE USCAR27-2007
• SAE USCAR27-1-2022 ESPECIFICACIÓN PARA PRUEBAS DEL SUBSISTEMA DE FUENTE DE LUZ DE DESCARGA DE GAS

International Electrotechnical Commission (IEC), cuerpo de dos fotones

• IEC 60747-5-4:2022 Dispositivos semiconductores. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.
• CISPR 30-2001 Método de prueba sobre emisiones electromagnéticas de balastros electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.
• IEC 60747-5-6:2021 RLV Dispositivos semiconductores. Parte 5-6: Dispositivos optoelectrónicos. Diodos emisores de luz.
• IEC 60747-5-5:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores
• IEC TR 60825-8:2022 Seguridad de los productos láser - Parte 8: Directrices para el uso seguro de rayos láser en humanos
• IEC 61988-2-1:2012 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición - Ópticos y optoeléctricos
• IEC 62321-5:2013 Determinación de determinadas sustancias en productos electrotécnicos - Parte 5: Determinación de cadmio, plomo y cromo en polímeros y electrónica y cadmio y plomo en metales mediante AAS, AFS, ICP-OES e ICP-MS
• IEC TR 62780:2012 Sistemas y equipos multimedia - Publicación electrónica y libros electrónicos multimedia - Directrices para la protección contra tensiones mecánicas durante la distribución de libros electrónicos en CD y DVD
• IEC 60747-5-5:2007 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores
• IEC 63029:2017/COR1:2018 Sistemas y equipos multimedia de audio y vídeo - Tecnologías de publicación electrónica y libros electrónicos multimedia - Libros electrónicos basados en imágenes con gráficos rasterizados; Corrección 1
• IEC 63029:2017 Sistemas y equipos multimedia de audio y vídeo - Tecnologías de publicación electrónica y libros electrónicos multimedia - Libros electrónicos basados en imágenes con gráficos rasterizados
• IEC 60747-5-8:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 5-8: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz
• IEC 61988-2-1:2002 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición, ópticos
• IEC 61988-2-2:2003 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-2: Métodos de medición; Optoeléctrico
• CISPR TR 30-1:2012 Método de ensayo sobre emisiones electromagnéticas. Parte 1: Equipos de control electrónico para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.

Aerospace Industries Association, cuerpo de dos fotones

• AIA NAS 4124-1996 Disipador De Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, Doble Enlace
• AIA NAS 4123-1995 Disipador de Calor, Componente Eléctrico-Electrónico, Dispositivos Semiconductores, para Paquetes en Línea Dual (DIP)

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., cuerpo de dos fotones

• NAS4124-1996 Disipador de calor@ Componentes eléctricos y electrónicos@ Dispositivos semiconductores@ Enlace dual
• NAS4124-2012 DISIPADOR DE CALOR@ COMPONENTES ELÉCTRICOS/ELECTRÓNICOS@ DISPOSITIVOS SEMICONDUCTOR@S ENLACE DUAL (Rev 1)
• NAS4123-1995 Disipador de calor@ Componente eléctrico-electrónico@ Dispositivos semiconductores@ para paquetes duales en línea (DIP)

Professional Standard - Education, cuerpo de dos fotones

• JY/T 015-1996 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• JY/T 0567-2020 Reglas generales para la espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Agriculture, cuerpo de dos fotones

• 72药典 四部-2015 0411 Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• 52药典 四部-2020 0411 Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• JJG(教委) 015-1996 Reglamento de verificación para espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• 776兽药典 二部-2015 Contenido del Apéndice 0400 Espectroscopia 0412 Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• 780兽药典 一部-2015 Contenido del Apéndice 0400 Espectroscopia 0411 Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• 1808药典 一部-2010 Apéndice XI E Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GB 10725-1989 Reglas generales para la espectrometría de emisión atómica de plasma de alta frecuencia acoplado inductivamente con reactivos químicos

United States Navy, cuerpo de dos fotones

• NAVY MIL-T-82355-1966 ENTRENADOR, KIT DE AVIÓNICA BÁSICA NAR

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, cuerpo de dos fotones

• AERO S.00.01.10 A-1971 Flujo isentrópico unidimensional de un gas diatómico térmicamente perfecto@calóricamente imperfecto.
• AERO 00.01.09 A-1975 Un modelo simple de un gas diatómico térmicamente perfecto@ calóricamente imperfecto. Comparación con gases reales.

Professional Standard - Post and Telecommunication, cuerpo de dos fotones

• YD/T 1526.1-2006 Especificaciones técnicas del Transceptor Óptico Triplexor Bidireccional monofibra para red de acceso. Parte 1: Transceptor óptico triplexer bidireccional de fibra única para BPON ONU
• YD/T 1526.3-2009 Especificaciones técnicas del transceptor óptico triplexer bidireccional de una sola fibra para red de acceso. Parte 3: transceptor óptico triplexer bidireccional de una sola fibra para GPON ONU
• YD/T 1526.2-2007 Especificaciones técnicas del transceptor óptico triplexor bidireccional de fibra única para red de acceso Parte 2: Transceptor óptico triplexor bidireccional de fibra única para EPON ONU
• YD/T 2001.2-2011 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: métodos de medición.

SAE - SAE International, cuerpo de dos fotones

• SAE AIR5601-2005 Una guía para la aplicación de fotónica de RF a plataformas aeroespaciales
• SAE AS21432-2002 Rodamiento@ Rodillo@ Aguja@ Rodillo de guía@ Perno integral@ Tipo VII@ Antifricción@ Pulgada

Professional Standard - Non-ferrous Metal, cuerpo de dos fotones

• YS/T 953.7-2014 Métodos para el análisis químico de material de sustrato de níquel fundido al fuego. Parte 7: Determinación del contenido de cobre. Método espectrofotométrico BCO y método espectrométrico de absorción atómica de llama.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• JJG(教委) 07-1992 Reglamento de verificación de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• JJG(地质) 1015-1990 Normas de verificación para espectrómetro de lectura directa de plasma acoplado inductivamente

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, cuerpo de dos fotones

• JEDEC JESD89A-2006 Medición e informes de errores leves inducidos por partículas alfa y rayos cósmicos terrestres en dispositivos semiconductores

ES-AENOR, cuerpo de dos fotones

• UNE 34-111-1981 Productos derivados de frutas yverdurasDETERMINACIΟN DEL CONTENIDO EN ZINCMétodo Fotométrico por Ditizona
• UNE 35-054 Pt.1-1985 Ferroniobio DETERMINACIΟN DEL CONTENIDO DE NIOBIOMétodo espectrofotométrico después de separaciónsobre resinas intercambiadoras de iones

IPC - Association Connecting Electronics Industries, cuerpo de dos fotones

• IPC 8413-1 CD-2003 Especificación para portadores de proceso utilizados para manipular fibras ópticas en la fabricación

ES-UNE, cuerpo de dos fotones

• UNE-EN 62703:2013 Expresión de rendimiento de analizadores fluorométricos de oxígeno en medio líquido (Ratificada por AENOR en octubre de 2013.)
• UNE-EN 63029:2017 Sistemas y equipos de audio, vídeo y multimedia - Tecnologías de publicación electrónica y libros electrónicos multimedia - Libros electrónicos basados en imágenes rasterizadas (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2017.)
• UNE-EN 63029:2017/AC:2018-02 Sistemas y equipos de audio, vídeo y multimedia - Tecnologías de publicación electrónica y libros electrónicos multimedia - Libros electrónicos basados en imágenes rasterizadas (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2018.)

RU-GOST R, cuerpo de dos fotones

• GOST R 59605-2021 Óptica y fotónica. Detectores fotoeléctricos semiconductores. Dispositivos fotoeléctricos y fotorreceptores. Términos y definiciones
• GOST R 57902-2017 Módulos fotovoltaicos. Pruebas de degradación potencial inducida. Parte 1. Módulos fotovoltaicos de silicio cristalino
• GOST 27299-1987 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Términos, definiciones y símbolos de letras de parámetros.
• GOST R IEC 61988-2-1-2015 Paneles de visualización de plasma. Parte 2-1. Métodos de medición. Óptica y optoeléctrica
• GOST R 52371-2005 Babbits de estaño y plomo. Método de espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GOST 22731-1977 Sistemas de transmisión de datos. Procedimientos de control del modo básico para sistemas de comunicación de datos que utilizan el modo semidúplex de intercambio de información.
• GOST R ISO 22033-2014 Aleaciones de níquel. Determinación de niobio. Método espectrométrico de emisión atómica/plasma acoplado inductivamente
• GOST R ISO 22725-2014 Aleaciones de níquel. Determinación del tantalio. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• GOST R 59607-2021 Óptica y fotónica. Detectores fotoeléctricos semiconductores. Dispositivos fotoeléctricos y fotorreceptores. Métodos de medición de parámetros fotoeléctricos y determinación de características.
• GOST R 54237-2010 Combustibles minerales sólidos. Determinación de la composición química de las cenizas mediante el método de espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente.
• GOST R 54237-2010(2019) Combustibles minerales sólidos. Determinación de la composición química de las cenizas mediante el método de espectrometría de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente.
• GOST 16208-1984 Fuentes de radiación óptica de descarga de gas de alta intensidad. Especificaciones generales
• GOST R 59422.2-2021 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Elementos ópticos estándar. Parte 2. Elementos ópticos estándar para equipos láser que operan en el rango espectral infrarrojo. Requisitos técnicos generales
• GOST R 59740-2021 Óptica y fotónica. Láseres semiconductores para la determinación de bajas concentraciones de sustancias. Métodos para medir características.

Professional Standard - Aviation, cuerpo de dos fotones

• HB 5422.28-1989 Método para el análisis químico de aleaciones de cobre Precipitación portadora-absorciometría de ditizona para la determinación del contenido de plomo

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, cuerpo de dos fotones

• GB/T 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos. Láseres semiconductores.
• GB/T 33422-2016 Elastómero termoplástico. Determinación del contenido de metales pesados. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• GB/T 36081-2018 Nanotecnología: caracterización del nanocristal de punto cuántico de CdSe: espectroscopia de fluorescencia
• GB/T 22586-2018 Mediciones características electrónicas: resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
• GB/T 34333-2017 Productos refractarios: determinación mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
• GB/T 34208-2017 Hierro y acero. Determinación del contenido de antimonio y estaño. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• DB44/T 1934-2016 Reglas generales para la espectroscopia de emisión de plasma por microondas
• DB44/T 1935-2016 Determinación de oligoelementos en el cabello mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

European Committee for Standardization (CEN), cuerpo de dos fotones

• EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia (ISO 28057:2019)
• DD ENV 14226-2002 Cerámica técnica avanzada - Métodos de ensayo para polvos cerámicos - Determinación de calcio, magnesio, hierro y aluminio en nitruro de silicio mediante espectroscopia de absorción atómica de llama (FAAS) o espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (IC
• EN 15605:2010 Cobre y aleaciones de cobre: espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
• EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Building Materials, cuerpo de dos fotones

• JC/T 2133-2012 Determinación de impurezas en sol de sílice para solución de pulido en la industria de semiconductores. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Environmental Protection, cuerpo de dos fotones

• HJ 767-2015 Determinación de bario en residuos sólidos: espectrofotometría de absorción atómica en horno de grafito
• HJ 749-2015 Residuos Sólidos-Determinación de cromo total-Espectrometría de absorción atómica de llama
• HJ 750-2015 Determinación de cromo total en residuos sólidos: espectrofotometría de absorción atómica en horno de grafito
• HJ 751-2015 Residuos sólidos: determinación de níquel y cobre: espectrometría de absorción atómica de llama
• HJ 787-2016 Residuos sólidos-Determinación de plomo y cadmio - Espectrometría de absorción atómica en horno de grafito
• HJ 786-2016 Residuos sólidos: determinación de plomo, zinc y cadmio: espectrometría de absorción atómica de llama
• HJ 687-2014 Residuos sólidos. Determinación de Cromo Hexavalente. Espectrofotomético de digestión alcalina/absorción atómica con llama.
• HJ 752-2015 Residuos sólidos: determinación de berilio, níquel, molibdeno y cobre: espectrometría de absorción atómica en horno de grafito

海关总署, cuerpo de dos fotones

• SN/T 5287-2021 Determinación de bisfenol A en textiles importados y exportados mediante el método de resonancia de plasmón superficial
• SN/T 5304-2021 Determinación de azufre y fósforo totales en carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

工业和信息化部, cuerpo de dos fotones

• YS/T 1208.2-2017 Métodos para el análisis químico del dicloruro de bis(acetonitrilo)paladio Parte 2: Determinación de cantidades de plomo, níquel, cobre, cadmio, cromo, hierro, platino, oro y rodio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• YS/T 3015.7-2017 Métodos para el análisis químico de carbono cargado de oro Parte 7: Determinación del contenido de arsénico Espectrometría de fluorescencia atómica y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• YS/T 3015.6-2017 Métodos para el análisis químico de carbono cargado de oro Parte 6: Determinación del contenido de mercurio Espectrometría de fluorescencia atómica y espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• YB/T 4936-2021 Determinación del contenido de ferromanganeso, aleación de manganeso-silicio y manganeso-cobre metálico mediante espectrofotometría de diciclohexanona oxalil dihidrazona y espectrometría de absorción atómica de llama.
• YS/T 1316.2-2019 Métodos para el análisis químico del cloruro de 1,2-bisdifenilfosfina etano-paladio Parte 2: Determinación del contenido de cobre, plomo, níquel, cadmio, hierro, oro y aluminio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• YS/T 1200.2-2017 Métodos para el análisis químico del dicloruro de paladio y ferroceno de 1,1'-bisdifenilfosfina. Parte 2: Determinación de cantidades de plomo, níquel, cobre, cadmio, cromo, platino, oro, rodio e iridio mediante espectros de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• SJ/T 11698-2018 Método de análisis químico de soldadura sin plomo Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, cuerpo de dos fotones

• GB/T 36358-2018 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de potencia.

Professional Standard - Nuclear Industry, cuerpo de dos fotones

• EJ/T 1149-2001 Determinación de trazas de bismuto y mercurio en minerales de uranita mediante hidruro y un instrumento de fluorescencia atómica de doble canal.

Professional Standard - Commodity Inspection, cuerpo de dos fotones

• SN/T 3033-2011 Análisis de producto de nido de pájaro comestible mediante métodos de biología molecular. PCR en tiempo real y 2DGE
• SN/T 2718-2010 Determinación de la composición química en acero inoxidable: método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• SN/T 1600-2005 Determinación de oligoelementos en el carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• SN/T 2698-2010 Análisis elemental de impurezas en productos de tungsteno. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
• SN/T 1599-2005 Determinación de los componentes principales de las cenizas de carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• SN/T 2953-2011 Determinación de silicio, manganeso, fósforo y cromo en arrabio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• DB15/T 1544-2018 Especificación técnica para la integración de plantadoras y sembradoras en mijo alimentado en seco totalmente cubierto con film y dobles crestas

IT-UNI, cuerpo de dos fotones

• UNI EN ISO 28057:2021 Dosimetría clínica - Dosimetría con detectores sólidos de termoluminiscencia para radiaciones de fotones y electrones en radioterapia

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• DB37/T 3040-2017 Determinación de cromo en la alimentación mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• DB37/T 3042-2017 Determinación de molibdeno en piensos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• DB37/T 1092-2008 Determinación de cromo en alimentos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• DB37/T 3041-2017 Determinación de fósforo y azufre en piensos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• DB37/T 2060-2012 Determinación de cromo en fertilizantes mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
• DB37/T 2059-2012 Determinación de plomo y cadmio en fertilizantes Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• DB51/T 1046-2010 Determinación de aluminio en alimentos mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• DB51/T 1031-2010 Método de determinación de tierras raras en el té: espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

ZA-SANS, cuerpo de dos fotones

• ARP 075-2006 Imagen electrónica - Recomendaciones para el manejo de sistemas de grabación electrónica para el registro de documentos que puedan ser requeridos como evidencia, en disco óptico WORM
• SANS 11885:1996 Calidad del agua - Determinación de 33 elementos mediante espectroscopía de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• SANS 23868:2008 Gestión documental - Seguimiento y verificación de la información almacenada en soporte óptico de 130 mm

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• CNS 5751-1980 Método de prueba de densidad aparente de cerámicas para dispositivos electrónicos y aplicaciones de semiconductores
• CNS 14858-2004 Método de prueba sobre emisiones electromagnéticas de balastros electrónicos para lámparas fluorescentes de casquillo simple y doble.

CZ-CSN, cuerpo de dos fotones

• CSN ISO 3856-1:1993 Pinturas y barnices. Determinación del contenido de metales "solubles". Parte 1: Determinación del contenido de plomo - Método espectrométrico de absorción atómica de llama y método espectrométrico de ditizona

ECIA - Electronic Components Industry Association, cuerpo de dos fotones

• EIA-540DAAB-1991 Especificación detallada Conector hembra en línea doble de 2 piezas con soporte flexible para uso en equipos electrónicos

Malaysia Standards, cuerpo de dos fotones

• MS 133 Pt.B5-1997 Métodos de prueba para pinturas y barnices: Parte B5: Determinación del contenido de plomo "soluble" mediante el método espectrométrico de absorción atómica de llama y el método espectrofotométrico de ditizona

Professional Standard - Energy, cuerpo de dos fotones

• NB/T 11245-2023 Determinación de oligoelementos en combustibles de biomasa sólida mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• DB53/T 897-2018 Determinación del contenido de germanio en carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• DB53/T 421-2012 Determinación de boro en silicio industrial mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Ningxia Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

• DB64/T 1031-2014 Especificación técnica para la integración de agua y fertilizante para el cultivo de arena de berenjena en invernadero solar.

Professional Standard - Petrochemical Industry, cuerpo de dos fotones

• SH/T 0706-2001 Productos derivados del petróleo-Determinación de aluminio y silicio en fuelóleos-Métodos de espectroscopía de emisión de plasma acoplado inductivamente y de absorción atómica

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, cuerpo de dos fotones

• QC 750103/ CN 0001-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares con carcasa nominal para amplificación de baja frecuencia tipo 3DD870
• QC 750102/ SU 0001-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares con clasificación ambiental plano epitaxia de alta frecuencia tipo KT3II7A
• QC 750104/ CN 0001-1989 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares para aplicaciones de conmutación del tipo 3DK 106 Nivel de evaluación II

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RO-ASRO, cuerpo de dos fotones

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Defense Logistics Agency, cuerpo de dos fotones

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Standard Association of Australia （SAA）, cuerpo de dos fotones

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Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, cuerpo de dos fotones

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